Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении в качестве экспресс-метода косвенного определения наличия ионной имплантации поверхностного слоя нержавеющих сталей с помощью анализа тока электролитно-плазменной обработки.
Известен способ элементного анализа поверхностного монослоя материала, заключающийся в том, что образец облучают частицами с выбранным значением атомного номера, энергией соударения и регистрируют частицы, рассеянные под определенным углом, в том числе и многократно ионизированные частицы, имеющие внутренние вакансии, за счет чего реализуется селективная чувствительность метода к атомам определенного сорта [патент РФ N 2008655, кл. G 01 N 23/00, публ. 28.02.94].
Известен способ определения профиля концентрации легких ядер по глубине образца, заключающийся в том, что исследуемый образец облучают пучком направленных нейтронов, имеющих моноэнергетический спектр в эпитепловой области энергий, и рассеянные в пробе нейтроны регистрируют с помощью анализатора [авт.св. СССР N 1655200, кл. G 01 N 23/00, публ. 30.05.94].
Недостатками аналогов являются дороговизна и сложность оборудования при использовании их в технологических процессах для определения наличия имплантированного слоя.
Наиболее близким по технической сущности является способ обработки сигналов датчика ударных импульсов твердых частиц аэрозольного потока, заключающийся в том, что обработку сигнала осуществляют путем разложения суммарного сигнала в спектр Фурье. Концентрацию дисперсной фазы находят по первой основной и тембровым гармоникам, которые имеют гребенчатую структуру [патент РФ N 2097738, кл. G 01 N 15/02, публ. 18.04.96].
Недостатком прототипа является то, что используемые в нем спектры Фурье сигнала, снимаемого с датчика переменной составляющей тока, при электролитно-плазменной обработке имплантированных образцов и образцов без ионной имплантации не отличаются друг без друга, что делает невозможным применение указанного метода для определения наличия имплантированного слоя.
Задачей, решаемой заявленным изобретением, является повышение скорости и достоверности способа за счет экспрессного определения наличия имплантированного слоя.
Поставленная задача решается таким образом, что в способе определения наличия имплантированного слоя, заключающемся в том, что обработку сигнала датчика переменной составляющей тока при электролитно-плазменной обработке осуществляют путем разложения суммарного сигнала в спектр, в отличие от прототипа производят разложение суммарного сигнала в амплитудный спектр, представляющий собой функцию распределения плотности вероятности нахождения локального максимума в определенном диапазоне значений. Определение наличия имплантированного слоя производят по наличию в амплитудном спектре значений в отрицательной области с общей долей более 30%.
На фиг. 1 и 2 представлены амплитудные спектры переменной составляющей тока для неимплантированного и имплантированного образцов соответственно.
Пример конкретной реализации способа
Образцы из стали ЭИ-961Ш с шероховатостью 1,8 мкм, имплантированные ионами азота по режиму: доза облучения 2•1017 ион/см2, энергия пучка 30 кЭВ и неимплантированные, помещались в ванну для электролитно-плазменной обработки. Процесс проводился в 5%-ном растворе (NH4)2SO4 при напряжении 270В и начальной температуре электролита 90oC. Переменная составляющая тока снималась с измерительного резистора. Амплитудные спектры, полученные с неимплантированного и имплантированного образцов через 15 с после начала обработки, представлены на фиг. 1 и 2 соответственно.
Как видно из данных, приведенных на фиг. 1, доля отрицательных значений в амплитудном спектре тока электролитно-плазменной обработки неимплантированного образца составляет 2,4%, тогда как для образца, имплантированного ионами азота, в амплитудном спектре, представленном на фиг. 2 доля отрицательных значений составляет 49,1%, что свидетельствует о применимости метода.
