Способ измерения параметров дисперсных систем Советский патент 1978 года по МПК G01B11/30 

Описание патента на изобретение SU619792A1

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЛИСПЕРСЯЫХ

СИСТЕМ 8 ГО излучения.и обрабатывают результаты измерений путем исследования спектра пространственных флуктуации интенсивности. При этом производят ч;канирование приемного элемента по окружности, лежащей в плоскости, перпендикулярной направлению падающего Пучка, и с центром, лежащим на оси пучка, и ФИКСИРУЮТ.мгновенное расггределённеИЯТёнсиЕНости в направ лении сканирования. Данный способ позволяет фиксироватБ всю радиальную функцию распре деления, что дает возможность увеличить число измеренных параметров, Формула изобретения Способ измерения паргинетров дис персных систем путем воздействия на них пучком когерентного электромагнитного излучения, сканирования при емного элемента, в плоскости наблюде ния, регистрации интенсивности рас2сеянного излучения и обработки результатов измерений, заключакхдийся в исследовании спектра пространственных флуктуации интенсивности, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости измерения концентрации, размера частиц, величины и масштаба флуктуации концентрации, производят сканирование приемного элемента по окружности, лежащей в плоскости перпендикулярной направлению падающего пучка, и с центром, лежащим на оси пучка, и фиксируют при этом мгновенное распределение интенсивности в направле НИИ сканирования. Источники информации, приняты во внимание при экспертизе: 1.Шифрин К.С., Колмаков Я.Б. Известия АН СССР. Физика атмосфе1ры л океана. Т. 3. Вып. 12, 1967. 2.Кольер Р,, Бернхарт К., Лин Л. Оптическая голография. М., Мир, 1973.

Похожие патенты SU619792A1

название год авторы номер документа
Способ измерения параметров морской поверхности 1990
  • Кузьминский Андрей Леонардович
  • Тихонов Василий Андреевич
  • Шмальгаузен Виктор Иванович
SU1768964A1
Способ контроля качества оптических систем 1979
  • Бабак Эдуард Викторович
  • Махотько Вадим Александрович
  • Беляев Александр Сергеевич
SU1601512A1
УСТРОЙСТВО РЕГИСТРАЦИИ ЦИФРОВЫХ ГОЛОГРАФИЧЕСКИХ И СПЕКТРАЛЬНЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ МИКРООБЪЕКТОВ 2019
  • Абдурашитов Аркадий Сергеевич
RU2703495C1
СПОСОБ МАЛОУГЛОВОЙ ИНТРОСКОПИИ И УСТРОЙСТВА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 1997
  • Комардин О.В.
  • Лазарев П.И.
RU2137114C1
ДВУХФОТОННЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП С АВТОМАТИЧЕСКОЙ ТОЧНОЙ ФОКУСИРОВКОЙ ИЗОБРАЖЕНИЯ И СПОСОБ АВТОМАТИЧЕСКОЙ ТОЧНОЙ ФОКУСИРОВКИ ИЗОБРАЖЕНИЯ 2012
  • Мишина Елена Дмитриевна
  • Семин Сергей Владимирович
  • Шерстюк Наталия Эдуардовна
  • Лавров Сергей Дмитриевич
RU2515341C2
СПОСОБ ОПТИЧЕСКОЙ ТОМОГРАФИИ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРООБЪЕКТОВ И МИКРОСКОП ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1999
  • Левин Г.Г.
  • Вишняков Г.Н.
RU2145109C1
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ И КОНЦЕНТРАЦИЙ ДИСПЕРСНЫХ ЧАСТИЦ В ЖИДКОСТЯХ И ГАЗАХ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ОДНОЭЛЕМЕНТНЫХ И МАТРИЧНЫХ ФОТОПРИЕМНИКОВ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 2012
  • Певгов Вячеслав Геннадьевич
  • Певгова Наталья Вячеславовна
RU2525605C2
СПОСОБ ДОПОЛНИТЕЛЬНОЙ ПРОВЕРКИ ПОДЛИННОСТИ ЦЕННОГО ДОКУМЕНТА 2020
  • Минин Петр Валерьевич
  • Письменный Дмитрий Геннадиевич
RU2745032C1
Эллипсометр 1988
  • Ковалев Виталий Иванович
SU1695145A1
ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННАЯ СИСТЕМА ОБНАРУЖЕНИЯ ОБЪЕКТОВ 2016
  • Горобинский Александр Валерьевич
  • Манкевич Сергей Константинович
  • Серякова Юлия Викторовна
RU2639321C1

Реферат патента 1978 года Способ измерения параметров дисперсных систем

Формула изобретения SU 619 792 A1

SU 619 792 A1

Авторы

Полторацкий Борис Федорович

Сачков Константин Николаевич

Даты

1978-08-15Публикация

1975-12-08Подача