СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ШЛИФОВ ДЛЯ МИКРОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА СТЕКЛОПЛАСТИКОВ Советский патент 1973 года по МПК G01N1/32 

1

Изобретение относится к изучению микроструктуры стеклопластиков и может найти применение на предприятиях, занятых производством изделий из стеклопластиков и в иаучно-исследовательских организациях, занимающихся созданием стеклопластиков и изучением их физико-механических характеристик.

Известен способ получения шлифов для микроструктурного анализа стеклопластиков, заключающий-ся в том, что исследуемый образец вначале шлифуют грубой шлифовальной бумагой, затем более тонкой, после чего полируют хромовыми паста ми (например, пастой ГОИ), окисями железа, магния или алюминия, на войлоке, сукне или бархате. В процессе обработки шлифы периодически подвергают химическому или тепловому травлению. Однако при изучении шлифов полиэфирных стеклопластиков, особенно светопрозрачных, отдельные составляющие композиции (волокна и смола, поры и инертный наполнитель) не имеют четких границ, так как эти составляющие не различаются по окраске. Применяемые в таком случае химические и тепловые методы травления (обработка шлифованной поверхности ацетоном или азотной кислотой, обработка поверхносгч нагревом) не изменяют характера отражающей способности составляющих стеклопластп2

ка и, следовательно, не ул чшают качество наблюдаемого изображения. Выявленные при этом контуры структурных составляющих не являются достаточно контрастными, и наблюдение структуры отнимает .пюго времени. Характерным при травлении щл1:фов (теплового и химического) является также и то. что нарушается монолитность структуры связующего, появляются дополнительные трещины, которые искажлЕот действительную структуру связующего, полученную в результате его полИМеризации и связанной с этим термической и химической усадкой. Стеклонластик же, который подвергался воздействию внешних нагрузок, имеет внутри разрушенные волокна, поэтому при шлифовании образца отдельные осколкн стекловолок 1а и связ ющее, заключенное между ними, выкрашиваются, что приводит к получению некачественного шлифа, искаженную картину поведепия стекловолокна внутри композиции под воздействием нагрузки.

Цель изобретения - создание такого способа получения шлнфов для микроструктурного анализа стеклопластика, при котором достигается получение качестбенного, контрастного, неискаженного йзббражения структурных составляющих стеклопластика и сокращается время, необходимое для Н1аблюдения структурь стёклопТта сТйк аТ Его высуши

вают и погружают в цапон-лак на 10-15 сек. Полировку производят окисью хрома или крокусом, налесениьш с водой на поверхность диска, обтянутого сукном или фетром при скорости вращения диска порядка 1000 обIмин во влажном состоянии. Заканчивают полировку получением ровной зеркальной поверхности.

Предмет изобретения

Способ получения шлифов для микроструктуряого анализа стеклопластиков, заключающийся в механической обработке образца стеклопластика абразивным инструменто.м с последующей полировкой, травлением и окраской, отличающийся тем, что, с целью получения контрастного, неискаженного изображения структурных составляющих стеклопластика, образец До механической обработки н в процессе ее периодически погружают на 10- 15 сек в раствор цапон-лака в ацетоне с коицентрацией от 1 до 20%.