Рентгеновский спектрометр Советский патент 1975 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU487338A2

1

Изобретение относится к устройствам для рентгеновского анализа.

Известен спектрометр ио основному авт. св. № 463045.

В этом спектрометре значительное расхождение дифрагированного кристаллом-монохроматором пучка вносит инструментальную ошибку в исследования собственных динамических кривых дифракционного отражения.

Цель изобретения - повышение точности исследования за счет исключения инструментальной ошибки.

Поставленная цель достигается благодаря тому, что в спектрометр введены дополнительный кристалл-монохроматор и средства его поворота и линейного перемешения относительно гониометра, а также средство изменения положения источника излучения относительно дополнительного кристалла.

На чертеже иоказан предложенный сиектрометр с раздельными осями поворота основного и дополнительного кристаллов-монохроматоров.

Кристаллы-монохроматоры 1 и 2 и кристалл-анализатор 3 расположены таким образом, чтобы дифрагированный кристалломмонохроматором 2 пучок проходил через кристалл-анализатор 3, затем отражался от кристалла-монохроматора 1 и в центре гониометра 4 попадал на иоверхпость кристаллаанализатора 3. Для этого предусмотрены механизм поворота 5 источника рентгеновского излучения 6, механизм поворота 7 кристалламонохроматора 1, коллиматор 8, размеш,енный на плите 9, снабженной механизмом линейного перемещения 10 относительно главного гониометра 4.

Спектрометр работает следуюп им образом. Рентгеновский пучок от источника излучения 6 надает на крпсталл-монохроматор 1, который с помошью механизмов поворота 5 и 7 устанавливают в отражаюш,ее положение, при котором дифрагированный пучок проходит через кристалл-анализатор 3 и кристаллмонохроматор 2, установленный в отражаюп,ем ноложенни с учетом указанного условия. Переход на другне значения углов дифракции характеристического снлошного спектра осуш.ествляют поворотом источника 6 и кристаллов 1, 2 и 3, а также взаимно иериендикулярными смещениями кристалла-монохроматора 2 относительно отраженного от кристалла-монохроматора 1 пучка.

Предмет и з о б р е т е и и. я

Рентгеновский спектрометр по авт. св. Afb 463045, отличающийся тем, что, с целью повышения точности исследования, он содержит дополнительный кристалл-моиохроматор и средства регулирования иоложения этого кристалла по отношению к гониометру

и иоложения источника относительно дополнительного кристалла.

Похожие патенты SU487338A2

название год авторы номер документа
Устройство для исследования совершенства структуры кристаллов 1975
  • Батурин Владимир Евстафьевич
  • Имамов Рафик Мамед Оглы
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Ковьев Эрнст Константинович
  • Миренский Анатолий Вениаминович
  • Палапис Вилнис Екабович
  • Семилетов Степан Алексеевич
  • Шилин Юрий Николаевич
SU543858A1
Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла и трехкристалльный рентгеновский спектрометр для осуществления способа 1980
  • Афанасьев Александр Михайлович
  • Завьялова Анна Аркадьевна
  • Имамов Рафик Мамед-Оглы
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Лобанович Эдуард Францевич
  • Болдырев Владимир Петрович
SU894501A2
Рентгеновский спектрометр 1983
  • Ковьев Эрнест Константинович
  • Миренский Анатолий Вениаминович
  • Семилетов Степан Алексеевич
  • Дейген Михаил Иосифович
SU1141321A1
Рентгеновский спектрометр 1979
  • Чуховский Феликс Николаевич
  • Гильварг Александр Борисович
  • Глазунов Вячеслав Николаевич
SU842522A1
Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов 1980
  • Имамов Рафик Мамед-Оглы
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Миренский Анатолий Вениаминович
  • Шилин Юрий Николаевич
  • Якимов Сергей Семенович
SU898302A1
Рентгеновский спектрометр 1979
  • Скупов Владимир Дмитриевич
SU857816A1
Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов 1980
  • Имамов Рафик Мамед-Оглы
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Миренский Анатолий Вениаминович
  • Суходольский Владимир Васильевич
  • Шилин Юрий Николаевич
SU894502A1
Устройство для исследования структурного совершенства тонких приповерхностных слоев монокристаллов 1983
  • Афанасьев Александр Михайлович
  • Имамов Рафик Мамед
  • Мухамеджанов Энвер Хамзяевич
  • Ле Конг Куи
  • Шилин Юрий Николаевич
  • Челенков Анатолий Васильевич
SU1173278A1
Устройство для исследования совершенства структуры монокристаллических слоев 1984
  • Денисов Альберт Георгиевич
  • Зельцер Игорь Аркадьевич
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Сеничкина Римма Сергеевна
  • Шилин Юрий Николаевич
SU1226210A1
Устройство для исследования совершенства структуры монокристаллических слоев 1985
  • Денисов Альберт Георгиевич
  • Зельцер Игорь Аркадьевич
  • Коряков Александр Геннадьевич
  • Сеничкина Римма Сергеевна
SU1396023A2

Реферат патента 1975 года Рентгеновский спектрометр

Формула изобретения SU 487 338 A2

SU 487 338 A2

Авторы

Ковальчук Михаил Валентинович

Ковьев Эрнст Константинович

Миренский Анатолий Вениаминович

Пинскер Зиновий Григорьевич

Фокин Александр Сергеевич

Шилин Юрий Николаевич

Даты

1975-10-05Публикация

1973-10-10Подача