материалов в процессе их натружения криогенных температурах.
Изобретение поясняется чертежам, 1де на фиг, 1 приведено схематическое .расположение и соединение узлов устройства; на фиг. 2 - сечение А-А фиг. 1. Испытуемый образец 1 размещен в зажимах реверсора 2, нижние тяги которого соединены с разрывной одноосной машиной 3. Объективы 4 и 5 укреплены на турели 6, закрепленной на оси 7 вращения, соединенной гибким валиком 8 с рукояткой 9 поворота, расположенной вне вакуумной камеры 1О. На цилиндрической части оправы 11 нарезана косозубая рейка, а шестерня 12, находящаяся в корпусе 13, соединена гибким валиком 14 с рукояткой 15 наводки на резкость. Шариковая опора 16 служит для уменьшения трения между зажимами реверсора и корпусом. Между трубой 17 и корпусом установлена шариковая опора 18. Оптическая система устройства (кроме объективов 4 и 5) состоит из полупрозрачного кубика 19, зеркала 20, осветителя 21, окуляра 22, кинофотонасадки 23, Гибкие элементы 24 позволют перемещать оптическую систему в плоскости, параллельной образцу. Это перемещение осуществляется с помощью механизма 25, представляющего собой, например, передачу гайка-винт. Сосуд 2 Дьюара, в котором размещены образец и нижняя часть реверсора служит для длительного хранения криогенной жидкости При проведении низкотемпературных исследований испытуемого образца.
Устройство работает следующим образом.
Образец 1 устанавливается в зажимах реверсора 2. Криогенная жидкость заливается в сосуд 26 Дьюара, который затем крепится к фланцу вакуумной камеры 1О, соединенной с вакуумной системой. Уровень криогенной .жидкости во время эксперимента должен быть не выще образца, иначе пузырьки жидкости на поверхности образца будут препятствовать наблюден1по. При нагружении реверсора усилием испытательной машины 3 параллелограммы реверсора 2 видоизменяются и образец 1 испытывает двухосное напряжение. До нагружения объектив устанавливается по центру образца.
Первоначально используется объектив 5 с большим фокусным расстоянием, который с помошью рукоятки 15 фокусируется на образец 1. При работе реверсора
2 расстояние между образцом и объективом остается неизменным, так как корпус 13, оправа 11 и турель 6 закреплены с помощью шариковой опоры 16 в зажимах реверсора 2, Для нахождения
начала зарождения микротрещин при нагружении образца объектив с большим фокусным расстоянием перемещается механизмом 25 в плоскости, параллельной поверхности образца 1. Когда место на.чала зарождения микротрещин обнаружено, то рукояткой 9 объектив 4 с меньшим фокусным расстоянием путем поворота турели вокруг оси 7 устанавливается на интересующем месте и кинетика
трещины фиксируется на фотобумагу или кинопленку, при этом используется большая разрешающая способность данного объектива.
Устройство позволяет исследовать развитие и зарождение микротрещин в твердых материалах при криогенных температурах без постоянной фокуспюв- ки оптической системы во время движения образца и нроизводить фиксацию изменения микротрещинна кинопленку и фотобумагу.
Формула изобретения
Устройство для исследования пластических свойств твердых материалов при криогенных температурах, содержащее оптическую систему, криостат, систему нагружения образца, реверсор, о т л ичающееся тем, что, с целью повышения точности исследования за счет сохранения образца в поле зрения оптической системы при приложении к нему механических усилий, оптическая система посредством оправы корпуса соединена с зажимами реверсора. jИсточники информации, принятые во
внимание при экспертизе
1,Авторское свидетельство СССР № 243227, кл. Q 01 N 3/О2, 1968.
2.Авторское свидетельство СССР 5 s 159О52, кл. Q О1 N 3/02, 1962.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ исследования быстроразвивающихся микродефектов в твердых телах при низких температурах | 1977 |
|
SU653549A1 |
КИНОПРОЕКТОР С НЕПРЕРЫВНОЙ ПОДАЧЕЙ КИНОПЛЕНКИ И ОПТИЧЕСКИМ ВЫРАВНИВАНИЕМ | 1930 |
|
SU38422A1 |
Криостат для рентгенографии кристаллов в магнитном поле | 1984 |
|
SU1217079A1 |
ОПТИЧЕСКИЙ ПРИЦЕЛ | 2014 |
|
RU2568955C1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА ЛЮМИНЕСЦИРУЮЩИХ БИОЛОГИЧЕСКИХ МИКРОЧИПОВ | 2010 |
|
RU2510959C2 |
Устройство для наблюдения динамики развития микротрещин в шлифах образцов металлических сплавов | 1985 |
|
SU1310632A1 |
КРИОСТАТ | 2000 |
|
RU2198356C2 |
Высотомер | 1990 |
|
SU1760314A1 |
Криостат для проведения физических экспериментов | 2023 |
|
RU2820222C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ЗАРОЖДЕНИЯ И СКОРОСТИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ ТРЕЩИН В ЛИСТОВОММЕТАЛЛЕ | 1972 |
|
SU333395A1 |
К Clientele faKi/gMHOu om/fffvxi
Фиг 2
Авторы
Даты
1979-09-05—Публикация
1974-08-09—Подача