УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ИС ОЗУ Российский патент 2008 года по МПК G01R31/26 

Описание патента на изобретение RU2316012C1

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления интегральных схем оперативно запоминающих устройств (ИС ОЗУ), а также для причин их отказов.

Известно множество диагностических методов контроля качества и надежности ИС (НЧ шум, интегральные ВАХ, m-характеристики и др.). Преимуществом информационно-энергетического метода для диагностики ИС ОЗУ являются большие функциональные возможности [1].

Наиболее близким является устройство, предложенное в источнике [2]. Структурная схема устройства для диагностики информационно-энергетическим методом, предлагаемая в источнике [2], является установкой аналогового типа, состоящей из блока задания воздействия, эталонной ИС, блока вычитания, преобразователя ток-напряжение, интегратора, аналогового запоминающего устройства, компаратора и блока результатов и контроля. Результаты компарирования обрабатываются блоком контроля по принципу "годен - брак". При этом контроль производится в каждом цикле (записи) или считывания при обращении к каждой ячейке, т.е. просматривается вся матрица ОЗУ (все ячейки памяти). Недостатком данной установки является большая погрешность измерений и невозможность автоматизирования процесса измерений.

Цель изобретения - повышение точности диагностики и увеличение функциональных возможностей контроля ППИ с использованием информационно-энергетического метода.

Это достигается введением дополнительно платы сопряжения ИС с ЭВМ, платы сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ, блока управления и запуска и применением ЭВМ.

Предлагаемая схема установки лишена указанных недостатков. Блок-схема изображена на чертеже. Она состоит из блока задания режима воздействия типа бегущий "0" или бегущая "1" 1, блока управления и запуска 2, исследуемой ИС 3, платы сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ 4, платы сопряжения ИС с электронно-вычислительной машиной (ЭВМ) 5, ЭВМ 6 и монитора 7.

Устройство для диагностирования ИС ОЗУ, состоящее из блока задания режима воздействия 1, выход которого соединен с входом исследуемой ИС 3, ЭВМ 6 и монитора 7, при этом дополнительно введены плата сопряжения ИС с ЭВМ 5, платы сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ 4, блока управления и запуска 2, причем выход исследуемой ИС соединен с входом платы сопряжения ИС с ЭВМ, а выход платы сопряжения ИС с ЭВМ - с ЭВМ, при этом выход блока задания режима воздействия соединен с входом платы сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ, а выход платы сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ - с ЭВМ, причем ЭВМ соединена с входом блока управления и запуска, а выход блока управления и запуска - с входом блока задания режима воздействия.

Преимуществом предложенной схемы устройства является то, что возможно накопление информации по конкретному типу исследуемой ИС ОЗУ, т.е. создание базы данных, что невозможно при использовании установки по аналоговому способу реализации информационно-энергетического метода. Также возможно применение современных статистических методов обработки полученных результатов, таких как определение коэффициентов корреляции, регрессионный анализ, применение метода наименьших квадратов и др.

Устройство работает следующим образом: на исследуемую ИС ОЗУ 3 с блока задания режима воздействия 1, управляемого блоком управления и запуска 2, вход которого соединен с ЭВМ и управляется ЭВМ в соответствии с программой, поступает тестовая последовательность типа бегущий 0 или бегущая 1, которая также поступает на ЭВМ 6, через плату сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ 4, с ИС 3 сигнал поступает в ЭВМ 6 через плату сопряжения 5. В ЭВМ 6 в соответствии с написанной программой выходные сигналы с испытуемой ИС 3 и с блока задания режима воздействия 1 вычитаются и дальнейшей обработке подвергается эта разность сигналов. Работа устройства состоит из двух этапов. На первом этапе накапливается статистика и формируется эталонная ИС, а на втором - производится разделение ИС в соответствии с заданными значениями параметров.

Источники информации

1. Горлов М.И., Ануфриев Л.П., Бордюжа О.Л. Обеспечение и повышение надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем в процессе серийного производства. Минск, 1997 г., 390 с.

2. РД 11 0682-89. Микросхемы интегральные. Методы неразрушающего контроля диагностических параметров.

