СТЕРЕОЛОГИЧЕСКИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ КОРРЕЛЯЦИИ ВЫТЯНУТЫХ ОБЪЕКТОВ Российский патент 2008 года по МПК G06T7/60 A61B8/13 

Описание патента на изобретение RU2326441C2

Текст описания приведен в факсимильном виде.

Похожие патенты RU2326441C2

название год авторы номер документа
СПОСОБ СТЕРЕОЛОГИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРНОЙ ОРГАНИЗАЦИИ ОБЪЕКТОВ 2002
  • Красноперов Ренат Анатольевич
RU2291488C9
СПОСОБ СТЕРЕОЛОГИЧЕСКОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ И РАЗМЕРНЫХ РАСПРЕДЕЛЕНИЙ ОБЪЕКТОВ 2000
  • Красноперов Р.А.
  • Герасимов А.Н.
RU2218601C2
СПОСОБ СТЕРЕОЛОГИЧЕСКОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ АНИЗОТРОПИИ ОБЪЕКТОВ 2001
  • Красноперов Р.А.
  • Герасимов А.Н.
RU2211487C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРНЫХ РАСПРЕДЕЛЕНИЙ ОБЪЕКТОВ, ОПИСЫВАЕМЫХ ПО ФОРМЕ ЭЛЛИПТИЧЕСКИМИ ЦИЛИНДРАМИ 2000
  • Красноперов Р.А.
  • Герасимов А.Н.
RU2219583C2
ДЕКОРАТИВНОЕ ПАННО 1996
  • Абдеев Р.А.
  • Линник Л.Н.
RU2108922C1
СПОСОБ ОЦЕНКИ СТРУКТУРНЫХ ИЗМЕНЕНИЙ ОБРАЗЦА МАТЕРИАЛА В РЕЗУЛЬТАТЕ ВОЗДЕЙСТВИЯ НА ОБРАЗЕЦ 2014
  • Варфоломеев Игорь Андреевич
  • Надеев Александр Николаевич
  • Коротеев Дмитрий Анатольевич
  • Якимчук Иван Викторович
  • Казак Андрей Владимирович
RU2673774C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ И/ИЛИ ДЕФОРМАЦИЙ ОБРАЗЦА ПРИ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОМ ВОЗДЕЙСТВИИ НА НЕГО И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2017
  • Терауд Валентин Викторович
RU2665323C1
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ ОБЪЕКТА, УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ И УСТРОЙСТВО ДОСТАВКИ НИЗКОКОГЕРЕНТНОГО ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 2002
  • Геликонов Г.В.
  • Геликонов В.М.
  • Мяков А.В.
  • Фельдштейн Ф.И.
RU2242710C2
ГИБКИЙ НЕЛИНЕЙНЫЙ ЛАЗЕРНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП ДЛЯ НЕИНВАЗИВНОГО ТРЕХМЕРНОГО ДЕТЕКТИРОВАНИЯ 2012
  • Кениг Карстен
  • Вайнигель Мартин
RU2524742C2
СПОСОБ ПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ ИНСТРУМЕНТА В КООРДИНАТНОЙ СИСТЕМЕ ОТСЧЕТА СТАНКА АВТОМАТИЗИРОВАННОГО ГРАВИРОВАЛЬНОГО КОМПЛЕКСА 2005
  • Вязалов Сергей Юрьевич
  • Трачук Аркадий Владимирович
  • Чеглаков Андрей Валерьевич
  • Курочкин Александр Васильевич
  • Павлов Владимир Васильевич
  • Писарев Александр Георгиевич
  • Метельский Евгений Михайлович
  • Солдатченков Виктор Сергеевич
  • Чекмарев Виктор Афанасьевич
  • Климов Алексей Иванович
  • Мочалов Александр Игоревич
  • Ашкиназий Яков Михайлович
  • Чеглаков Валерий Анатольевич
  • Журавлев Андрей Владимирович
RU2279964C1

Иллюстрации к изобретению RU 2 326 441 C2

Реферат патента 2008 года СТЕРЕОЛОГИЧЕСКИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ КОРРЕЛЯЦИИ ВЫТЯНУТЫХ ОБЪЕКТОВ

Изобретение относится к области стереологического анализа. Техническим результатом является повышение надежности измерения пространственной корреляции вытянутых объектов. Технический результат достигается тем, что из тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, изготавливают образец, на котором могут быть найдены профили сечения (ПС) объектов. На образце выбирают область для анализа ПС объектов (далее - окно), в окне находят ПС объектов. Совокупность ПС объектов в окне представляют в виде плоскостного точечного процесса, каждая точка которого характеризует расположение одного ПС. Для данного плоскостного точечного процесса определяют функцию парной корреляции, являющуюся оценкой редуцированной функции парной корреляции исследуемых объектов в пространстве. По функции парной корреляции исследуемых объектов в пространстве делают заключение о пространственной корреляции вытянутых объектов в содержащем их теле, материале или среде. 201 з.п. ф-лы, 1 ил.