Таким образом, заявляемое изобретение позволяет определить наличие имплантированного слоя с помощью электролитно-плазменной обработки образцов. Предлагаемый способ имеет простое техническое исполнение, высокую скорость и достоверность.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОМЕНТА ОКОНЧАНИЯ ПРОЦЕССА ЭЛЕКТРОЛИТНО-ПЛАЗМЕННОГО УДАЛЕНИЯ ПОКРЫТИЯ | 1996 |
|
RU2119975C1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ | 1997 |
|
RU2133943C1 |
СПОСОБ УПРАВЛЕНИЯ ПРОЦЕССОМ УДАЛЕНИЯ ДЕФЕКТНОГО ПОКРЫТИЯ ЭЛЕКТРОЛИТНО-ПЛАЗМЕННЫМ МЕТОДОМ | 2000 |
|
RU2202451C2 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ | 2003 |
|
RU2240500C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОМЕНТА ОКОНЧАНИЯ ПРОЦЕССА ЭЛЕКТРОЛИТНО-ПЛАЗМЕННОГО УДАЛЕНИЯ ПОКРЫТИЯ | 2007 |
|
RU2360045C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОМЕНТА ОКОНЧАНИЯ ПРОЦЕССА ЭЛЕКТРОЛИТНО-ПЛАЗМЕННОГО УДАЛЕНИЯ ПОКРЫТИЯ | 2003 |
|
RU2227181C1 |
СПОСОБ МОДИФИКАЦИИ ПОВЕРХНОСТИ ТИТАНОВЫХ СПЛАВОВ | 1997 |
|
RU2117073C1 |
СПОСОБ ВОССТАНОВЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ ДЕТАЛЕЙ ИЗ СПЛАВОВ НА ОСНОВЕ ТИТАНА ПРИ ПОМОЩИ ЦИКЛА ИОННО-ЛУЧЕВЫХ ОБРАБОТОК | 1997 |
|
RU2132887C1 |
СПОСОБ МОДИФИКАЦИИ ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ ДЕТАЛЕЙ ИЗ СПЛАВОВ НА ОСНОВЕ ТИТАНА | 1996 |
|
RU2116378C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОМЕНТА ОКОНЧАНИЯ ПРОЦЕССА ПЛАЗМЕННО-ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ОКСИДИРОВАНИЯ | 2008 |
|
RU2366765C1 |
Изобретение относится к измерительной технике и используется в машиностроении в качестве экспресс-метода косвенного определения наличия ионной имплантации поверхностного слоя нержавеющих сталей с помощью анализа тока электролитно-плазменной обработки. Обработку сигналов датчика переменной составляющей тока при электролитно-плазменной обработке осуществляют путем разложения суммарного сигнала в амплитудный спектр. Амплитудный спектр представляет собой функцию распределения плотности вероятности нахождения локального максимума в определенном диапазоне значений. Определяют наличие имплантированного слоя по наличию в амплитудном спектре значений в отрицательной области с общей долей более 30%. Обеспечено повышение скорости и достоверности. 2 ил.
Способ определения наличия имплантированного слоя, заключающийся в том, что обработку сигналов датчика переменной составляющей тока при электролитно-плазменной обработке осуществляют путем разложения суммарного сигнала в амплитудный спектр, представляющий собой функцию распределения плотности вероятности нахождения локального максимума в определенном диапазоне значений, и определяют наличие имплантированного слоя по наличию в амплитудном спектре значений в отрицательной области с общей долей более 30%.
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОФИЛЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ЛЕГКИХ ЯДЕР ПО ГЛУБИНЕ ОБРАЗЦА | 1989 |
|
SU1655200A1 |
СПОСОБ ОБРАБОТКИ СИГНАЛОВ ДАТЧИКА УДАРНЫХ ИМПУЛЬСОВ ТВЕРДЫХ ЧАСТИЦ АЭРОЗОЛЬНОГО ПОТОКА | 1996 |
|
RU2097738C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОМЕНТА ОКОНЧАНИЯ ПРОЦЕССА ЭЛЕКТРОЛИТНО-ПЛАЗМЕННОГО УДАЛЕНИЯ ПОКРЫТИЯ | 1996 |
|
RU2119975C1 |
JP 58014035 A, 26.01.1983 | |||
JP 55029752 A, 03.03.1980. |
Авторы
Даты
2000-05-10—Публикация
1998-08-17—Подача