Изобретение отно1сится К техно.югии производства ко-мпонентов радиоапнарагуры, в частности интегральных ми-кросхем.
Известен Способ выполнения Знаков совмещения на поЛупроводникавой пластине, например кремниевой, включаюпд.ий предварительное полирование и 01кисление поверхности пластины, а затем сквозное избирательное травление Плешси двуокиси кремния по о;пределенному ри1сунку. При совмещении фотошаблона с пластиной используют оптический контраст разности отражения светового потока от поверхности пленки двуокиси кремния и микроуглублений.
Однако полученные известным способом знаки совмещения ие выдерживают длительной высокотемпературной обработки в окислительной среде, причем из-за ок1ИСления размеры знаков совмещения изменяются, что приводит к изменению раостояний .между HHIMH и изменению оптического «онтраста знако1В.
Цель изобретения - повышение стой-кости знаков совмещения к окислению и обеспечение их высокой контрастнасти по отношению к окиСному слою.
Предлагаемый способ отличается тем, что в пpипoiвepxнQcтныx слоях пластины формируют дислокационные области путем электроннолучевой обработки пластины по заданному рисунку, затем методом фотолитографии вокрынают в окисном слое окна по заданному рисунку и обнаженные участки поверхности пластины путем вытравливания на них дислокаций.
Согласно данному способу предварительно полированные и окисленные полупроводниковые пластины, например кремниевые, подвергают MCiCTHOMy электроннолучевому нагреву по заданному рисунку. Режим электроннолучевой обработки подбирают таким образом, чтобы в приповерхностных слоях пластины формировались дислокационные области с плотностью дислокаций выше 1.10 см. Затем методом фотолитографии в обработанных электронным лучом областях пластины в окисном слое вскрывают по заданному рнсунку окна и обнаженные участки поверхности пластины матируют путем вытравливания на них дислокаций. Травитель может быть составлен из 1 вес. ч. HF и 2 вес. ч. 25%-НОГО раствора СгОз в воде.
Предмет изобретения
1. Способ выполнения знаков -совмещения на полупроводниковой пластине, например кремниевой, включающий яредварительное полирование и окисление по1верхности пластины, отличающийся тем, что, с целью повышения стойкости знаков совмещения к окислению и обеспечения их высокой контрастности по от3ношению к окисному слою, в приповерхностных слоях пластины формируют дислокационные области, затем методоМ фотолитографии вскрывают IB окисном слое о«на по заданному рисунку и матируют обнаженные участки по- 5 4 верхности пластины путем вытравливания на них дислокаций. 2. Способ по л. 1. отличающийся тем, что дислокационные области формируют путем электронно-лучевой обработки пластины по заданному рисунку.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ ВЫСОКОСОВЕРШЕННЫХ КРЕМНИЕВЫХ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СТРУКТУР СО СКРЫТЫМИ n-СЛОЯМИ | 2003 |
|
RU2265912C2 |
ДЕТЕКТОР КОРОТКОПРОБЕЖНЫХ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ | 1986 |
|
RU1371475C |
Способ изготовления кремниевых структур с диэлектрической изоляцией | 1980 |
|
SU897058A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МЕХАНОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ | 1979 |
|
SU797454A1 |
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ СТРУКТУР "КРЕМНИЙ НА ИЗОЛЯТОРЕ" | 1998 |
|
RU2139595C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ КРЕМНИЕВЫХ МЕХАНОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ | 1979 |
|
SU807917A1 |
Способ получения кремниевой структуры | 1988 |
|
SU1578238A1 |
СПОСОБ ГЕТТЕРИРУЮЩЕЙ ОБРАБОТКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН | 2002 |
|
RU2215344C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ИЗОЛЯЦИИ ЭЛЕМЕНТОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ | 1982 |
|
SU1111634A1 |
Способ изготовления профилированных кремниевых структур | 2019 |
|
RU2730104C1 |
Авторы
Даты
1974-02-05—Публикация
1972-07-10—Подача