Микропрофилометр для оценки и исследования чистоты обработки поверхности Советский патент 1958 года по МПК G01B11/30 G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU115098A1

Извсст} ые М1.кроирофи.1ометры д,1Я колтро.15; чистоты обработки наружной к b -;yTpcu icii 11ове 3.нисти об.1г1дают недостаточной разрешаюдеГ силоГ:, -Малыл уне.тичснием не ибоспеч11за1от качестзенмого исследования следов обрабо1км.

Оп сызаемп Й м;;чропроф;илометп, ,1неи с oirnmecKoii системой, о6еслечиваюн1ей 1юл чение ; iucpci) по.чсс. позволяюiiiHii производить точные H3Mepei;i:j г.)1ны узких с.тсдов обработки наружных и знутреимил (диал егрол) oi 8,5.«.i() noi epxHOCTeii с MiiCTOтой обработки до 13 класса включите.тьно.

j-;a чертеже изображена схема микропрофилометра.

;.:;.: сн т;:. :10.1 -;чМЬ 1 от 1сточ; ик;; /, отражается от п.тоских зеркал 2. а зател j, нроходит предварительно через конденсорные линзы 4. коллективную ликзу 5, щел1. О, а потом через обт ектнв коллиматсра 7 и кубик К, разделяющий нучок на два пучка. Один из нучхов . объектив 9 проектирует ка нроверясмую поверхность 10 )бпажепие Н1ел1н и. отразившись от нее. через кубик Л разделитель:iVio T:;i:;i:uc-;; аль:- ю призм . il с пол/проззачно B-iymcH ieii liOBOpxяостью лаправл яеУск в зрител ную трубу, которая состоит из объекТива 12. ГЛ и винтового окуляра 14.

Второй пуЧОК. отразивнпсь от зерка.уа /5 и пройля те, ескопическую систем-.; . составленную из двух объективо и к.тиново комнеисато 17. через разделите.шную трапецеида.тьнхю и выключаюнхуюся ни.1И1Ндп:-ЧС-скунэ .чинз) 7,S с наклонньлми п.тоскими. зеркал.ами 19, 2С и 21. также попадает в зр;11телоную ipy6y.

Ирм- вык.тючепио 1;ил;1ндрическо линзе в no.ie зрени.я оку.тяра ВИДНЫ два язобра/кения: Н1ели и участка проверяемой поверхности, а при БКлоченнгч: .тинзе-изображение иитерференнионных полос, flrnoiUKx npcid 5ib Г1роверяем:ой п ;зе 1хности.

№ 115098- 2 -Благодаря ири.мекению разделительной трапецеидзльной призмы и телескопической системы с наклонными плоскими зеркэлами достигается высокая точность измерения глуби1ны узких следов обработки.

Предмет изобретения

Микронрюф илометр для оценки и исследования чистоты обработки поверхности, снабженный оптической системой для наблюдения в поле зрения окуляра интерференционных полос, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения глубины узких следов обработки, он снабжен установленной перед зрительной трубой дополнительной разделительной трапецеидальной призмой и телескопической системой с НВклонными плоскими зеркала-ми.

Похожие патенты SU115098A1

название год авторы номер документа
Бесконтактный интерференционный индикатор 1950
  • Каразин И.В.
  • Коломийцов Ю.В.
SU100704A1
Автоколлимационный способ измерения радиусов кривизны и контроля правильности формы нелинейных поверхностей 1960
  • Коломийцов Ю.В.
  • Панаиотова Н.Н.
  • Смирнова Г.Г.
SU139463A1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ НУТРОМЕР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРОВ ОТВЕРСТИЙ ИЗДЕЛИЙ 1971
SU315913A1
Способ контроля стеклянных оптических клиньев 1957
  • Коломийцов Ю.В.
SU118080A1
МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ ПОВЕРХНОСТИ 1972
SU339770A1
Способ определения качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов 1940
  • Коломийцов Ю.В.
SU60130A1
Способ определения качества коррекции микрообъектива 1940
  • Коломийцов Ю.В.
SU60129A1
Устройство для контроля центрировки оптических систем 1982
  • Пуряев Николай Трофимович
SU1051402A1
Способ интерференционного контроля 1960
  • Коломийцев Ю.В.
SU144999A1
Способ и прибор для испытания правильности формы поверхности шарика или цилиндра 1941
  • Коломийцев Ю.В.
SU61938A1

Иллюстрации к изобретению SU 115 098 A1

Реферат патента 1958 года Микропрофилометр для оценки и исследования чистоты обработки поверхности

Формула изобретения SU 115 098 A1

тЛ, V-, -.;rv -ч;

2fftj

I I

t

SU 115 098 A1

Авторы

Коломийцов Ю.В.

Даты

1958-01-01Публикация

1954-10-25Подача