Способ определения глубины залегания дефектов в телах вращения Советский патент 1991 года по МПК G01N23/18 

Изпбретение относится к радиацион ной дефектоскопии, а именно к радиографическому методу контроля и может быть использовано для определения глу:бины залегания дефектов в трубах, стержневых изделиях, отливках цилиндрической формы и т.д.

Известен способ определения глубины дефектов с помощью эталонов.

При этом необходимо использовать набор эталонов разной толщины.

Наиболее близким техническим решением является способ определения глубины залегания дефектов, заключающийся в просвечивании изделия потоком проникающего излучения и регистрации теневого изображения на неподвижную пленку.

в этом случае глубина залегания определяется из следующего соотношения:

.ZlS.

- с.

X b+a

где а - величина смещения изображения дефекта; Ъ - величина смещения источника излучения; С - расстояние, от изделия до детектора; F - расстояние от источника излучения до детектора. Недостатком этого метода является большой объем вспомогательных операций, включающий в себя два просвечивания со смещением источника излучения, измерение величин, входящих в формулу, и расчет по этой формуле. Кроме того этот метод приводит к увеличению расхода радиографической пленки. Цель изобретения,- экономия радио графической пленки и упрощение обработки результатов. Поставленная цель достигается тем что изделие в течение экспозиции поворачивают вокруг собственной оси на 360. В результате вращения изделия дефекты перемещаются относительно ра диографической пленки, вследствие чего их изображения на снимке принимают вид полос. В этом случае глубина залегания дефектов соответству т расстоянию от границы изображения изделия до границь вышеописанной полосы. Изображения дефектов, расположенных в одной плоскости, перпендикуляр ной оси вращения изделия, будут пред ставлять собой наложение полос, отличающихся друг от друга оптической плотностью. В этом случае глубиной залегания является расстояние от границы изображения изделия до грани изменения оптической плотности. На фиг. 1 изображена схема образ.оI вания изображения дефектов ; на фиг. 2 схема образования изображения дефекто лежащих в одной плоскости, перпендикулярной оси вращения изделия. Для определения глубины залегания дефектоЕ при просвечивании изделие 1 поворачивают ,вокруг собственной оси с помощью электромеханического привода на 360°. Зону просвечивания, шириной равнй радиусу изделий и заключенную между двумя параллельными плоскостями, про ходящими через образуюи1ую изделия 1 и ось его вращения, ограничивают или коллимацией излучения, или щириной радиографической пленки 2. Во время поворота изделия 1 дефекты 3 перемещаются относительно неподвижной радиографической пленки 2 и на снимке приобретают вид полос 4. Измеряя на радиографическом снимке расстояние L от .границы изображения изделия до изображения дефектов в виде полос 4, определяют глубину залегания дефектов. Если дефекты 3 расположены в одной плоскости перпендикулярной оси вращения изделия 1, то их изображения накладываются друг на друга и приобретают вид полосы 5 с изменяющейся оптической плотностью. В этом случае глубину залегания дефектов определяют измерением расстояния L от границы изображения изделия до границ изменения оптической плотности 6 полосы. В случае определения глубины залегания дефектов в изделиях, представляющих собой полые тела вращения, размер снимка можно сократить до толщины стенки изделия, что приведет к сокращению расхода радиографической пленки во столько раз, во сколько диаметризделия больше толщины его стенки. Способ сокращает объем вспомогательных операций, таких как перемещение источника излучения, замена радиографической пленки, измерение величин, входящих в формулу для определения глубины залегания дефектов, расчет по этой формуле, и сводится лишь к измерению непосредственно глубины залегания дефекта на радиографическом снимке.