Рентгеновский интерферометр Советский патент 1980 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU720350A1

Изобретение относится к рентгеновским Ш1терферометрам. Известен рентгеновский интерферометр на эффекте Бормана, содержащий два параллельных толстых монокристалла и отражающий монокристапл (1. Наиболее близким техническим решением к из ретению является рентгеновский интерферометр содержащий три толстых монокристалла равно толщины, расположенные один за другим на равных расстояниях 2. Недостатком таких интерферометров, действующих на зффекте Бормана, является невы сокая информативность получаемых муаровых картин, поскольку при аномальном прохождении пучок сосредотачивается в весьма узкой области кристалла. При использовании тонких (по Лауэ) кристаллов, допускающих нормальное прохождение рентгеновского излучения, интерферометры обладают невысоким разрещением. Цель изобретения заключается в том, чтобы 1ювр,1сить информативность получаемых муаровых картин. Эта цель достигается тем, что в рентгеновский интерферометр, содержащий систему параллельных монокристаллов, введена интерференционная подсистема из тонких (по Лауэ) монокристаллов, за которой по ходу пучка установлен в отражающее положение на прохождение соверщенный монокристалл, толщина которого выбрана из условия нормального прохох дения рентгеновского излучения. На фиг. 1 и 2 показаны схемы интерферометров с различны.ми интерферен1даонными подсистемами соответственгго двухкристальная и трехкристальная системы, с помощью которых получают муаровые картш ы. Узкий пучок рентгеновских лучей, проходя через коллиматор с диаграммой, падает на двухблочную систему из кристаллов 1 и 2. Дифрагированный пучок падает на идеальный толстый кристалл 3, находящийся в положении отражения, а проходящий пучок задерживает ся экраном 4. Дифрагированный пуок, содержащий муаровые картины, проходит через кристалл 3 который, не меняя характера муара, увеличивает эту муаровую картину.

Похожие патенты SU720350A1

название год авторы номер документа
Способ рентгеновской топографии кристаллов 1987
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Мартиросян Аида Айказовна
  • Асланян Вардан Григорьевич
  • Симонян Кнарик Мнацакановна
SU1562804A1
Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты) 1983
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Заргарян Ерджаник Григорьевич
  • Асланян Вардан Григорьевич
SU1133520A1
Рентгеноинтерферометрический способ определения искажений атомной решетки монокристалла 1983
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Асланян Вардан Григорьевич
SU1117503A1
Способ исследования структурного совершенства монокристаллов 1980
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Кочарян Армен Карленович
SU957077A1
Способ дифракционной микрорентгенографии 1978
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Дрмеян Генрик Рубенович
  • Эйрамджян Фердинанд Оганесович
SU720349A1
Рентгеноинтерферометрический способ исследования дилатационных несовершенств монокристаллов 1989
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Безирганян Сирануш Еноковна
  • Абоян Арсен Оганесович
  • Хзарджян Андраник Александрович
SU1679313A1
СПОСОБ ФАЗОВОЙ РЕНТГЕНОГРАФИИ ОБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 1997
  • Ингал Виктор Натанович
  • Беляевская Елена Анатольевна
  • Бушуев Владимир Алексеевич
RU2115943C1
Рентгеноинтерферометрический способ исследования кристаллов 1988
  • Абоян Арсен Оганесович
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Хзарджян Андраник Александрович
SU1673933A1
Способ определения однородности изгиба по высоте монокристаллических пластин 1980
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Папоян Аргам Аристакесович
SU935758A1
Способ дифракционной микрорентгено-гРАфии МОНОКРиСТАллОВ 1978
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Дрмеян Генрик Рубенович
SU817552A2

Иллюстрации к изобретению SU 720 350 A1

Реферат патента 1980 года Рентгеновский интерферометр

Формула изобретения SU 720 350 A1

SU 720 350 A1

Авторы

Безирганян Петрос Акопович

Дрмеян Генрик Рубенович

Эйрамджян Фердинанд Оганесович

Даты

1980-03-05Публикация

1978-06-22Подача