Способ измерения радиуса кривизны цилиндрической поверхности Советский патент 1980 года по МПК G01B11/255 

Изобретение относится к способам измерения радиусов кривизны поверхностей, в частности цилиндрических поверхностей.

Известен способ исследования кривизны поверхности, заключающийся в том, что используют экран с линейным растром, освещают его и проецируют линейный растр на иссле- . дуемую поверхность 1

Недостатком данного способа являются невысокая точность и значительная трудоемкость измерений.

Известен также способ определения радиуса кривизны поверхности, заключающийся в том, что перед полированной контролируемой поверхностью на некотором расстоянии от нее устанавливают непрозрачный объект с известными параметрами, освещают его световым пучком, проецируют объект на контролируемую поверхность и по величине его изображения, полученного от контролируемой поверхности, судят о ее радиусе кривизны 2,

Недостатком этого способа является длительность процесса измерения.

Для повышения :экспресснооти в известном способу измерения радиуса кривизны цилиндрической поверхности путем освещения ее с последующей регистрацией отраженных лучей на исследуемой поверхности параллельно ее образующим располагают щель, на пути отраженных лучей располагают экран и по величине изображенной

10 на экране освещенной зоны поверхности определяют ее кривизну с использованием соотношения:

15

R

2ёт(.igС.- ширина изображенной на

где

экране освешенной зоны по20верхности;

L S

ширина щели; расстояние от плоскости щели до экрана;

R радиус кривизны цилиндри25ческой поверхности Изобретение поясняется чертежом, на котором дана схема устройства для измерения радиуса кривизны ппверхности по предлагаемому способу.

30