(5) СПОСОБ Mv3MEPEHMfl ПОВЕРХНОСТНОГО ЗАРЯДА Изобретение относится к радиоизме рительной технике. Известен способ измерения поверхностного заряда диэлектриков путем измерения параметров излучения с поверхности заряженного диэлектрикаП Однако известный способ не обеспечивает высокой точности измерения. Цель изобретения - повышение точности. Для достижения указанной цели в способе измерения поверхностного заряда диэлектриков путем измерения параметров излучения с поверхности заряженного диэлектрика диэлектрик помещают s вакуум и измеряют энергию электронов, эмитируемых поверхностью заряженного диэлектрика, по величине которой определяют плотность поверхностного заряда. Способ измерения основан на том, что поверхности диэлектриков, несущи избыточный электрический заряд больший, чем 10 CGSE/CM (З-Ю Кл/см ДИЭЛЕКТРИКОВ при нахождении их в вакууме выше 10 мм рт.ст . эмитируют поток электронов.. При этом энергия U электронов, эмиттируемых заряженной поверхностью образца ограниченного размера, имеющего толщину h и диэлектрическую проницаемость ,определяется формулой 1±о d h плотность поверхностного электрического заряда; 0 8,85 10 Кл/Всм - электрическая постоянная; е - заряд электрона; d - расстояние от поверхности заряженного диэлектрика до входной диафрагмы анализа. Способ реализуется следующим образом. Измерения проводятся в вакууме мм рт.ст. На некотором удалении от поверхности заряженного диэлектрика помещают спектрометр элекгронов, например цилиндрический конденсатор Юза-Рожанского. С помощью спектрометра определяют энергию U электронов,:эмитируемых участком поверхности заряженного диэлектрика, находящимся перед входным отверстием спектрометра. По измеренной величине и и известным h и d определяют плотность поверхностного заряда. Предлагаемый способ по сравнению с известным обеспечивает более высокую точность измерения. Формула изобретения Способ измерения поверхностного з ряда диэлектриков путем измерения параметров излучения с поверхности заряженного диэлектрика, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, диэлектрик помещают в вакуум и измеряют энергию электронов, эмитируемых поверхностью заряженного диэлектрика, по величине которой определяют плотность поверхностного заряда. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР 2 18076, кл. G .01 R 29/12, 1968 (прототип).
