ПРИСТАВКА К РЕНТГЕНОВСКОМУ ДИФРАКТОМЕТРУ Советский патент 1973 года по МПК G01N23/20 

I

Предлагаемая приставка относится к лабораторному оборудованию для физических исследований структур материалов.

Известны устройства для рентгеноструктурных исследований образцов материалов в процессе их деформирования в газообразной среде при высоких температурах, содержащие камеру для размещения исследуемого образца, винтовой механизм нагружения с контро/iCM де(|)ормац11и и усилия.

Известны также приставки к днфрактометрам, в которых деформируюидее усилие создается грузом и передается на образец гибкой связью. Однако эти устройства не позволяют вращать образец в вертикальной илоскости, проходящей через ось дифрактометра, что необходимо при изучении рентгендифракционным способом деформаций кристаллической решетки в направлениях, не совиадающих с направлением деформирующего усилия. Кроме того, приставки не позволяют проводить измерения при низких температурах.

В известных приставках центр тяжести груза не совпадает с осью гониометра, что ири больщих нагрузках приводит к возникновению момента сил, действующих на измерительную часть гониометра. Это снижает точность измерений и, следовательно, возможное усилие деформации, прикладываемое к образцу.

Целью изобретения является обеспечение в процессе опыта поворота образца в плоскости, проходящей через вертикальную ось приставки, ири сохранении деформирующего усиЛИЯ и температуры на образце.

Эта цель достигается тем, что держатель образца перемещается по дуговой направляющей, центр которой совпадает с центром образца II осью рентгеновского гониометра;

теплоизолирующая камера имеет поворотную часть с подвижным уилотнением, например лабиринтным, которая вместе с держателем образца иоворачивается в вертикальной плоскости без парущеипя теилоизоляции камеры,

причем деформирующее усилие, создаваемое весом груза, передается образцу от механизма нагружения гибкой связью. При такой конструкции теилоизолирующей камеры не нарущается теплоизоляция образца при его повороте.

Совмещение центра тяжести груза с вертикальной осью приставки п применение рычажно-блочкого механпзма снижает нагрузку на механическую часть измерительной схемы гониометра и, таким образом, уменьшает погрешность измереиий.

На фиг. 1 показана предложенная приставка, вид сбоку; на фиг. 2 - разрез по А-А. Приставка содержит станину, включающую

в себя подвижно соединенные между собой

основание 1 и направляющую 2, держатель образца, состоящий из рамки 5, блока 4, подвижной 5 и неподвижной 6 губок для закрепления образца; рычажно-блочный механизм нагружения 7 и груз 8, задающий усилие деформаций; термоизолирующую камеру, состоящую из двух неподвижных щек Я 0 с бериллиевыми окнами для входа и выхода рентгеновских лучей и поворотной части 11, закрепленной на рамке 3. Механизм нагружения 7 смонтирован на направляющей 2 и соединен с подвижной губкой 5 гибким тросом 12, переброщенным через блок 4.

Приставка основанием 1 центрируется и крепится на столе дифрактометра; образец зажимается в губках 5, 6; на основании 1 устанавливаются неподвижные щеки 9, 10. К механизму нагружения подвещивается груз требуемого веса; в камеру подается нагретый или охлажденный газ (например, азот) для создания температуры образца в интервале от -150 до +200°С, которая контролируется термопарой (на чертеже не показана) и регулируется расходом и температурой газа.

По достижении теплового равновесия сиимаются дифрактограммы образца, причем приставка позволяет осуществлять съемки как «на отражение, так и на «просвет.

Изменением нагрузки и температуры на образце исследуется изменение кристаллографических параметров в зависимости от этих факторов. Поворотом держателя вместе с поворотной частью камеры в вертикальной плоскости измеряется изменение кристаллографических параметров в направлениях, расположенных иод утлом к деформирующему усилию.

Описываемая приставка позволяет в процессе опыта поворачивать образец на угол до

ЭО в плоскости, проходящей через вертикальную ось приставки (в собственной плоскости образца) при неизменной заданной деформирующей нагрузке и без раскрытия камеры. Последним обеспечивается постоянство температурного режима образца в диаиазоне -150- - +200°С.

Кроме того, механизм нагружения позволяет изменять деформирующее усилие и обеспечивает его постоянство при изменении температурного режима и деформации образца.

Возможность независимого изменения деформирующего усилия, температуры и угла поворота образца в собственной плоскости во время опыта расщиряет экспериментальные возможности дифрактометров и значительно экономит время измерений.

Предмет изобретения

1.Приставка к рентгеновскому дифрактометру для исследования образцов материалов, например текстурированных, в процессе механической деформации в газовой среде в щироком диапазоне температур, содержащая станину, термоизолирующую камеру, держатель образца и механизм деформации с грузом, задающим усилие, отличающаяся тем, что, с целью повышения экспрессности съемки, термоизолирующая камера снабжена несущей держатель образца поворотной частью с подвижным уплотнением, например лабиринтным, а механизм деформации посредством гибкой связи соединен с образцом.

2.Приставка ио п. 1, отличающаяся тем, что, с целью повыщения точности измерений, центр тяжести груза механизма деформации совмещен с вертикальной осью приставки.