Формула изобретения RU 2 326 441 C2

1. Стереологический способ определения пространственной корреляции вытянутых объектов, отличающийся тем, что из тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, изготавливают образец, на котором могут быть найдены профили сечения объектов; на получаемом образце выбирают область для анализа профилей сечения объектов (далее - окно); в окне находят профили сечения объектов; совокупность профилей сечения объектов в окне представляют в виде плоскостного точечного процесса, точки которого характеризуют расположение профилей сечения объектов; для данного плоскостного точечного процесса рассчитывают функцию парной корреляции, являющуюся оценкой редуцированной функции парной корреляции исследуемых объектов в пространстве; по редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве делают заключение о пространственной корреляции исследуемых объектов в содержащем их теле, материале или среде.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что для любой из точек, формирующих плоскостной точечный процесс, определяют плоскостные координаты (х, y), по значениям которых рассчитывают функцию парной корреляции плоскостного точечного процесса.3. Способ по п.2, отличающийся тем, что координаты расположения точек могут быть измерены любым из следующего образом либо любой комбинацией из следующего: а) линейкой по фотографии, б) по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца, в) посредством перемещения плоскости фокусировки микроскопа по толщине исследуемого образца, г) по количественным данным томографии, д) по количественным данным микроскопии, е) с помощью анализатора изображений.4. Способ по п.1, отличающийся тем, что для плоскостного точечного процесса определяют расстояния между его точками; по этим расстояниям рассчитывают функцию парной корреляции плоскостного точечного процесса.5. Способ по п.2, отличающийся тем, что для плоскостного точечного процесса определяют расстояния между его точками; по этим расстояниям рассчитывают функцию парной корреляции плоскостного точечного процесса.6. Способ по п.3, отличающийся тем, что для плоскостного точечного процесса определяют расстояния между его точками; по этим расстояниям рассчитывают функцию парной корреляции плоскостного точечного процесса.7. Способ по любому из пп.1-6, отличающийся тем, что окно включает в себя весь образец.8. Способ по п.7, отличающийся тем, что окно имеет форму в виде любого из следующего: а) прямоугольника, б) квадрата, в) треугольника, г) ромба, д) круга, е) эллипса, ж) другую форму.9. Способ по любому из пп.1-6, отличающийся тем, что на образце выбирают несколько окон для анализа профилей сечения объектов, в каждом из которых находят профили сечения объектов.10. Способ по п.9, отличающийся тем, что любое из окон имеет форму в виде любого из следующего: а) прямоугольника, б) квадрата, в) треугольника, г) ромба, д) круга, е) эллипса, ж) другую форму.11. Способ по любому из пп.1-6, 8 и 10, отличающийся тем, что определяют количество точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов в пределах окна.12. Способ по п.7, отличающийся тем, что определяют количество точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов в пределах окна.13. Способ по п.9, отличающийся тем, что определяют количество точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов в пределах окна.14. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12 и 13, отличающийся тем, что измеряют размер или размеры окна, в частности любой из следующих размеров либо любую комбинацию из следующих размеров: а) длину, б) ширину, в) высоту, г) площадь, д) периметр, е) длину диагонали, ж) осевое соотношение, з) радиус, и) диаметр, к) эксцентриситет, л) межфокусное расстояние.15. Способ по п.7, отличающийся тем, что измеряют размер или размеры окна, в частности любой из следующих размеров либо любую комбинацию из следующих размеров: а) длину, б) ширину, в) высоту, г) площадь, д) периметр, е) длину диагонали, ж) осевое соотношение, з) радиус, и) диаметр, к) эксцентриситет, л) межфокусное расстояние.16. Способ по п.9, отличающийся тем, что измеряют размер или размеры окна, в частности любой из следующих размеров либо любую комбинацию из следующих размеров: а) длину, б) ширину, в) высоту, г) площадь, д) периметр, е) длину диагонали, ж) осевое соотношение, з) радиус, и) диаметр, к) эксцентриситет, л) межфокусное расстояние.17. Способ по п.11, отличающийся тем, что измеряют размер или размеры окна, в частности любой из следующих размеров либо любую комбинацию из следующих размеров: а) длину, б) ширину, в) высоту, г) площадь, д) периметр, е) длину диагонали, ж) осевое соотношение, з) радиус, и) диаметр, к) эксцентриситет, л) межфокусное расстояние.18. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, отличающийся тем, что размеры любого из окон представляют в виде любого из следующего или в виде любой комбинации из следующего: а) плоскостных координат (х, y) углов окна, б) плоскостных координат (х, y) других опорных точек окна.19. Способ по п.7, отличающийся тем, что размеры любого из окон представляют в виде любого из следующего или в виде любой комбинации из следующего: а) плоскостных координат (х, y) углов окна, б) плоскостных координат (х, y) других опорных точек окна.20. Способ по п.9, отличающийся тем, что размеры любого из окон представляют в виде любого из следующего или в виде любой комбинации из следующего: а) плоскостных координат (х, y) углов окна, б) плоскостных координат (х, y) других опорных точек окна.21. Способ по п.11, отличающийся тем, что размеры любого из окон представляют в виде любого из следующего или в виде любой комбинации из следующего: а) плоскостных координат (х, y) углов окна, б) плоскостных координат (х, y) других опорных точек окна.22. Способ по п.14, отличающийся тем, что размеры любого из окон представляют в виде любого из следующего или в виде любой комбинации из следующего: а) плоскостных координат (х, y) углов окна, б) плоскостных координат (х, y) других опорных точек окна.23. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, у), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.24. Способ по п.7, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, y), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.25. Способ по п.9, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, y), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.26. Способ по п.11, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, y), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.27. Способ по п.14, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, y), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.28. Способ по п.18, отличающийся тем, что при измерении размера (размеров) любого из окон используется любой из следующих методов либо любая комбинация из следующих методов: а) измерение линейкой, б) измерение по количеству пикселей (плоскостных элементов изображения), в) измерение по количеству вокселей (объемных элементов изображения), г) измерение по шкале предметного столика микроскопа, позволяющей отслеживать перемещение исследуемого образца (координаты х, y), д) измерение по количественным данным томографии, е) измерение по количественным данным микроскопии, ж) измерение с помощью анализатора изображений.29. