Предметом изобретения является способ испытания микрообъективоз, основанный на применении оптической схемы, являющейся видоизменением интерферометра Тваймана.
Отличие предлагаемого способа от известных заключается в том, что обе волны, применяемые в исследовании, создаются совершенно одинаково, а именно при помощи вставленных в каждую ветвь интерферометра сферического зеркала и микрообъектива, фокус которого совмещается с поверхностью или центром кривизны зеркала.
На чертеже изображена оптическая схема прибора для осуществления предлагаемого способа.
Прибор имеет источник / монохроматического света, конденсор 2, диафрагму 3 с круглым отверстием и стеклянную пластину 4. Стеклянная пластина 4 состоит из двух плотно склеенных параллельных пластинок с тонким полупрозрачным слоем серебра между ними. За пластиной 4 установлен микрообъектив 5 хорощего качества. Испытуемый микрообъектив 6 того же увеличения, что и объектив 5, устанавливается перед пластинкой 4. Фокусы объективов совмещаются с фокусами двух одинаковых сферических зеркал 7 и 8 достаточно хорощего качества. Для устройства этих зеркал можно использовать поверхности двух одинаковых лииз, посеребренных или алюминированных, с целью получе1 ия больщего количества света.
Описываемый интерферометр можно навинтить на тубус обыкновенного микроскопа вместо объектива.
Свет от источника / собирается конденсором 2 на отверстие диафрагмы 3, находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и 6. Пластина 4 разделяет на два пучка расходящиеся лучи, подающие на нее. Пучки эти затем собираются объективами 5 и 5 в точках 9 н 10, с которыми совмещаются центры кривизиы или поверх
