1
Изобретение относится к устройствам для рентгеновского анализа.
Известен спектрометр ио основному авт. св. № 463045.
В этом спектрометре значительное расхождение дифрагированного кристаллом-монохроматором пучка вносит инструментальную ошибку в исследования собственных динамических кривых дифракционного отражения.
Цель изобретения - повышение точности исследования за счет исключения инструментальной ошибки.
Поставленная цель достигается благодаря тому, что в спектрометр введены дополнительный кристалл-монохроматор и средства его поворота и линейного перемешения относительно гониометра, а также средство изменения положения источника излучения относительно дополнительного кристалла.
На чертеже иоказан предложенный сиектрометр с раздельными осями поворота основного и дополнительного кристаллов-монохроматоров.
Кристаллы-монохроматоры 1 и 2 и кристалл-анализатор 3 расположены таким образом, чтобы дифрагированный кристалломмонохроматором 2 пучок проходил через кристалл-анализатор 3, затем отражался от кристалла-монохроматора 1 и в центре гониометра 4 попадал на иоверхпость кристаллаанализатора 3. Для этого предусмотрены механизм поворота 5 источника рентгеновского излучения 6, механизм поворота 7 кристалламонохроматора 1, коллиматор 8, размеш,енный на плите 9, снабженной механизмом линейного перемещения 10 относительно главного гониометра 4.
Спектрометр работает следуюп им образом. Рентгеновский пучок от источника излучения 6 надает на крпсталл-монохроматор 1, который с помошью механизмов поворота 5 и 7 устанавливают в отражаюш,ее положение, при котором дифрагированный пучок проходит через кристалл-анализатор 3 и кристаллмонохроматор 2, установленный в отражаюп,ем ноложенни с учетом указанного условия. Переход на другне значения углов дифракции характеристического снлошного спектра осуш.ествляют поворотом источника 6 и кристаллов 1, 2 и 3, а также взаимно иериендикулярными смещениями кристалла-монохроматора 2 относительно отраженного от кристалла-монохроматора 1 пучка.
Предмет и з о б р е т е и и. я
Рентгеновский спектрометр по авт. св. Afb 463045, отличающийся тем, что, с целью повышения точности исследования, он содержит дополнительный кристалл-моиохроматор и средства регулирования иоложения этого кристалла по отношению к гониометру
и иоложения источника относительно дополнительного кристалла.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для исследования совершенства структуры кристаллов | 1975 |
|
SU543858A1 |
Способ контроля поверхностного слоя полупроводникового монокристалла и трехкристалльный рентгеновский спектрометр для осуществления способа | 1980 |
|
SU894501A2 |
Рентгеновский спектрометр | 1983 |
|
SU1141321A1 |
Рентгеновский спектрометр | 1979 |
|
SU842522A1 |
Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов | 1980 |
|
SU898302A1 |
Рентгеновский спектрометр | 1979 |
|
SU857816A1 |
Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов | 1980 |
|
SU894502A1 |
Устройство для исследования структурного совершенства тонких приповерхностных слоев монокристаллов | 1983 |
|
SU1173278A1 |
Устройство для исследования совершенства структуры монокристаллических слоев | 1984 |
|
SU1226210A1 |
Устройство для исследования совершенства структуры монокристаллических слоев | 1985 |
|
SU1396023A2 |
Авторы
Даты
1975-10-05—Публикация
1973-10-10—Подача