Эталон для определения чувствительности систем радиоационного контроля Советский патент 1981 года по МПК G01N23/18 

вокруг общей оси 2. При этом расположеиие дефектов 3, 4 и 5 друг относительно друга приобретает случайный характер. Дефекты определяют по снимку как относительное число обнаруженных дефектов. При последующем просвечивании пластины 1 вновь устанавливаются в произвольном положении друг относительно друга путем поворота на различные углы вокруг оси 2 (вращения. При этом реализуется новый вариант случайного распределения эталонных дефектов, но их общее число постоянно.

Формула изобретения

Эталон для определения чувствительности систем радиационного контроля, содержащий пластину с набором случайно расположенных эталонных дефектов, отличающийся тем, что, с целью расщирения функциональных возможностей, он снабжен дополнительными пластинами с разным набором случайно расположенных дефектов, установленными параллельно друг другу с возможностью вращения вокруг общей оси.

Источники информации,

принятые во внимание при экспертизе:

1.Румянцев С. В. Радиационная дефектоскопия. М., Атомиздат, 1974, с. 164.

2.Там же, с. 169 (прототип).