Изобретение относится к рентгеновским Ш1терферометрам. Известен рентгеновский интерферометр на эффекте Бормана, содержащий два параллельных толстых монокристалла и отражающий монокристапл (1. Наиболее близким техническим решением к из ретению является рентгеновский интерферометр содержащий три толстых монокристалла равно толщины, расположенные один за другим на равных расстояниях 2. Недостатком таких интерферометров, действующих на зффекте Бормана, является невы сокая информативность получаемых муаровых картин, поскольку при аномальном прохождении пучок сосредотачивается в весьма узкой области кристалла. При использовании тонких (по Лауэ) кристаллов, допускающих нормальное прохождение рентгеновского излучения, интерферометры обладают невысоким разрещением. Цель изобретения заключается в том, чтобы 1ювр,1сить информативность получаемых муаровых картин. Эта цель достигается тем, что в рентгеновский интерферометр, содержащий систему параллельных монокристаллов, введена интерференционная подсистема из тонких (по Лауэ) монокристаллов, за которой по ходу пучка установлен в отражающее положение на прохождение соверщенный монокристалл, толщина которого выбрана из условия нормального прохох дения рентгеновского излучения. На фиг. 1 и 2 показаны схемы интерферометров с различны.ми интерферен1даонными подсистемами соответственгго двухкристальная и трехкристальная системы, с помощью которых получают муаровые картш ы. Узкий пучок рентгеновских лучей, проходя через коллиматор с диаграммой, падает на двухблочную систему из кристаллов 1 и 2. Дифрагированный пучок падает на идеальный толстый кристалл 3, находящийся в положении отражения, а проходящий пучок задерживает ся экраном 4. Дифрагированный пуок, содержащий муаровые картины, проходит через кристалл 3 который, не меняя характера муара, увеличивает эту муаровую картину.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ рентгеновской топографии кристаллов | 1987 |
|
SU1562804A1 |
Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты) | 1983 |
|
SU1133520A1 |
Рентгеноинтерферометрический способ определения искажений атомной решетки монокристалла | 1983 |
|
SU1117503A1 |
Способ исследования структурного совершенства монокристаллов | 1980 |
|
SU957077A1 |
Способ дифракционной микрорентгенографии | 1978 |
|
SU720349A1 |
Рентгеноинтерферометрический способ исследования дилатационных несовершенств монокристаллов | 1989 |
|
SU1679313A1 |
СПОСОБ ФАЗОВОЙ РЕНТГЕНОГРАФИИ ОБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) | 1997 |
|
RU2115943C1 |
Рентгеноинтерферометрический способ исследования кристаллов | 1988 |
|
SU1673933A1 |
Способ определения однородности изгиба по высоте монокристаллических пластин | 1980 |
|
SU935758A1 |
Способ дифракционной микрорентгено-гРАфии МОНОКРиСТАллОВ | 1978 |
|
SU817552A2 |
Авторы
Даты
1980-03-05—Публикация
1978-06-22—Подача