Похожие патенты RU2316012C1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ДЛЯ ЦИФРОВОЙ СУБСТРАКЦИОННОЙ АНГИОГРАФИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1992
  • Королев С.В.
  • Коренблюм В.И.
  • Коновалов С.В.
  • Морозов А.Н.
  • Савкин А.А.
  • Силаев Н.Ж.
  • Портной Л.М.
  • Федосов С.Н.
  • Федорович Ю.Н.
  • Хазанов А.В.
  • Шумский В.И.
RU2043073C1
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ 4-КАНАЛЬНОЙ ОТКАЗОУСТОЙЧИВОЙ СИСТЕМЫ БОРТОВОГО КОМПЛЕКСА УПРАВЛЕНИЯ ПОВЫШЕННОЙ ЖИВУЧЕСТИ И ЭФФЕКТИВНОГО ЭНЕРГОПОТРЕБЛЕНИЯ И ЕГО РЕАЛИЗАЦИЯ ДЛЯ КОСМИЧЕСКИХ ПРИМЕНЕНИЙ 2011
  • Сыров Анатолий Сергеевич
  • Андреев Виктор Петрович
  • Смирнов Виктор Владимирович
  • Ромадин Юрий Алексеевич
  • Петров Андрей Борисович
  • Синельников Владимир Васильевич
  • Дорский Ростислав Юрьевич
  • Каравай Михаил Федорович
  • Кособоков Виктор Николаевич
  • Астрецов Владимир Александрович
  • Яновский Андрей Юрьевич
  • Зимин Дмитрий Юрьевич
  • Калугина Ирина Юрьевна
  • Соколов Владимир Николаевич
  • Луняков Сергей Васильевич
  • Добрынин Дмитрий Алексеевич
RU2449352C1
ПЕРЕНОСНОЙ ПРОГРАММНО-ДИАГНОСТИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС 2007
  • Крюков Геннадий Михайлович
  • Смирнов Александр Николаевич
  • Зверьков Александр Григорьевич
RU2363975C2
ПЕРЕНОСНОЙ ДИАГНОСТИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС 2007
  • Шевченко Виктор Федорович
  • Прокопченко Александр Владимирович
  • Дементьев Георгий Станиславович
  • Звонов Александр Александрович
RU2340926C1
УСТАНОВКА ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ НА РАДИАЦИОННУЮ СТОЙКОСТЬ 1996
  • Ермолаев С.В.
  • Громов Д.В.
  • Никифоров А.Ю.
  • Скоробогатов П.К.
  • Чумаков А.И.
RU2112990C1
АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ НА РАДИАЦИОННУЮ СТОЙКОСТЬ 2010
  • Бузоверя Евгений Васильевич
  • Наумов Юрий Валентинович
RU2435169C1
Устройство для контроля цифровых объектов 1983
  • Ефремов Дмитрий Александрович
  • Самсонов Владимир Ильич
  • Лучин Борис Прокофьевич
SU1160373A1
ЦИФРОВОЙ ОТЛАДОЧНЫЙ КОМПЛЕКС 2021
  • Ляшко Евгений Сергеевич
  • Шмакова Ирина Соломоновна
  • Межирицкий Ефим Леонидович
  • Сапожников Александр Илариевич
RU2773696C1
Устройство для тестового контроля цифровых блоков 1986
  • Чернышев Владимир Александрович
  • Рябцев Владимир Григорьевич
  • Борисенко Алексей Алексеевич
SU1345199A2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ МЕТОДОМ АНАЛИЗА ФОРМ И/ИЛИ ПАРАМЕТРОВ ДИНАМИЧЕСКОГО ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ 2007
  • Николаев Олег Валерьевич
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Жарких Александр Петрович
  • Москалев Вячеслав Юрьевич
  • Шишкин Игорь Алексеевич
RU2348049C1

Реферат патента 2008 года УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ИС ОЗУ

Предложенное изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления интегральных схем (ИС) оперативно запоминающих устройств (ОЗУ), а также для причин их отказов. Цель изобретения - повышение точности диагностики и увеличение функциональных возможностей контроля полупроводниковых изделий с использованием информационно-энергетического метода. Устройство для диагностирования интегральных схем оперативно запоминающих устройств состоит из блока задания режима воздействия, выход которого соединен с входом исследуемой ИС, электронно-вычислительной машины (ЭВМ), монитора, платы сопряжения ИС с ЭВМ, платы сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ, блока управления и запуска, причем выход исследуемой ИС соединен с входом платы сопряжения ИС с ЭВМ, а выход платы сопряжения ИС с ЭВМ - с ЭВМ, при этом выход блока задания режима воздействия соединен с входом платы сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ, а выход платы сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ - с ЭВМ, причем ЭВМ соединена с входом блока управления и запуска, а выход блока управления и запуска - с входом блока задания режима воздействия. 1 ил.

Формула изобретения RU 2 316 012 C1

Устройство для диагностирования интегральных схем оперативно-запоминающих устройств (ИС ОЗУ), состоящее из блока задания режима воздействия, выход которого соединен с входом исследуемой ИС, электронно-вычислительной машины (ЭВМ) и монитора, отличающееся тем, что дополнительно введены плата сопряжения ИС с ЭВМ, платы сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ, блока управления и запуска, причем выход исследуемой ИС соединен с входом платы сопряжения ИС с ЭВМ, а выход платы сопряжения ИС с ЭВМ - с ЭВМ, при этом выход блока задания режима воздействия соединен с входом платы сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ, а выход платы сопряжения блока задания режима воздействия с ЭВМ - с ЭВМ, причем ЭВМ соединена с входом блока управления и запуска, а выход блока управления и запуска - с входом блока задания режима воздействия.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2008 года RU2316012C1

RU 2004105669 A1, 10.08.2005
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ КМОП ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПО УРОВНЯМ НАДЕЖНОСТИ 1992
  • Архипов А.В.
  • Паршин А.В.
  • Пиганов М.Н.
  • Чернобровин Н.Г.
RU2046365C1
RU 2003995 C1, 30.11.1993
US 4477775 A, 16.10.1984.

RU 2 316 012 C1

Авторы

Горлов Митрофан Иванович

Жарких Александр Петрович

Даты

2008-01-27Публикация

2006-04-25Подача