Тестовый модуль для контроля параметров интегральных микросхем работает следующим образом. Режим испыту мой интегральной микросхемы (на черте же vie показана) устанавливается операционным усилителем 4, устанавпкваюши равенство входных напряжений испытуемой интегральной микросхеклл. Так как операционные усилители 1 и 2 идентичн и согласованы по своим параметрам, то к входам испытуемой интегральной микр схемы приложено лишь напряжение смеш ния и выходное напряжение оп рационного усилителя 1 равно где Выходные напряжения Eg, и Е, на вы ходах операционных усилителей 1 и 2 р . где1; 3 На выходе операционного усилителя действует напряжение / /T,7lfRl5 r -IM-xT) а так какЯ )5 R 16 (7 ) 2/ Ча/ 2 ЗсмйКб слн Э см,Эсм, Таким образом, выходное напряжени операшюнного усилителя 3 прямо пропо ционально полусумме входньгх токов. При другом положении контактов контактных групп 18, 19, 2О производится измерение разности входных токов. Введение трех контактных групп позволяет повысить универсальность тестового модуля, делает его пригодным для измерения всех типов операционных и дифференциальных усилителей. Предлагаемый тестовый модуль не требует последовательного сбора тестовых схем для измерения параметров интегральных микросхел, не требует коммутации их измерительных цепей, приводящих к увеличению временных задержек, обусловленных переходными процессами в мэпях коррекции, дает возможность измерения параметров интегральных микросхем без заполнения промежуточных результатов и вычислений. Формула изобретения Тестовый модуль для контроля параметров .интегральных микросхем по авт. св. № 57О856, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей путем обеспечения измерения среднего тока, в него введены три переключателя, причем входные клеммы первого, второго и третьего переключателей соединены соответственно с неинвертирующим входом третьего операционного у сипите ля, выходом делителя напряжения, через делитель напряжения - с выходом второго операционного усилителя, первые выходные клеммы первого, второго и третьего переключателей соединены соответственно с общей шиной, ин.вертирующим входом третьего операционного усилителя и выходом третьего опе,рационного усилителя, а вторые выходные клеммы второго и третьего переключателей соединены соответственно снеинвер- тирующим входом третьего операционного усилителя и обшей шиной.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Тестовый модуль для контроля параметров интегральных микросхем | 1976 |
|
SU570856A1 |
Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем | 1978 |
|
SU777603A1 |
Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем | 1978 |
|
SU777604A1 |
Способ контроля качества операционных усилителей в интегральном исполнении | 1981 |
|
SU1401414A1 |
Устройство для измерения параметров полупроводниковых приборов | 1980 |
|
SU991336A1 |
Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем | 1977 |
|
SU661439A1 |
Устройство для измерения электрических параметров интегральных микросхем | 1990 |
|
SU1775691A1 |
Устройство для измерения коэффициента гармоник | 1976 |
|
SU789851A1 |
Устройство для контроля электронных схем | 1986 |
|
SU1431505A1 |
Устройство для измерения электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения | 2016 |
|
RU2612872C1 |
Авторы
Даты
1978-11-15—Публикация
1977-04-28—Подача