Профилометр для исследования микрогеометрии поверхностей Советский патент 1949 года по МПК G01B9/08 G01B11/30 

Предметом изобретения является профилометр для исследования Микрогеометрии пов-ерхностей и ipeжущих лезВИЙ инструментов.

В описываемом изобретении отличительной особенностью: является то, что для возможности перемещения щупа вдоль узких поверхностей и лезвий одналезвИЙных и многолезвийных режущих инструментов измерительная головка со щупом установлена на подв1ижных направляющих пластинках, располагаемых вдоль исследуемой поверхности и прикрепленных к неподвижному основаеию прибора.

На фиг. ,1 изображен профилометр для исследования микрогеометрии узких поверхностей, на фиг. 2-измерение узкой по:верхноСТ1И при помощи лопатки; на фиг. 3- микрогеометрия режущих лезвий при ПОМОЩ1И иглы; «а фиг. 4-измерение при: помощи шаровых опорных ножек без применения регулируемых подвижных пластинок.

Измерение осуществляется сте. дующ:им образов.

1. С п р и м е н е н и е W регулируемых подвижных пластинок. Зажатый в шаровых тисках режущий инстру.чент устанавливается таыим образом (фиг- 1),. что одна из измеряемых поверхноС1тей или режущее лезвие раслолагается между двумя подвижными и регулируемыми пласти1кка ми 7, по которым двигаются опорные«ожки: измерительной головки 3 со щуПОМ 4 ИЛИ 5.

2. С применением ш аров ы X ножек. Вставленные в измерительную головку опорные ножки перед измерением предваритаиьно устанавливаются на необходимый угол заострения измеряемого инструмента. Измеряемый инструмент устанавливается таким образом, чтобы вертикальная плоскость делила угол заострения пополам (фиг. 4), т. е. а а,.

Применение конструкции опорных ножек с шаровой поверхностью не нагружает непосредственно режущее лезвие инструмента, так как ве; датчика воспринимается шаровыми поверхностями 6 опорных ножек 2 и передается на нерабочую поверхность инструмента.

Предмет изобретения 1. Профилометр для исследования микрогеометрии поверхностей, снабженный ощупывающим органом,

П1