СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА Советский патент 1973 года по МПК G01N23/00 

Изобретение относится к способам анализа веществ и, в частности, к рентгеноструктурному анализу поликристаллов.

Известен способ рентгеноструктурного анализа поликристаллов, в котором индикатор для регистрации рентгеновских лучей помещен в центре кольцевого источника рентгеновских лучей па фокусирующей сфере, па которой расположены источник излучения и исследуемый образец. Но в случае фотографической регистрации рефлекс сильно размыт, так как он является пересечением с плоскостью фотоплевки боковых поверхностей круговых конусов дифракции, осями которых служат лучи, идущие из каждой точки кольцевого источника Hia образец. Это затрудняет количественные измерения при исследовапии образца при фотографической регистрации. С использованием кольцевого источника при фокусирующей обратной съемке вообще не существует поверхности, точно фокусирующей дифрагированные лучи, поскольку каждая из точек кольцевого источника имеет свою фокусирующую поверхность (поверхность тора). Расходимость рентгеновских лучей определяется кольцевым ограничителем, а диафрагма индикатора неподвижна, что делает невозможной съемку iB сколько-нибудь значительном интервале углов в, т. к. удаление образца от источника меняет рациус фокусирующей сферы.

Целью настоящего изобретения является

усоверщенствование способа рентгеноструктурнюго анализа с применением кольцевого источника монохроматических рентгеновских

лучей, которое позволило бы проводить съемку в щироком диапазоне углов в с записью дифракционных максимумов на движущейся фотопленке или с помощью счетчика рентгеновского излучения.

В предлагаемом способе эта цель достигается тем, что первичный пучок рентгеновских лучей, идущих от кольца источника, является расходящимся, образец перемещают вдоль прямой, перпендикзлярной плоскости, в

которой лежит кольцо источпика, и проходящей через середину кольца, и регистрирует интенсивность рентгеновских лучей, дифрагмировапных вдоль этой прямой, причем размеры участка образца, от которого измеряется дифракция, определяются диафрагмами регистрирующего устройства.

Способ поясняется чертежом, где показано расположение источника рентгеновских лучей, образца и регистрирующих устройств диафрагмами.

Вокруг луча, идущего из какой-либо точки кольца источника 1, имеющего радиус R, на образец 2, возникает конус дифракции 3. Если 0 один из углов, удовлетворяющих

уравнению Вульфа-Брэггов для данного вещества и излучения анода, то при расстоянии от образца до плоскости кольца источника, равном такому L, что tg(u-2e):. все KOHjCbi дифрагированных лучей имеют общую образующую - прямую, на которой находятся образец, центр кольца источника и регистрирующее устройство 4. Все рефлексы, которые при съемке по методу Дебая-Шеррера образуют конус отраженных лучей, регистрируются одновременно, что позволяет уменьщить требования к мелкозернистости вещества. Для съемки в области передних углов следует перемещать образец между кольцом источника и регистрирующим устройством 5, при этом углы 8 будут определяться по формуле29 А (запись может производиться сразу двумя устройствами 4 и 5). Интенсивность дифрагированных лучей записывается как функция расстояния L, углы дифракции Э определяются по выщеприведенным формулам. Участок образца, отражения от которого регистрируются, определяется геометрией диафрагм 6. Описанный способ рентгеноструктурного анализа может найти применение для экспрессной съемки поликристаллов в случае, когда имеется малое количество вещества или необходимо получить рентгенограмму от малого участка образца, например при исследоваиии включений малых разменов, при определении микронапряжений по методу обратной съемки. Предмет изобретения Способ рентгеноструктурного анализа, заключающийся в измерении углов дифракции при облучении образца пучком монохроматических рентгеновских лучей кольцевого источника, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности анализа, образец перемещают вдоль прямой, перпендикулярной окружности источника и проходящей через его середину, и регистрируют интенсивность рентгеновских лучей, дифрагированных вдоль этой прямой.