Способ измерения градиента магнитного поля Советский патент 1976 года по МПК G01V3/00 

1

Изобретение относится к методам поиска разведки полезных ископаемых к позволя-™ ет обнаруживать слабые аномалии на фоне гео магнитного поля, определять направление на СТОЧНИК нагн1ГЕЗЕ№ пбпя. глубину заяегани.ч, 5 форму и мощность геологических: образований.

Известный способ измерен я градиента магнитного поля предполагает измерение вторых и смешанных производных магнитного .-потенциала по направлениям осей прямоуголь-.О .ной системы координат.

Для измерения вторых производных магнитного потенциала используют измерительные апементы, состоящие из двух дифференциально включенных полуэлементов, осн чув IS стантедьности jкоторьгх| расположены соосно с базой градиентомера.

Однако для осуществления атого способа ;Необходимы таклсе измерения смешанных проИзводных магнитного потенциала.. 20

Для измерения смешанных производных магнитного потенциала используют измери-телы те элементы, у которых оси чувстви тельности полуэлементра расположены ортогонально базе градиентометра. 25

- .

Необход1&шсть применения различных видов элементов приводит к снижению точное ти измерений до фовня погрешности нанме нее точног измерительного элемента. . /Погрешность измерительных элементов I смешанной производной магнитного потенци- I ала существенно больше вв1щу того, чтозна чительно обеспечить параллельность jocett полуэлементов, расположенных ортого|нально базе градиентометра. Применение |,этих измерительных элементов приводит и |сннжекгас точности измерения градиента. Цель изобретения - повысить точность .намерений. Это достигается гем, что допол(шгтельно измеряют вторые производные маг|нт тного потенциала по направлениям осей прямоугольной сЕютемьг координат и дополнитетязно нзмершот зторые производные по иаправленннм биссектрис углов между осями прямоугольной систеш 1 координат.

Су1цность способа поясняется чертежом.

результаты указанных измерений обеспечивают полную информацию о градиенте магHi TKoro поля (производных магнитного потен