Тестовый модуль для контроля параметров интегральных микросхем Советский патент 1978 года по МПК G01R31/319 

Описание патента на изобретение SU632967A2

Тестовый модуль для контроля параметров интегральных микросхем работает следующим образом. Режим испыту мой интегральной микросхемы (на черте же vie показана) устанавливается операционным усилителем 4, устанавпкваюши равенство входных напряжений испытуемой интегральной микросхеклл. Так как операционные усилители 1 и 2 идентичн и согласованы по своим параметрам, то к входам испытуемой интегральной микр схемы приложено лишь напряжение смеш ния и выходное напряжение оп рационного усилителя 1 равно где Выходные напряжения Eg, и Е, на вы ходах операционных усилителей 1 и 2 р . где1; 3 На выходе операционного усилителя действует напряжение / /T,7lfRl5 r -IM-xT) а так какЯ )5 R 16 (7 ) 2/ Ча/ 2 ЗсмйКб слн Э см,Эсм, Таким образом, выходное напряжени операшюнного усилителя 3 прямо пропо ционально полусумме входньгх токов. При другом положении контактов контактных групп 18, 19, 2О производится измерение разности входных токов. Введение трех контактных групп позволяет повысить универсальность тестового модуля, делает его пригодным для измерения всех типов операционных и дифференциальных усилителей. Предлагаемый тестовый модуль не требует последовательного сбора тестовых схем для измерения параметров интегральных микросхел, не требует коммутации их измерительных цепей, приводящих к увеличению временных задержек, обусловленных переходными процессами в мэпях коррекции, дает возможность измерения параметров интегральных микросхем без заполнения промежуточных результатов и вычислений. Формула изобретения Тестовый модуль для контроля параметров .интегральных микросхем по авт. св. № 57О856, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей путем обеспечения измерения среднего тока, в него введены три переключателя, причем входные клеммы первого, второго и третьего переключателей соединены соответственно с неинвертирующим входом третьего операционного у сипите ля, выходом делителя напряжения, через делитель напряжения - с выходом второго операционного усилителя, первые выходные клеммы первого, второго и третьего переключателей соединены соответственно с общей шиной, ин.вертирующим входом третьего операционного усилителя и выходом третьего опе,рационного усилителя, а вторые выходные клеммы второго и третьего переключателей соединены соответственно снеинвер- тирующим входом третьего операционного усилителя и обшей шиной.

Похожие патенты SU632967A2

название год авторы номер документа
Тестовый модуль для контроля параметров интегральных микросхем 1976
  • Дубовис Владимир Моисеевич
  • Антонов Юрий Иванович
  • Чернышов Юрий Николаевич
SU570856A1
Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем 1978
  • Дубовис Владимир Моисеевич
  • Чернышев Юрий Николаевич
SU777603A1
Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем 1978
  • Дубовис Владимир Моисеевич
  • Чернышев Юрий Николаевич
SU777604A1
Способ контроля качества операционных усилителей в интегральном исполнении 1981
  • Юкманис Эгилс Станиславович
  • Клявиньш Юрис Робертович
  • Иткин Борис Яковлевич
  • Мисуркин Олег Григорьевич
  • Слайдиньш Илмар Янович
  • Эйзентал Юрис Викторович
SU1401414A1
Устройство для измерения параметров полупроводниковых приборов 1980
  • Пецюх Евгений Андреевич
SU991336A1
Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем 1977
  • Дубовис Владимир Моисеевич
  • Антонов Юрий Иванович
  • Чернышев Юрий Николаевич
SU661439A1
Устройство для измерения электрических параметров интегральных микросхем 1990
  • Холопцев Тарас Андреевич
  • Чубаров Николай Дмитриевич
SU1775691A1
Устройство для измерения коэффициента гармоник 1976
  • Дубовис Владимир Моисеевич
  • Антонов Юрий Иванович
  • Бать Сергей Давыдович
  • Чернышов Юрий Николаевич
SU789851A1
Устройство для контроля электронных схем 1986
  • Шаромет О.Н.
  • Львов С.Н.
  • Попель Л.М.
SU1431505A1
Устройство для измерения электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения 2016
  • Нуров Юрий Львович
  • Долгов Роман Сергеевич
  • Шустов Юрий Иванович
RU2612872C1

Иллюстрации к изобретению SU 632 967 A2

Реферат патента 1978 года Тестовый модуль для контроля параметров интегральных микросхем

Формула изобретения SU 632 967 A2

SU 632 967 A2

Авторы

Дубовис Владимир Моисеевич

Антонов Юрий Иванович

Чернышев Юрий Николаевич

Даты

1978-11-15Публикация

1977-04-28Подача