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.30. Способ по п.7, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.31. Способ по п.9, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.32. Способ по п.11, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.33. Способ по п.14, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.34. Способ по п.18, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.35. Способ по п.23, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются любым из следующего либо любой комбинацией из следующего: а) физическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, б) физическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов, в) оптическими профилями плоскостного сечения, имеющими нулевую толщину, г) оптическими профилями неплоскостного сечения, имеющими ненулевую толщину, значение которой существенно меньше любого из диаметров объектов.36. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.37. Способ по п.7, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.38. Способ по п.9, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), и) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.39. Способ по п.11, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.40. Способ по п.14, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.41. Способ по п.18, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.42. Способ по п.23, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.43. Способ по п.29, отличающийся тем, что профили сечения объектов являются изображениями, получаемыми с использованием любого из следующего: а) световой микроскопии, б) трансмиссионной электронной микроскопии, в) другой электронной микроскопии, г) конфокальной лазерной сканирующей микроскопии, д) рентгеновской компьютерной томографии, е) рентгеновской компьютерной микротомографии, ж) рентгеновской компьютерной микроскопии, з) магнитно-резонансной томографии, и) магнитно-резонансной микротомографии, к) магнитно-резонансной микроскопии, л) позитронно-эмиссионной томографии, м) однофотонной эмиссионной компьютерной томографии (SPECT), н) ультразвуковой томографии, о) ультразвуковой микроскопии, п) другого ультразвукового метода исследования, р) другого вида томографии, с) другого вида микроскопии.44. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.45. Способ по п.7, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.46. Способ по п.9, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.47. Способ по п.11, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.48. Способ по п.14, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.49. Способ по п.18, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.50. Способ по п.23, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.51. Способ по п.29, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.52. Способ по п.36, отличающийся тем, что образцом тела, материала или среды, содержащего (содержащей) исследуемые объекты, является любое из следующего: а) гистологический срез, б) полутонкий срез, в) ультратонкий срез, г) другой срез, д) металлографический шлиф, е) другой шлиф, ж) металлографическая реплика, з) другая реплика, и) фольга, к) порошковая проба, л) другая обработанная поверхность изучаемого тела, материала или среды.53. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.54. Способ по п.7, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.55. Способ по п.9, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.56. Способ по п.11, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.57. Способ по п.14, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.58. Способ по п.18, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, в) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.59. Способ по п.23, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.60. Способ по п.29, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.61. Способ по п.36, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногистохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.62. Способ по п.44, отличающийся тем, что образец подвергают обработке, например любому из следующего: а) окрашиванию, б) контрастированию, в) просветлению, г) обезвоживанию, д) иммуногастохимической обработке, е) другой иммунологической обработке, ж) обработке ферментами, з) напылению металлом.63. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.64. Способ по п.7, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.65. Способ по п.9, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.66. Способ по п.11, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.67. Способ по п.14, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.68. Способ по п.18, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.69. Способ по п.23, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.70. Способ по п.29, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.71. Способ по п.36, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.72. Способ по п.44, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.73. Способ по п.53, отличающийся тем, что окно представляют в виде изображения, по которому производят дальнейший анализ объектов; при необходимости изображение окна увеличивают в размерах.74. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, 64-73, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.75. Способ по п.7, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) еканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.76. Способ по п.9, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.77. Способ по п.11, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.78. Способ по п.14, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.79. Способ по п.18, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.80. Способ по п.23, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.81. Способ по п.29, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.82. Способ по п.36, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.83. Способ по п.44, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.84. Способ по п.53, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.85. Способ по п.63, отличающийся тем, что изображение окна, содержащего изображения профилей сечения объектов, представляют на любом из следующего: на а) фотографии, б) цифровом снимке, в) томограмме, г) сканограмме, д) видеоизображении, е) поле зрения микроскопа.86. