Способ исследования износа детали Советский патент 1975 года по МПК G01N3/56 

вируют с минимальными размерами в плане, но с большей глубиной.

Для оценки конфигурации изношенного объема в плане образуют (фиг. 3 и 4) активированные участки 5 и 6 минимальной глубины, расположенные но представляюш,им наибольший интерес для изучения направлениям изнашиваемого объема 7. Одновременно с деталью при тех же условиях активации образуют активированные зоны на поверхности эталона в виде пластины, изготовленной из того Же материала, что и исследуемая деталь.

Снижение активности при снятии слоев определенной толщины с учетом изменения активности за счет распада дает зависимость спада активности от толш,и:иы снятого слоя. Получают тарировочные зависимости для всех применяемых изотопов и по этим зависимостям судят об износе.

Предмет изобретения

Способисследования износа детали, заключающийся в создании активированной зо-. ны на участке предполагаемого износа йсс,ле дуемой детали и эталона из того же материала, построении тарировочной зависимости «спад радиоактивности - толщина снятого слоя, измерении радиоактивности исследуемой детали после из1нашивания и оценке износа по тарировочной зависимости, отличающийся тем, что, с целью получения более подробной характеристики геометрии износа, активированную зону образуют из

участков, различающихся по размерам и энергии излучаемых гамма-квантов, строят отдельную тарировочную зависимость для каждого участка, а износ оценивают по соответствующей данному участку тарировочной

зависимости.