Способ контроля качества поверхностижЕлОбА КОлЕц пОдшипНиКОВ КАчЕНия Советский патент 1981 года по МПК G01B21/20 

Цель изобретения - повышение производительности контроля.

Поставленная цель достигается благодаря тому, что в качестве измерительного щупа выбирают тело качения подшипника, приводят измерительный шуп в возвратноколебательное движение вдоль профиля желоба, регистрируют импульсы соударения измерительного ш,упа при его движении, считают число импульсов за каждый полупериод колебаний и число импульсов за период полного затухания колебаний, а о качестве поверхности желоба судят по кривой изменения числа импульсов за каждый полупериод колебаний и по обш;ему числу импульсов.

На фиг. 1 изображена схема реализации предлагаемого способа; на фиг. 2 - характер кривой затухания числа импульсов / соударений эталонной поверхности шарика с микронеровностями контролируемой поверхности желоба за каждый полупериод Т/2 колебаний и кривая изменения накопленного числа импульсов 2 / за период t полного затухания колебаний шарика.

Схема реализации способа включает контролируемое кольцо 1 подшипника, установленное на жестком основании 2, эталонное тело качения 3, например шарик, пьезопреобразователь 4, предусилитель 5, усилитель - измерительный блок 6 и регистратор-самописец 7.

Контролируемое кольцо 1 подшипника устанавливают на жестком основании 2, на котором предварительно закреплен пьезопреобразователь. Тело качения (шарик) 3 с эталонной поверхностью накладывают на контролируемую поверхность желоба кольца 1 и, отклоняя шарик от вертикальной оси на определенный угол, например 40-45°, создают ему свободное возвратноколебательное движение вдоль профиля желоба. Во время колебательного движения шарика по желобу с помощью аппаратуры 4-7, работающей по известному принципу, регистрируют число импульсов / соударений эталонной поверхности шарика при его движении с микронеровностями поверхности желоба за каладый полупериод колебаний Т/2 и накопленное число импульсов S / за период полного затухания колебаний шарика. На фиг. 2 приведен график кривой / затухания числа импульсов за каждый полупериод колебаний шарика и кривой Z / накопленного числа импульсов за период полного затухания шарика. При наличии неоднородностей контролируемой поверхности желоба (мелкие дефекты, волнистость, отклонение формы) значения ординат кривой / уменьшаются скачкообразно, т. е. огибающая ординаты кривая (на фиг. 2 не показана) отклоняется от плавного характера теоретической кривой затухающего колебательного движения. По стабильности характера кривой затухания числа импульсов на каждый полупериод колебаний судят о наличии дефектов на контролируемом участке поверхности желоба. При отсутствии неоднородностей новерхности желоба кривая затухания числа импульсов имеет плавный характер и по плавности приближается к теоретической кривой затухающего колебательного движения. Накопленное число импульсов Е / за период полного затухания колебаний шарика характеризует степень шероховатости поверхности желоба, так как в общей сумме накопленного числа импульсов 2 I, составляющей примерно значение 10, колебания числа импульсов за каждый полупериод сглаживаются. При контроле качества поверхности другого участка желоба кольцо 1 поворачивают относительно основания 2, и испытание проводят повторно. Длительность одного испытания составляет примерно 10-15 с.

Формула изобретения

Способ контроля качества поверхпости желоба колец подшипников качения, заключающийся в том, что ощупывают профиль желоба измерительным щупом, преобразуют движения щупа в электрические сигналы и по ним судят о качестве поверхности желоба, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности

контроля, в качестве измерительного щупа выбирают тело качения подшипника, приводят измерительный щуп в возвратно-колебательное движение вдоль профиля желоба, регистрируют импульсы соударения

измерительного щупа при его движении, считают число импульсов за каждый полупериод колебаний и число импульсов за период полного затухания колебаний, а о качестве поверхности желоба судят по кривой

изменения числа импульсов за каждый полупериод колебаний и по общему числу импульсов.

Источники информации, принятые во внимание при экснертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 364842, кл. G 01В 19/54, 1973.

2. Авторское свидетельство СССР № 375415, кл. G 01В 19/54, 1973 (прототип).

т