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, 64-73, 75-85, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.87. Способ по п.7, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.88. Способ по п.9, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.89. Способ по п.11, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.90. Способ по п.14, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.91. Способ по п.18, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.92. Способ по п.23, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.93. Способ по п.29, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.94. Способ по п.36, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.95. Способ по п.44, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.96. Способ по п.53, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.97. Способ по п.63, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.98. Способ по п.74, отличающийся тем, что в качестве точки, характеризующей расположение профиля сечения объекта, используют любое из следующего или любую комбинацию из следующего: а) центральную точку профиля сечения, б) центр тяжести профиля сечения, в) начальную точку профиля сечения, г) конечную точку профиля сечения, д) точку максимальной кривизны профиля сечения, е) точку минимальной кривизны профиля сечения, ж) точку средней кривизны профиля сечения, з) любую другую точку, связанную с кривизной профиля сечения, и) точку пересечения двух или нескольких диаметров профиля сечения, к) точку, связанную с любой из перечисленных, л) любую другую точку, характеризующую расположение профиля сечения.99. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, 64-73, 75-85, 87-98, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.100. Способ по п.7, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.101. Способ по п.9, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.102. Способ по п.11, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.103. Способ по п.14, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.104. Способ по п.18, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.105. Способ по п.23, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.106. Способ по п.29, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.107. Способ по п.36, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.108. Способ по п.44, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.109. Способ по п.53, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.110. Способ по п.63, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.111. Способ по п.74, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.112. Способ по п.86, отличающийся тем, что объектами, пространственная корреляция которых определяется, являются любое из следующего либо любая комбинация из следующего: а) структуры организма человека, б) структуры организма животного, в) кровеносные сосуды, г) кровеносные микрососуды, д) лимфатические сосуды, е) лимфатические микрососуды, ж) нервные проводники, з) трабекулы костной ткани, и) другие структуры костной ткани, к) коллагеновые волокна, л) другие волокна соединительной ткани, м) потоки биологической жидкости, н) поры минералов, о) поры почв, п) полимерные волокна, р) текстильные волокна, с) целлюлозные волокна, т) металлические стержни, у) дислокации в материалах, ф) волокна полимерного наполнителя.113. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, 64-73, 75-85, 87-98, 100-112, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.114. Способ по п.7, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.115. Способ по п.9, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.116. Способ по п.11, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.117. Способ по п.14, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.118. Способ по п.18, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.119. Способ по п.23, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.120. Способ по п.29, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.121. Способ по п.36, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.122. Способ по п.44, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.123. Способ по п.53, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.124. Способ по п.63, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.125. Способ по п.74, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.126. Способ по п.86, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.127. Способ по п.99, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют во временной динамике, например, в реальном режиме времени.128. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, 64-73, 75-85, 87-98, 100-112, 114-127, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).129. Способ по п.7, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).130. Способ по п.9, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).131. Способ по п.11, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).132. Способ по п.14, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).133. Способ по п.18, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).134. Способ по п.23, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).135. Способ по п.29, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).136. Способ по п.36, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).137. Способ по п.44, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).138. Способ по п.53, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).139. Способ по п.63, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).140. Способ по п.74, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).141. Способ по п.86, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).142. Способ по п.99, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).143. Способ по п.113, отличающийся тем, что пространственную корреляцию объектов определяют с применением компьютера (ЭВМ).144. