Способ определения кривизны поверхности раздела сред Советский патент 1979 года по МПК G01N13/00 

1

Изобретение относится к способам определения кривизны поверхности раздела сред и может быть использовано, например при определении поверхностного натяжения жидкостей,

Известен способ определения кривизны поверхности раздела сред путем проецирования границы раздела на экран и измерения параметров проекции

tl.

Однако этот способ трудоемок и

длителен.

Известен также способ- определения кривизны поверхности раздела сред путем облучения этой поверхности световым пучком и регистрации направления распространения отраженного пучка 2.

Однако этот способ обладает; недостаточной точностью вследствие трудности точного измерения угла между падающим и отраженным пучками света.

Целью изобретения является повышение точности.

Цель достигается тем, что по способу определения кривизны поверхности раздела сред путем облучения этой поверхности световым пучком и регистрации направления распространения отраженного пучка осуществляют сканиромание световым пучком вдоль исследуемой поверхности и определяют время, в. течение которого пятно, сформированное отраженным пучком, проходит

заданное расстояние.

На чертеже изображена принцигшальная схема устройства для реализации описываемого способа.

Устройство содержит источник 1

света,призму 2,кювету 3 с исследуемой жидкостью 4,имеющей 5 раздела сред.Призма 2 закреплена на подвижном держателе б, который перемещается между двумя направляющими

7 в горизонтaльнcяv направлении с помощью синхронного двигателя 8 и приводного вала 9. Устройство содержит также фотоэлектронные преобразователи 10 и 11, которые соединены через

электронное устройство 12 с электрическим измерителем 13 времени.

Устройство работает следующим образом.

Горизонтальный луч света от источник.а 1 света отражается призмой 2 к измеряемой граничной поверхности 5. Отраженный от граничной поверхности 5 световой луч при соответстэующем положении призмы 2 попадает

на фотоэлектронные преобразователи