Способ измерения величины отвержденного слоя полимера и устройство для осуществления способа Советский патент 1980 года по МПК G01B5/04 

го или силикатного стекла, жесткую верхнюю подложку 2, выполненную из алюмпппя или нержавеющей стали, гнбкую верхнюю подложку 3, например, фольгировапную полиэтиленовую плепку, раеиоложенную непосредственно под верхней жесткой подложкой, ограпичители 4 зазора и непосредственно отверждаемый полимер 5. Ма приспособлении для измерения нагружающий узел выиолнен в виде щарикового паконечпика 6 и пружппы 7.

Способ измерения величины отвержденпого слоя полимера заключается в следующем.

Каплю полимера наносят на нижнюю подложку 1, после чего накрывают верхней гибкой подлолчкой 3 и верхней жест кой подложкой 2. Необходимую величину зазора устанавливают с помощью ограничителей 4. Образец с полимером выдерживают заданное время, в течение которого последний отверждается со стороны открытой периферийной новерхностн влагой воздуха. По истечении заданного времени, например, одних суток, жесткую верхнюю нодложку 2 снимают и устанавливают образец на нрисиособление (см. фиг. 2), где нагружают его со стороны верхней гибкой иодложки 3 шариковым наконечником 6, установив последний вблизи периферии образца. Усилие пружины 7 недостаточно для разрушения отвержденного полимера и образец не деформируется. Затем перемещают шариковый наконечник от периферии к н,ентру. Как только он окажется над неотвержденной частью полимера, верхняя гибкая подложка будет деформирована до контакта с нижней нодложкой, нрн дальнейшем перемещении шарикового накопечпика материал верхней гибкой подложки оставит след на жесткой нижней. Затем образец наблюдают со сто роны и)озрачной нижней подложки (см. фнс. 3) и измеряют вдоль траекто|)ии 8 HiapiiKOBoro наконечника расстояине от периферии образца до начала следа 9, которое принимают за величину / отвержденного слоя.

После проведения цикла нзмеренай может бьггь наложена верхняя жесткая подложка и от 1ерждеппе полимера продолжено. После истечения второго времеиного срока (например, после трех суток) никл измерения может быть повторен па том же образце, что позволяет выполнять изучение изменения во времени величины отвержденного слоя полимера на одном образце без разрушения последнего.

Формула изобретения

1.Способ измерения величины отвержденного слоя полимера с помон1.ью устройства (образца), содержащего две подложки- верхнюю и нижнюю, заключающийся в том, что между упомянутыми нодложкамн )азмещают полимер, отверждают последний в течение заданного времени со стоРОНЫ открытой периферийной новерхности, после чего из.меряют величину отвержденного слоя, отлнчающпйся тем, что, с целью сокращения затрат на измерения и увеличения производительности последних,

на верхнюю подложку воздействуют шариковым наконечником, нагружают носледний усилием, достаточным для нродавливания неотвержденной части нолимера п оставления следа на нижней подложке,

перемещают шариковый наконечник радиально от периферии к центру, после чего измеряют расстояние от нериферни до начала следа, которое принимают за величину отвержденного слоя.

2. Устройство для осуществления способа но п. 1, отличающееся тем, что опо снабжено дополнительной гибкой подложкой, расноложенной нод верхней жесткой, а ннжняя вынолнена из нрозрачноIo )нала.

Источники ннформанпи, принятые во вннманис нрн экспертизе

1. Лвто)ское свидетельство СССР Л9 429255, кл. G 01 В 5/0(х 1973.

2.Выбор матс 1иала и разработка способа гермет1 зацпн корпусов нерепосных приборов. Отчет снециализпрованпой органнзяции. М., 1976 (протот ш).

5J

Фиг. 3