Изобретение относится к физике твердого тела и может быть испапьзо. вано для исследования физико-механических характеристик твердых тел в интервале низких температур. Известен способ исследования быстроразвивающихся дефектов (например, механических двойников или полос скольжения), заключающийся в установке полированного образца перед объективом скоростной кинокамеры, освещения и нагружения образца и последующей кинорегистрации процесса зарождения и роста дефекта в нем 1. Однако этот способ не позволяет регистрировать рост дефектов в области низких температур. Наиболее близким по техническому рииению к предлагаемому является спо соб исследования быстроразвивающихся дефектов в твердых телах при низких температурах, заключающийся в помещении полированного образца в оптический дьюар (вакуумный сосуд со светопрозрачными окнами), установке образца- в дьюаре перед объективом кинокамеры, охлаждении, освещении, нагружении его и последукяцей кинорегистрации 2 . Недостатком способа явл|1ются необходимость использования дорогостоящего и сложного вакуумного оборудования, техническая трудность, а в ряде случаев и невозможность проведения экспериментов при динамических видах нагружения (например, электрогидроудар, соударение тел и др.), невозможность проведения микроскопических киносъемок при больших увеличениях вследствие наличия дополнительных объектов между образцом и объективом кинокамеры (двойное стекло дьюара, охлаждающая жидкость). Целью изобретения является упрощение методики исследования. Для этого образец охлаждают протекающим слоем прозрачного хладагента в атмосфере окружающей среды, а исследуемую поверхность образца непосредственно перед киносъемкой обдувают потоком сжатого воздуха-. Сущность способа поясняется чертежом. Образец I полированной поверхностью устанавливают перед объективом кинокамеры 2 и охлаждают с обеих сторон слоем 3 протекающей прозрачной жидкости, (например, жидким азотом, охлажденным спиртом и др.). За нес
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
^^СЛЮОЮЗНАЯ I | 1973 |
|
SU368533A1 |
Устройство для одновременного микроскопического и термического анализа металлов и их сплавов | 1933 |
|
SU42729A1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОТНОСТИ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ РАСПЛАВОВ | 2012 |
|
RU2517770C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ЩЕЛОЧНЫХ И КИСЛОТНЫХ СРЕД В ТВЕРДЫХ ТЕЛАХ И ЭЛЕКТРОИЗОЛЯЦИОННЫХ МАТЕРИАЛАХ | 2006 |
|
RU2329494C2 |
Способ криостатирования образца и устройство для его осуществления | 1982 |
|
SU1064089A1 |
Устройство для исследования пластических свойств твердых материалов при криогенных температурах | 1974 |
|
SU684390A1 |
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО НАТЯЖЕНИЯ И/ИЛИ ПЛОТНОСТИ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ РАСПЛАВОВ | 2014 |
|
RU2561313C1 |
СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ТВЕРДЫХ ПРОЗРАЧНЫХ ПЛАСТИН СО СВЕТОИЗЛУЧАЮЩИМИ ИЛИ МИКРОЭЛЕКТРОННЫМИ СТРУКТУРАМИ | 2003 |
|
RU2254299C1 |
Устройство для измерения теплопроводности отвердевших жидкостей и газов | 1980 |
|
SU976360A1 |
АМОРФНЫЙ ЛЕНТОЧНЫЙ ПРИПОЙ НА ОСНОВЕ МЕДИ | 2011 |
|
RU2464143C1 |
Авторы
Даты
1979-03-25—Публикация
1977-04-22—Подача