Устройство для измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов Советский патент 1974 года по МПК G01R27/00 

Описание патента на изобретение SU444132A1

1

Изобретение относится к области измерительной и полупроводниковой техники.

Известно устройство, принцип действия которого основан на использовании светового зонда, возбуждаюн1его неравновесную проводимость в исследуемом образце, в состав которого входят гецератор (1;ВЧ-колебаний, резонатор с исследуемым образцом, устройство, формирующее световой зонд, видеодетектор с сопротивлением нагрузки и индикаторное устройство для измерения напряжения сигнала на сопротивлении нагрузки видеодетектора. Удельное сопротивление образца с помощью этого устройства определяется по величине напряжения на сопротивлении нагрузки видеодетектора.

Цель изобретения - повысить чувствительность устройства, уменьщить его габариты и вес.

Для этого измерительный резонатор совмещают с резонатором СВЧ-генератора.

На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства с помещенным в него исследуемым образцом.

Устройство содержит СВЧ-генератор 1, полупроводниковый диод 2, блок питания 3, емкостный зазор 4, резонатор 5, видеодетектор 6, измерительный блок 7, сопротивление нагрузки 8, световой зонд 9, формирующее

устройство 10. В резонатор помещен исследуемый образец 11.

Устройство работает следующим образом.

С помощью светового зонда 9 в участке образца 11 возбуждается неравновесная проводимость, что приводит к изменению добротности и резонансной частоты резонатора 5. Поскольку мощность и частота генерации генератора 1 определяются добротностью и резонансной частотой резонатора 5, в который помещен активный элемент, то модуляция добротности и резонансной частоты резонатора приводит к амплитудной и частотной модуляции выходной СВЧ-мощности генератора 1, причем глубина модуляции СВЧ-мощности оказывается пропорциональной удельному сопротивлению освещенного участка образца И.

Выходная мощность СВЧ-генератора 1 подается на видеодетектор 6, и на сопротивлении нагрузки 8 с помощью измерительного прибора 7 измеряется напряжение сигнала, пропорциональное удельному сопротивлению освещаемого световым зондом 9 участка образца 11.

Предмет изобретения

Устройство для измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов.

содержащее СВЧ-генератор подачи смещения на исследуемый образец, блок формирования светового зонда, видеодетектор и измерительный блок, отличающееся тем, что, с

целью повышения чувствительности, уменьщения габаритов и веса устройства, измерительный резонатор совмещен с резонатором СВЧ-генератора.

Похожие патенты SU444132A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов 1985
  • Аносов Виктор Николаевич
  • Трухан Эдуард Михайлович
SU1317339A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ БЕСКОНТАКТНЫМ СВЧ МЕТОДОМ 2010
  • Владимиров Валерий Михайлович
  • Марков Владимир Витальевич
  • Мартыновский Владимир Николаевич
  • Шепов Владимир Николаевич
RU2430383C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ 2011
  • Владимиров Валерий Михайлович
  • Коннов Валерий Григорьевич
  • Марков Владимир Витальевич
  • Репин Николай Семенович
  • Шепов Владимир Николаевич
RU2451298C1
Устройство для измерения времени жизни носителей заряда в полупроводниковых образцах 1986
  • Бородовский Павел Анисимович
  • Булдыгин Анатолий Федорович
  • Тарло Дмитрий Георгиевич
SU1689874A1
СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ РЕЗОНАНСНОГО ДАТЧИКА ПАРАМЕТРОВ ЭПИТАКСИАЛЬНОГО СЛОЯ НА ПРОВОДЯЩЕЙ ПОДЛОЖКЕ 1993
  • Тэгай В.А.
  • Енишерлова-Вельяшева К.Л.
  • Детинко М.В.
RU2107356C1
НЕРАЗРУШАЮЩИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОДВИЖНОСТИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ СТРУКТУРЕ 2018
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Постельга Александр Эдуардович
  • Шаров Игорь Викторович
  • Калямин Алексей Александрович
RU2679463C1
РЕЗОНАНСНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЛИЖНЕПОЛЕВОГО СВЧ-КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ 2013
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Горбатов Сергей Сергеевич
  • Кваско Владимир Юрьевич
  • Фадеев Алексей Владимирович
RU2529417C1
СПЕКТРОМЕТР ЭЛЕКТРОННОГО ПАРАМАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА 1996
  • Геворгян Самвел Герасимович[Am]
RU2095797C1
СПЕКТРОМЕТР ЭЛЕКТРОННОГО ПАРАМАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА 1996
  • Геворгян Самвел Герасимович[Am]
RU2095798C1
СВЧ - СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОДЕРЖАНИЯ ВЛАГИ И СТЕПЕНИ ЕЕ ЗАСОЛЕННОСТИ В ЖИДКИХ СРЕДАХ 2002
  • Суслин М.А.
RU2244293C2

Иллюстрации к изобретению SU 444 132 A1

Реферат патента 1974 года Устройство для измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов

Формула изобретения SU 444 132 A1

SU 444 132 A1

Авторы

Наливайко Борис Александрович

Даты

1974-09-25Публикация

1972-09-13Подача