СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПРОВОДЯЩЕЙ ПОВЕРХНОСТИ Российский патент 1994 года по МПК H01J37/28 

Описание патента на изобретение RU2019883C1

Изобретение относится к электронной технике, в частности к способам контроля качества проводящей поверхности, которые основаны на явлении туннелирования электронов между поверхностью и подводимым к ней острийным электродом малого радиуса и позволяют контролировать рельеф поверхности.

Известен способ контроля качества проводящей поверхности, заключающийся в перемещении вблизи нее острийного электрода и измерении напряжения между электродом и поверхностью, требующегося для получения фиксированного тока автоэлектронной эмиссии, причем траектории перемещения электрода представляют собой прямые линии. В известном способе электрод перемещают по двум координатам вблизи исследуемой поверхности на удалении в несколько ангстрем, что обеспечивает протекание туннельного (или автоэмиссионного) тока порядка 10 нА при величине приложенного напряжения от нескольких милливольт до нескольких вольт. Схема автоматического регулирования поддерживает выбранное постоянное значение упомянутого тока путем изменения (по третьей координате) положения электрода, который, как правило, закрепляют на пьезоэлементе. Синхронная с перемещением запись напряжения на пьезоэлементе и представляет собой топограмму поверхности образца.

Недостатком известного способа является его малая производительность, обусловленная выбором прямоугольных ортогональных траекторий перемещения острийного электрода относительно поверхности.

Целью изобретения является повышение производительности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что в известном способе контроля проводящей поверхности, заключающемся в перемещении вблизи нее острийного электрода и измерении напряжения между электродом и поверхностью, требующегося для получения фиксированного тока автоэлектронной эмиссии, электрод перемещают по круговым концентрическим траекториям, радиусы которых удовлетворяют условию
rn= (2n-1) где Δ - разрешающая способность;
n = 1,2...

На фиг.1 приведена схема контроля поверхности при перемещении острийного электрода по круговой траектории; на фиг.2 - то же, по прямолинейным траекториям.

В предлагаемом способе повышение производительности контроля обусловлено тем, что величина просматриваемой поверхности в случае концентрических траекторий выше, чем для известных прямолинейных траекторий перемещения острийного электрода.

Покажем это на примере случая n = 3, где n - номер шага. Тогда для перемещения по концентрическим траекториям
r1= , r2= , r3= (фиг.1). При этом просматриваемая поверхность представляет собой круг с радиусом R = r3 + R=r3+ =3Δ (фиг.1), а проходимое электродом расстояние определяется выражением
L0=2+++2Δ=30,26Δ.

В способе-прототипе расстояние L, проходимое электродом (сплошная линия на фиг.2), определяется выражением
L= a+ -1.

При выполнении условия L0=L в известном способе просматриваемая поверхность представляет собой квадрат со стороной l, показанной штриховыми линиями на фиг.2.

Значение l определяется из уравнения
a+ -1=30,26Δ
и составляет а = 5,12 Δ .

Тогда в способе-прототипе просматриваемая поверхность составляет S=l2= 26,2Δ2 против So = π R2 ≈28,3 Δ2 . Таким образом, производительность способа увеличивается примерно на = =8% , что и свидетельствует о достижении цели изобретения. Следует, однако, отметить, что при увеличении n выигрыш в производительности составляет меньшее значение.

Технико-экономическая эффективность предлагаемого способа по сравнению с прототипом заключается в повышении производительности контроля за счет увеличения просматриваемой площади по сравнению с использованием прямолинейных траекторий. Осуществление способа не вызывает затруднений, так как перемещение по предлагаемой траектории электрода осуществляется по программе для ЭВМ, управляющей устройством.

Похожие патенты RU2019883C1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПОТОКА ПОЛОЖИТЕЛЬНЫХ ИОНОВ 1990
  • Егоров Н.В.
  • Жуков В.М.
RU2019880C1
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПОЛЕВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭМИССИИ 1991
  • Егоров Н.В.
  • Жуков В.М.
RU2019876C1
СПЕКТРОМЕТР ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ 1994
  • Голиков Ю.К.
  • Давыдов С.Н.
  • Кораблев В.В.
  • Краснова Н.К.
  • Кудинов Ю.А.
RU2076387C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МНОГОСЛОЙНОГО ПОЛЕВОГО ЭМИТТЕРА 2009
  • Егоров Николай Васильевич
  • Антонова Любовь Ивановна
  • Антонов Степан Романович
RU2399114C1
СПОСОБ ЛАЗЕРНОЙ РЕЗКИ КВАРЦЕВОГО СТЕКЛА 1991
  • Ганюченко В.М.
  • Вологдина С.Г.
  • Калинин Н.А.
RU2020133C1
ПРИБОР КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ДВИЖЕНИЯ 1992
  • Лейкин Б.В.
  • Виклов В.Н.
RU2020404C1
СПОСОБ ЭЛЕКТРОФЛОКИРОВАНИЯ ПРЕДМЕТОВ СЛОЖНОЙ ФОРМЫ 1995
  • Семенов В.А.
  • Корнеев В.Н.
RU2094131C1
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СПЕКТРОВ УПРУГОГО ОТРАЖЕНИЯ ЭЛЕКТРОНОВ 1990
  • Давыдов С.Н.
  • Кораблев В.В.
  • Кудинов Ю.А.
RU2020647C1
Электронная пушка с автоэмиссионным катодом 2019
  • Бочаров Алексей Юрьевич
  • Клещ Виктор Иванович
  • Образцов Александр Николаевич
  • Образцов Петр Александрович
RU2718693C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОСТРОЕНИЯ МОНОХРОМАТИЧЕСКОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ 1995
  • Кузьмин А.К.
  • Чиков К.Н.
RU2112263C1

Иллюстрации к изобретению RU 2 019 883 C1

Реферат патента 1994 года СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПРОВОДЯЩЕЙ ПОВЕРХНОСТИ

Использование: изобретение относится к электронной технике и может быть применено в сканирующих микроскопах. Цель изобретения - повышение производительности контроля. Сущность изобретения: согласно способу электрод перемещают по круговым концентрическим траекториям, радиусы которых удовлетворяют условию, описанному в описании, и измеряют напряжение между электродом и поверхностью, требуемое для получения фиксированного тока автоэлектронной эмиссии. 2 ил.

Формула изобретения RU 2 019 883 C1

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПРОВОДЯЩЕЙ ПОВЕРХНОСТИ путем перемещения вблизи ее острийного электрода по заданной траектории и измерения напряжения между электродом и поверхностью, обеспечивающего получение фиксированного тока автоэлектронной эмиссии, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности контроля, электрод перемещают по круговым концентрическим траекториям с радиусами rn, удовлетворяющими условию
rn= (2n-1) ,
где Δ - разрешающая способность;
n = 1, 2 ... - номер шага.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1994 года RU2019883C1

Васильев С
и др
Сканирующий туннельный микроскоп для исследования структурно-неоднородных поверхностей
Письма в ЖТФ, 1987, т.13, вып.15, с.937-941.

RU 2 019 883 C1

Авторы

Егоров Н.В.

Жуков В.М.

Даты

1994-09-15Публикация

1991-03-12Подача