1
Изобретение относится к определениям деформаций твердых тел.
Известен способ определения деформадий на поверхности изделия,заключающийся в том, что на поверхность изделия наносят этешонную светоконтрастную сетку, нагружают изделие, деформированную сетку фотографируют через этёшонную сетку и по муаровой картине полос определяют деформации 1 .
Недостатком известного способа является низкая точность определения деформаций, вызванная низкой разрешающей способностью фоточувствительного материала.
Наиболее близким к изобретению является способ определения деформаций на поверхности изделия, заключающийся в том, что на поверхность изделия наносят светоконтрастную сетку, нагружают изделие, деформированную сетку анализируют путем многострочного сканирования, полученный сигнал вместе с параметрами сканирования вводят в ЭВМ и определяют де-. формации на поверхности изделия 23.
Недостатком этого способа является низкая точность определения деформаций, вызванная разрешакщей
способностью светоприемника, по которому производится многострочное сканирование.
Цель изобретения -.повышение точности определения деформаций на поверхности изделия.
Для этого по поверхности деформированной сетки сканируют сфокусированным лучом света, а отргикенный от
10 поверхности сетки луч регистрируют с помощью сосредоточенного светоприемника.
На чертеже показана блок-схема . устройства для реализгщии способа.
15
Устр ойство содержит осветитель 1, фокусирующий объектив 2, блок 3 сканирования, изделие 4, светоконтрастную .сетку 5, приемный объектив 6, сосредоточенный светоприемник 7, и ЭВМ 20 8, первый вход которой соединен с выходом блока сканирования 3, а второй вход - с выходом светоприемника 7.
Способ осуществляется следующим
25 образом.
Луч осветителя-1 фокусируется объективом 2 и отклоняется в двух взаимно перпендикулярных направлениях блоком 3 сканирования по деформированной сетке 5 на поверхности изделия 4. Отражаясь от поверхности изделия 4, луч через объектив б попадает на сосредоточенный светоприёмник 7, Затем сигнал со светоприемника 7 поступает на вход ЭВМ 8. В ЭВМ 8 сигнал обрабатывается по заданной программе с учетом параметров сканирования и определяется деформация.
Таким образом, применение многострочного сканирования светоприемника позволяет значительно повысить точность измерения деформаций, так как устранены погрешности, вызванные величиной измеряемой деформации и размером контролируемой поверхности изделия.
Формула изобретения
Способ определения деформаций на поверхности изделия, заключающийся
в том, что на поверхность изделия-наносят светоконтрастную сетку, нагружают изделие, деформированную сетку .анализируют путём многостро ного сканирования, полученный сигнал вместе с параметрами сканирования вводят s ЭВМ, и определяют деформации на поверхности изделия, отличаюfki и и с я тем, что, с целью повышения точности определения, по поверхности деформированной сетки сканируют сфокусированным лучом света, а отраженный от поверхности сетки луч регистрируют с помощью сосредоточенного .светоприемника.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1.Авторское свидетельство СССР 439695, кл. G 01 В 11/16, 1977.
2.Авторское свидетельство СССР В518620, кл. G 01 В 11/16, 1978
(прототип).
