Устройство для определения степени совершенства кристаллографической текстуры на целых листах магнитных материалов Советский патент 1975 года по МПК G01R33/12 G01R33/02 

pa 5 замыкается через ротор 2 и через участок листа, над которым расположены катушки поля б, 7 и 8. При этом в катушках наводится Э.Д.С., величина которой пропорциональна величине тангенциальной составляющей поля рассеяния, вызываемого нормальной к намагничивающему полю компонентой вектора намагниченности металла. В измерительном блоке 9 из сигнала выделяется четвертая гармоника, амплитуда которой пропорциональна степени соверщенства текстуры того или иного типа.

Предмет изобретения

Устройство для определения степени совершенства кристаллографической текстуры на . целых листах магнитных материалов, включающее измерительный блок и датчик, состоящий из магнитной системы, между полюсами магнита которой расположены жестко скрепленнме с ними измерительные катушки так, что их оси перпендя101 лярны оси, соединяюЩей центры полюсов, otличaк щeecя тем, что, с целью повышения точности и упрощений конструкции, ма-Гнитная система содержит ро14)р:;злекград&ига5та1.я. постоянного тока, ск ре|1й йашй с ко-рнусом, и соосно с ним вращающий ; CTafcJp-, выполненный в виде

постоянного кШЬц€§ого магнита со скосами в нижней части, обуащенйой к измеряемому ли сту, а измерительные Катушки состоят из трех .обмоток, которые объединены в две секции так, что расстояние между их осями равно расстоянию от нижней секции до поверхности измеряемого листа, причем верхняя обмотка включена встречно к обмоткам нижней секции, которые намотгны бифилярно и включены последовательно.