Система для калибровки спектров Советский патент 1979 года по МПК G01J3/12 

Изобретение относится к спектраль- |ному приборостроению, а именно, к системам, позволяющим эталонировать и сравнивать спектры, и может быть испол зовано в спектральных приборах. Известны устройства, позволяющие измерять длины волн спектров. Они не пазвоияют, однако, записывать одновременно, используя при этом одни и те же участки элементов спектрального прибора без уменьшения отношения сигнал/шу Наиболее близким по технической сущ ности является система для калибровки спектров, содержащая плоскую дифрак- цноннук .решетку-юветоделитель с симме ричным профилем штрихов и два плоских зеркала pj. Известная система не позволяет осуществлять калибровку спектров с высокой степенью точности, поскольку запись исследуемого и эталонного спектров про изводится последовательно. Целью изобретения является повышение точности калибровки спектров. Для этого система для калибровки спектров дополнительно снабжена разделителем, центр которого совмещен с оптической осью системы и образует два разделительных оптических каршла, причем разделитель выполнен в виде двух 45 призм, соединенных между собой с помощью оптического контакта, или из трёх зеркал, два из которых развернуты под углом 45 к оптической оси системы и их общее ребро перпе}щикулярно ей, а третье зеркало наютонено под углом 45 к плоскости, перпендикулярной оптической оси, причем точка пересечения всех трех зеркал совмещена с оптической осью системы. На фиг. 1 приведена схема иитерфе ренционного спектрометра; на фиг. 2 схема разделителя, выполненного в виде двух 45 -X призм; на фиг. 3 - cxeNia разделителя, выполненного из трех зеркал.

Система для калибровки спектров содержит исследуемый источник света 1, разделитель 2, линзы 3, дифракционную решетку-светоделитель 4, зеркала 5 и 6 спектрометра, фотоприемник 7, самописец 8, эталонный источник 9 сплошного спектра (лампочка накаливания), интерферометр Фабри-Перо 10, фотопри- емник И,

Система работает следующим образом От исследуемого источника света 1 радиация проходит над гранями разделителя 2 вдоль .оптической оси и линзами 3, проецируется на дифракционную решетку-светоделитель 4. Разложенное излучение направляется на зеркала 5 и 6, которые, в свою очередь, направляют это излучение обратно на дифракционную решетку 4, где происходит интерференция. Далее излучение попадает на одну из . граней разделителя и отражается от нее под углом 9О на фотоприемник 7. Сигнал от фотоприемника передается на самописец 8.

Одновременно излучение от эталонного источника 9 и эталон Фабри-Перс 10 попадает на другую грань разделителя и далее на дифракционную решетку 4,

Таким образом, эталонное излучение так же, как и исследуемое, проходит через .интерференционную часть прибора, затем отражается третьей гранью разделителя и направляется на фотоприемник 11 Сигнал от фотоприемника 11 также подается на самописец 8.

Жесткая конструкция в виде призм применяется при постоянных углах между калибровочными источниками исследуемыми. Система зеркал испол1 зуется в случае переменных углов между калибровочным и исследуемым источниками. Общая грань зеркал, образованная при касании их друг относительно друга, и размер, которой ограничивается технологическими фасками, должны быть минимальными.

Использование в интерферометре опи-санного разделителя дает возможность одновременной записи исследуемого спектра и спектра эталонного источника практически без потерь в шуме,

Оба излучения проходят близко друг к другу и к оптической оси прибора, что дает возможность исключить ошибки сканирования.

Формула изобретения

1,Система для калибровки спектров, содержащая плоскую дифракцио1шую решетку-светоделитель с симметричным профилем штрихов и два плоскиЗс зеркала, отличающаяся тем, что, с целью повышения точности калибровки, она дополнительно снабжена разделителем центр которого совмещен с оптической осью системы и образует два раздельных оптических канала.

2,Система по п. 1, отличаючто разделитель выполщаяся тем, в виде двух 45 -х призм, соединеннен

ных между собой с помощью оптического

контакта.

3, Система по п,

1, отличаю - щ а я с я тем, что разделитель выпол- нен из трех зеркал, из которых раз-

два 45° к оптической оси вернуты под углом

системы и их общее ребро перпендикулярно ей, а третье зеркало наклонено под углом 45 к плоскости, перпендикулярной оптической оси, причем точка пересечения всех трех зеркал совмещена с оптической осью.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Шишловский А. А. Прикладная физическая оптика. -М., ГИФМЛ, 1961,

с. 419.

2.Авторское свидетельство СССР № 172084, 6 01 J 3/18. 1965.