Способ определения качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов Советский патент 1941 года по МПК G03B43/00 G01B9/02 

Качество оптических поверхностей обычно проверяется по методу пробных стекол. Однако в случае испытания фронтальной линзы объектива микроскопа применение этого метода связано с большими затруднениями вследствие малых размеров такой линзы. В особенности трудно определять KaHecTBO линзы на ее краях, где как раз и возможны наибольшие отступления поверхности от идеальной сферы.

Предметом изобретения является спосОб испытания на качество формы поверхности линз малых размеров, в частности фронтальных линз микрообъективов, оснОВанный на применении оптической схемы, напоминающей интерферометр Тваймана, отличающийся тем, что обе волны, применяемые в исследовании, создаются совершенно одинаково, а именно с помощью вставленных в каждую ветвь интерферометра фронтальной линзы, а также микрообъектива, фокус которото совпадает с центром кривизны линзы.

На прилагаемом чертеже изображены детали схемы, служащей для осуществления способа согласно

изобретению. Здесь изображены: источник мо охроматического света 1, линза-конденсор 2, диафрагма 3 с круглым отверстием, стеклянная пластинка 4, состоящая из двух оклеенных плоскопараллельных пластинок с тонким полупрозрачным слоем серебра между ними, два одинаковых микрообъектива 5 и 6, эталонная фронтальная линза 7 микрообъектива с поверхностью заведомо хорошего качества в участке, которым она отражает свет, и испытуемая фронтальная линза 8. укрепленная на столике, имеющем возможность наклонов относительно падающего пучка, благодаря испытанию может быть подвергнут любой участок испытуемой линзы 8.

Описываемый интерферометр возможно оформить так, что его можно будет навинтить на тубус обыкновенного микроскола.

Свет источника I соб р1ается линзой 2 на отверстии диафрагмы 3, находящейся на расстояний нормальной длины тубуса от объективов 5 И 6.

Пластинка 4 разделяет на два