УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТРАНЗИСТОРОВ Советский патент 1974 года по МПК G01R31/26 

1

Изобретение относится к технике измерения транзисторов в дииамическом режиме.

Известно устройство для измерения параметров транзисторов в динамическом режиме, содержащее генератор, формирователь тестового сигнала с подключенным к его выходу задающим базовый ток резистором и нагрузкой в цени коллектора измеряемого транзистора, состоящей .из двух последовательно соединенных резисторов, к средней точке которых подключен источник опорного на пряжепия.

Однако при .использованни известного устройства не может быть обеспечена высокая точность из: 1ерения параметров транзисторов.

Цель изобретения - повыщепие точности и расщирение пределов измерения.

Это достигается тем, что резисторы коллекторной нагрузки включены коллекторным выводом и щиной «земля, средняя точка между резисторами коллекторной нагрузки соединена через иервый переключатель, .например поляризованное реле, с выходом формирователя, а эмиттерный вывод через первый и второй переключатель соединен с выходом формирователя или шиной «земля.

На чертеже представлена блок-схел1а предлагаемого устройства.

Устройство состоит из генератора /, формирователя 2 тестового сигнала, резистора 3,

включенного между -выходом 4 формирователя 2 и базовым выводом 5 .измеряемого транзистора 6, резисторов 7 и 8, включенных последовательно между коллекторным выводом 9 и шпной «земля, ключей W и 11, элементов 12 и 13 управления ключами.

Устройство работает следующим образом. Тестовый сигнал на выходе 4 формирователя 2 имеет форму двухполярных прямоугольных импульсов. И.мпульсы положительной полярности поступают на токозадающий базовый резистор 3, на элементы 12 и 13 управления ключам.и. При этом ключ 10 соединяет выход 4 со средней точкой коллекториых резисторов 7, 8, а ключ // - эмиттерпый вывод с «землей. Транзистор 6 открывается. Ток коллектора транзистора определяется резистором 7. Тестовые импульсы отрнцательной полярности поступают на те же элементы.

При этом ключ 11 отключает эмиттерный вывод 14 от «земли, а ключ 10 отключает вывод 4 от средней точки коллекторной нагрузки и подключает его к эмиттерному выводу 14. Транзистор 6 закрыт. Выходной сигнал, снимаемый с коллекторного вывода 9 лзмеряемого транзистора 6, представляет собой двухполярные импульсы. Амплитуда положительной полярности выходных импульсов равна напряжению пасыщения измеряемого транзистора.

Амплитуда отрицательиой полярности выход3

ных И1мпульсов равна падению напряжения на резисторах 7 и 5 от остаточного тока закрытого измеряемого транзистора 5.

В предлагаемом устройстве выходные сигналы, соответствующие параметрам открытого и закрытого транзистора, отсчитываются от нулевого уровня, что позволяет применять измерительные средства с большим усилием. За счет этого точность измерения параметров в предлагаемом устройстве повышается.

В устройстве разделенная коллекторная Нагрузка (резисторы 7 и 8) позволяет, изменяя величины сопротивлений резисторов 7 и 8, отдельно задавать ток коллектора (резистором 7) открытого транзистора и падение напряжения от лротекаюшего остаточного тока закрытого транзистора (резистором 8).

Предмет изобретения

Устройство для измерения параметров транзисторов, содержаш,ее генератор, формирователь тестового сигнала с подключенным к его выходу задающим базовый ток резистором и последовательно соединенные резисторы нагрузки в цепи коллектора испытуемого транзистора, отличающееся тем, что, с целью новышения точности и расширения пределов измерения параметров, резисторы коллекторной нагрузки включены между коллекторным выводом и шиной «земля, средняя точка между резисторами коллекторной нагрузки соединена через переключатель, например поляризованное реле, с выходом формирователя, а эмиттерный вывод через первый н второй переключатель соединен с выходом формирователя или шиной «земля.

EL

d

KID-