Рентгеновский дифрактометр Советский патент 1979 года по МПК G01N23/207 

-: . „1 , - -, ; : Изобретение относится к приборам и аппаратам для рентгеноструктурного анализа, в чйстности к рентгеновским дифра.ктометрам, применяемым для научных и проМЕ В1шемиьах целей. ; Известен дйфрактрметр, содержащий источник рентгеновскбго излучения и гониометр, установленные неподвижно по отношению друг к другу и к опорНой плите, благодаря чему достигается Механическая жесткость системы и высокая точность прибора {1. Известней также рентгёновск ий дифрактомётр, в котором осуществляет ся пЬворот истЬчника, рентгеновского излучения относительно оси крибталла MpHOXpipMa:t6pa, я1алякнцегося несменным элементом констру кцйй 2 . в дифрактометре 6б1всввчиваётся необходимая механическая стабильность в системе: ИСТОЧНИК излучения - мбнохроматьр йсслхедуемый образец. Однако прибор Не позволяет устанавливать сменные . устройства между и сточником излучения и гониометрическим устройством, поскольку расстояние между ними долж но все время оставаться постоянным. Наиболее близким по техническому решению к предлагаемому.является рентгеновский дифрактомётр, содержащий опорную плиту, исто ник рентгеновского излучения со средствами юстировки и гониометр со сменными приставкакш для образца и кристгшламонохроматора, смонтированные на плите, блок питания рентгеновской трубки, детекто|х излучения и регистРИРукадую дифрактоглетрическую стойку 3., - ;: , . . ; Этот дифрактомётр, имея высокую точность отсчета угловых величин (i 0,005, не позволяет реализовать ее при pai6oTe с плоским кристалломмонохрсялатором и другими сменными устройствами, устанавлйваемыкш между источником излучения и. пониометром, так какне обладает достаточной механической жесткостью, поскольку все рабочие и юстировочные перемещения осуществляются с помощью самого гониометра. Кроме того, ряд новых методов рентгеноструктурного анализа (в частности, рентгеновская топография, метод двойного кристалла-спектрометра к т. д.)требует дополнительных перемещений в системе: источник изJJyчeния - гониометрическое устройство, что вызывает еще большую механическую .нестабильность, и исключает возможность применения прибора для прецизионных исследований и ставит опре деленный предел его универсальности Цель изобретения состоит в повышении точности, универсальности и упрощении.юстировки при смене прист вок. Для решения поставленной задачи в рентгеновском дифрактометре, соде жащем опорную плиту, источник рентгеновского излучения и гонйбмётр со сменными приставками для образца и кристалла-монохрЬматора, смонтированные на плите, блок питания рен геновской трубки, детектор излучения и регистрирующую дифрактометрическую стойку, гониометр жестко установлен на опорной плите, а исто ник рентгеновского излучения со средствами юстировки смонтирован на поворотной платформе с возможностью поступательного перемещения вдоль нее и совместного с ней поворота вокруг оси, параллельной оси гониометра в интервале углов . На чертеже, показана схема взаимного расположения гониометра и исто ниуа излучения, а также средства перемещения последнего. -,Устройство содержит опорную плиту 1; источник рентгеновского излучения 2; гониометр 3 с поворотньлм держателем образца 4; детектор излу чения 5; сменное устройство, ось поворота которого совпадает с осью б, отстоящей от оси гониометра на расстояние, определяющее оптимальное условие фокусировки; поворотную платформу 7 с крепежными винтами 8 и 9; винтами тонкого поворота 10; шкалой 11 отсчета угла поворота пла Формы; направляющей 12 поступательного перемещения и дуги 13. Для установки вспомогательного сменнОго устройства (например, крис талла-монохроматора) и совмещения его оси с осью б источник рентгенов CKof-b излучения 2 перемещают в ра-г диальном направлении вдоль направля щей 12 на расстояние, необходимое для установки сменного устройства. Затем производят грубый поворот платформы 7 по дуге 13 с отсчетом угла по uiKajii 11 при отпущенных вин тах 8 и 9 и тонкую фокусировку винт 34 ми 10 при отжатом винте 8. Юстировку первичного пучка относительно .задан- ногр участка кристалла осуществляют грубым и плавньом возвратно-поступательным перемещением источника излучения 2 в направлении, перпендикулярном к его радиальному перемещению. Размещение источника рентгеновского излучения на поворотной платформе с возможностью .поступательного перема1 ения в двух взаимно-пб рпендикулярных направлениях создает большие удобства и преимущества для изменения рёнтгенооптической схема аппарата, для реализации новых методов рентгеноструктурного анализа, включая рентгеновскук топографию, метод двойного кристалл-спектрометра, исследования в параллельном пучке рентгеновского излучения (с монохроматором оонзе), исследования тег кстур, температурные исследования и т. п., Формула изобретения Рентгеновский дифрактометр, содержащий опорную плиту, источник рентгеновского излучения со средствами юстировки и гониометр со сменными Л эиставками для образца и кристалла-монохроматора, смонтированные на плите, блок питания рентгеновской трубки, детектор излучения и регистрирующую дифрактометрическую стойку, о т л и ч а ю Щ й-йс я тем, что, с целью повышения точности, универсальности и упрощени.я юстировки при смене приставок, гониометр жестко установлен на .опорной плите, а. источник рентгеновского излучения со средствами юстировки смонтирован на поворотной платформе с возможностью поступательного перемещения вдоль нее и со вместного с ней поворота вокруг оси, параллельной оси гониометра в интервале углов 0-90 . Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Техническое описание Дифрактометр Гейгерфлекс, ВЦП перевод № 68882-68897, 1976. 2.Авторское свидетельство № 543858, кл. (3 01 N 23/22, 1975. 3.Авторское свидетельство № 270296, кл. Q 01 N 23/20, 1970.

о