Дефектоскоп Советский патент 1949 года по МПК G01N27/90 

Описание патента на изобретение SU81651A1

Известен дефектоскоп для обнаружения дефектов сварных швов труб, состоящий из первичной обмотки иитаиия и вторичных, включен1:ых дифференциально. Недостатком известной конструкции является низкая точность данных о качестве сварного шва. Предлагается дефектоскоп, который отличается от известиото тем, что з нем применены дополнительные обмотки питания и две обмотки, являюндиеся первичными по отношению к обмоткам, включенным дифференциально, образуя катушки-искатели дефектов сварных швов.

На чертеже изображена принципиальная схема дефектоскопа.

Схема устройства выполнена из катушки намагничивания 7, иитасмой переменным током, дополнительной обмотки 2, служаш,ей для питания первичных обмоток искателей 3-3. Вторичные обмотки 4-i служат для повышения напряжения н включены днфференцнально через селеновый выпрямитель к гальванометру 5.

Катушки имеют сердечники из трансформаторной стали, на которые, с небольшими воздушными зазорами, надеваются стальные наконечники, прижимаемые при помош,и специальных пружин к поверхности сварного стыка. Наконечники из твердой стали необходимы для предупреждения их от быстрого износа в процессе испытапия деталей с шероховатой поверхностью и повышения чуветвительности аппарата.

Испытания производятся при поворачиваиии дефектоскопа на 380°. В случае отсутствия дефекта испытуемой детали гальванометр никаких отклонений не дает. В этом случае направление магнитных потоков сердечника катушек, прилегающих своими коицами к контролируемому стыку, одинаково.

В случае попадания одной из катушек в зону дефекта - компенсация магнитных потоков резко нарушается, что фиксируется гальванометром 5, величина показания которого прямо пропорциональна величине потока рассеивания в зоне дефекта и является постоянной, пока .катушки находятся в зоне дефекта.

№ 81651

Предмет изобретения

Дефектоскоп для обнаружения дефектов сварных швов труб, состояндий из первичной обмотки питания и вторичных, включенных дифференциально, отличающийся тем, что, с целью улучшения данных в качестве сварного шва, применены дополнительные обмотки питания и две обмотки-, являющиеся первичными по отношению к обмоткам, включенным дифференциально, образуя катущки-искатели дефектов сварных стыковых швов.

2

Похожие патенты SU81651A1

название год авторы номер документа
Устройство для обнаружения дефектов в изделиях из магнитного материала 1939
  • Тихий А.К.
SU58998A1
Устройство для дефектоскопия 1939
  • Тихий А.К.
SU58092A1
СПОСОБ КОМПЛЕКСНОЙ ДИАГНОСТИКИ СВАРНЫХ ШВОВ РЕЛЬСОВ БЕССТЫКОВОГО ПУТИ И ПРИБОР ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2020
  • Фадеев Валерий Сергеевич
  • Конаков Александр Викторович
  • Штанов Олег Викторович
  • Паладин Николай Михайлович
RU2742599C1
СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2016
  • Стеблев Юрий Иванович
  • Сусарев Сергей Васильевич
  • Губанов Николай Геннадьевич
RU2656112C1
Дефектоскоп 1989
  • Муринский Виктор Петрович
SU1805374A1
Дефектоскоп для сварных швов 2015
  • Дмитриев Сергей Федорович
  • Ишков Алексей Владимирович
  • Маликов Владимир Николаевич
  • Катасонов Александр Олегович
RU2639592C2
УСТРОЙСТВО для НАМАГНИЧИВАНИЯ СВАРНЫХ ШВОВ К МАГНИТОГРАФИЧЕСКОМУ ДЕФЕКТОСКОПУ 1967
SU204655A1
Способ изготовления фланцевой вставки для проверки работоспособности внутритрубных инспекционных приборов на испытательном трубопроводном полигоне 2016
  • Дегтев Валерий Порфирьевич
  • Кулешов Андрей Владимирович
  • Крюков Алексей Анатольевич
RU2625985C1
Способ и устройство для электромагнитного исследования дефектов в металлах 1934
  • Назаров С.Т.
  • Хренов К.К.
SU44375A1
ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ ДАТЧИК, СИСТЕМА КОНТРОЛЯ И СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ НОРМЫ В ЭЛЕКТРОПРОВОДНЫХ МАТЕРИАЛАХ 2013
  • Цек Младен
  • Улиг Роберт П.
  • Циолковски Марек
  • Брауэр Хартмут
RU2606695C2

Иллюстрации к изобретению SU 81 651 A1

Реферат патента 1949 года Дефектоскоп

Формула изобретения SU 81 651 A1

f j

SU 81 651 A1

Авторы

Тихий А.К.

Даты

1949-01-01Публикация

1948-07-12Подача