Прибор для рентгеноструктурного анализа, например, для определения постоянной атомной решетки Советский патент 1948 года по МПК G01N23/203 H01J35/08 

Описание патента на изобретение SU72939A1

Известны приборы для рентгеноструктурного анализа методом обратных лучей.

Предлагаемый прибор отличается ст извес-тиых тем, что индикатор или фотопленка для регистрации интерферерционных лучей расположены Б центре кольцевого источника излучения рентгеновских лучей на фокусирующей сфере, на которой расположены 1 сточник излучения и исследуемый образец. Это повышает точность определений.

рентгеновских лучей, излзчаекый, кольцевой конусной поверхностью, проходит через кольцевой ограничитель и падает на образец. Интерференционные лучи, отраженные атомными плоскостями образца, представляют собой конус, вершина которого образует точку на пленке, расположенной внутри кольцевого анода.

Если вместо пленки в точке схода лучей поместить свинцовый экран с небольшим отверстием в центре, за которым расположить ионизационную камеру или какой-нибудь другой электрический индикатор рентгеновской энергии, то при изменении периода атсмной решетки интенсивность лучей, попадаюш,их в камеру, будет меняться. Наблюдая за изменением показаний электроизмерительного прибора и меняя расстояние от образца до пленки, можно по максимальному току гальванометра найти положение вершины интерференционного конуса.

В одном из возможных вариантов прибора катод заземлен, а анод представляет собой кольцо, внутренняя конусная поверхность которого является источником рентгеновских лучей. Корпус катода представляет собой полый сосуд, выполненный из феррохрома, и. заключает в себе разрядное пространство прибора.

№ 72939

Желудеобразные окна, служащие для выхода лучей, сделаны из стекла Линдемана или Гетман. Диафрагма предусмотрена для ирименения с электрическим индикатором ретгеиовских лучей.

Предмет изобретения

1.Прибор для рентгеноструктурного анализа, например для определения иостоянной атомной решегки, методом обратных лучей, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определений, индикатор или фотопленка для регистрации интерференционных лучей расположены в центре кольцевого источника излучения рентгеновских лучей на фокусирующей сфере, на ко горой расположены источник излучения и исследуемый образец.

2.Прибор по п. 1, отличающийся тем, что служащий кольцевым источником излучения рентгеновских лучей анод выполиен в виде усеченного конуса с наружной боковой поверхностью, являющейся рабочей частью анода, и снабжен в середине выемкой для помещения индикатора или фотопленки для регистрации интерференционных лучей.

3. Прибор по н. 1, отличающийся тем, что анод трубки выполнен в Биде кольца, внутренняя поверхность которого является рабочей частью акода.

Похожие патенты SU72939A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА 1973
  • В. А. Лифшиц
SU373605A1
Установка для скоростного рентгено-структурного анализа 1939
  • Альтшулер Л.В.
SU71253A1
Рентгеновская ионная трубка, например, для структурного анализа 1939
  • Цукерман В.А.
SU57330A1
ДЕТЕКТОР РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 1997
  • Лютцау А.В.
  • Брейгин В.Д.
  • Котелкин А.В.
  • Звонков А.Д.
  • Матвеев Д.Б.
  • Маклашевский В.Я.
RU2120620C1
Устройство для высокоскоростного рентгеноструктурного анализа 1978
  • Бурдин Владимир Викторович
  • Свинаков Василий Максимович
  • Карпов Роман Романович
  • Скворчук Василий Пахомович
SU763750A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ 1996
  • Дмитрук М.И.
  • Семашко Н.Н.
RU2115901C1
Переносный рентгеновский аппарат для получения коротких вспышек рентгеновского излучения 1959
  • Зеленский К.Ф.
  • Цукерман В.А.
SU126962A1
УСКОРИТЕЛЬНАЯ ТРУБКА 2012
  • Столбиков Михаил Юрьевич
  • Василенко Алексей Михайлович
  • Базаров Павел Сергеевич
RU2522987C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАЛИЧИЯ УПРУГИХ ДЕФОРМАЦИЙ В МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛАСТИНАХ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2003
  • Кумахов М.А.
  • Ибраимов Н.С.
  • Лютцау А.В.
  • Никитина С.В.
  • Котелкин А.В.
  • Звонков А.Д.
RU2239178C1
СПОСОБ АТОМНО-АБСОРБЦИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ВЕЩЕСТВА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1998
  • Корепанов В.И.
  • Лисицын В.М.
  • Олешко В.И.
RU2157988C2

Реферат патента 1948 года Прибор для рентгеноструктурного анализа, например, для определения постоянной атомной решетки

Формула изобретения SU 72 939 A1

SU 72 939 A1

Авторы

Альтшуллер Л.В.

Цукерман В.А.

Даты

1948-01-01Публикация

1941-02-03Подача