Рентгеновский дифрактометр Советский патент 1976 года по МПК G01N23/205 

1

Изобретение относится к приборам для j изучения кристаллической структуры веществ подвергнутых различным обработкам при низких температурах (высокому давлению, -, облучению ядерными частицами, пластиче- ; ской деформации), охлаждению с высоких температур, также для исследования кристаллической структуры веществ, закристаллизовавшихся из жидкой и газообразной фаз и ; структурных исследований жидкостей в области температур ниже комнатной с помощью., дифракции :рентгеновских лучей.,

В известных рентгеновских дифрактомет рах, служащих для исследования материалов в щироком интервале температур, содержащих рентгеновскую трубку, узел детектора и кристаллодержатель, вращаются образец и детектор рентгеновских лучей, а рентгеновская трубка неподвижно закреплена, что затрудняет создание высокого вакуума в камере, нужных температурных условий и

установку в камере.

. Рентгеновский дифрактометр с вертикальной рабочей плоскостью позволяет проводить исследования на образцах, расположенных исследуемой поверхностью отарсительяо горизонтальной плоскости неподвижно, что . обеспечивается Сшхронным вращением рен «геновской трубки и Детектора вокруг гори4 зонтальной. оси, лежащей в плоскости обраф;ца; позволяет обеспечивать в камере вакуум, благодаря возможности присоеЬ . Единения совершенной вакуумной системы; ; имеется возможность вращения исследуемо го образца вокруг нормали к поверхности I для усреднения интенсивности дебаевских jколец при исследовании крупнозернистых

веществ. ,

I Однако такой дифрактометр не йбэвойяет

i исследовать кристаллическую структуру Bei тесть без отогрева образцов, предварител но подвергнутых обработке, например, все4 стороннему давлению с i прсл(ЭД ующиМ охла;|с{Дением до низких темйератур, или облученщЬ i ядерными частицами при низких температу рах и т. д.- ..

Цель изобретения - обеспечение возможности исследования кристаллической струк- туры веществ, предварительно подвергну- 1ТЫХ при низких температурах высокому

11

rin

. Составмтель Л.Мвченкова Редактор ejoBraap ,| амы1цникова Корректор Л.Брахнина

Изд. N, |{

Заказ 4916

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Мнннстров СССР

по делам изобретений и открытвв Москва, 113035, Раушская наб., 4

Филиап ППП Патент, г, Ужгород, ул. Проектная, 4

Тираж ip2eПодписное

11

X

75