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, 64-73, 75-85, 87-98, 100-112, 114-127, 129-143, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.145. Способ по п.7, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.146. Способ по п.9, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.147. Способ по п.11, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.148. Способ по п.14, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.149. Способ по п.18, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полу автоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.150. Способ по п.23, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.151. Способ по п.29, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.152. Способ по п.36, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.153. Способ по п.44, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.154. Способ по п.53, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.155. Способ по п.63, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.156. Способ по п.74, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.157. Способ по п.86, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.158. Способ по п.99, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.159. Способ по п.113, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.160. Способ по п.128, отличающийся тем, что при измерении плоскостных координат или взаимного расположения точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, используют любой из следующих способов либо любую комбинацию из следующих способов: а) ручные измерения, б) полуавтоматизированные измерения, в) автоматизированные измерения.161. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, 64-73, 75-85, 87-98, 100-112, 114-127, 129-143, 145-160, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.162. Способ по п.7, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.163. Способ по п.9, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.164. Способ по п.11, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.165. Способ по п.14, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.166. Способ по п.18, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.167. Способ по п.23, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.168. Способ по п.29, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.169. Способ по п.36, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.170. Способ по п.44, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.171. Способ по п.53, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.172. Способ по п.63, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.173. Способ по п.74, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.174. Способ по п.86, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.175. Способ по п.99, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.176. Способ по п.113, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.177. Способ по п.128, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.178. Способ по п.144, отличающийся тем, что данные, получаемые при измерении плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, представляют в виде массива данных.179. Способ по любому из пп.1-6, 8, 10, 12, 13, 15-17, 19-22, 24-28, 30-35, 37-43, 45-52, 54-62, 64-73, 75-85, 87-98, 100-112, 114-127, 129-143, 145-160, 162-178, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.180. Способ по п.7, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.181. Способ по п.9, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.182. Способ по п.11, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.183. Способ по п.14, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.184. Способ по п.18, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.185. Способ по п.23, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.186. Способ по п.29, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.187. Способ по п.36, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.188. Способ по п.44, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.189. Способ по п.53, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.190. Способ по п.63, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.191. Способ по п.74, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.192. Способ по п.86, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.193. Способ по п.99, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.194. Способ по п.113, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.195. Способ по п.128, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, в) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.196. Способ по п.144, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.197. Способ по п.161, отличающийся тем, что для редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве рассчитывают статистику, в частности любое из следующего либо любую комбинацию из следующего: а) среднее арифметическое значение, б) среднее квадратическое отклонение, в) ошибку репрезентативности, г) доверительные интервалы, д) коэффициент вариации, е) дисперсию, ж) другой статистический момент, з) другой статистический параметр.198. Способ по п.128, отличающийся тем, что компьютер (ЭВМ) выполняет любую из следующих операций либо любую комбинацию из следующих операций: а) генерирует направление плоскости сечения объектов, б) генерирует расположение плоскости сечения объектов, в) подвергает исследуемые объекты сечению, г) выбирает окно для анализа объектов, д) распознает профили сечения объектов в окне, е) представляет профили сечения объектов в виде оцифрованных изображений, ж) производит полуавтоматизированную сегментацию изображений профилей сечения объектов, з) выполняет автоматизированную сегментацию изображений профилей сечения объектов, и) представляет совокупность профилей сечения объектов в окне в виде плоскостного точечного процесса, точки которого характеризуют расположение профилей сечения объектов, к) осуществляет измерения плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, л) измеряет размеры окна или любого из окон, м) измеряет площадь окна или любого из окон, н) определяет количество точек в пределах окна или любого из окон, о) рассчитывает функцию парной корреляции для полученного плоскостного точечного процесса, п) сохраняет в запоминающем устройстве данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, р) выводит из запоминающего устройства данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, с) выводит из запоминающего устройства на дисплей данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, т) выводит из запоминающего устройства на печатающее устройство данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, у) сохраняет в запоминающем устройстве получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ф) выводит из запоминающего устройства получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, х) выводит из запоминающего устройства на дисплей получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ц) выводит из запоминающего устройства на печатающее устройство получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ч) с применением известных в стереологии принципов забора материала рассчитывает статистику редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве для любого значения r при полученном наборе окон и/или образцов.199. Способ по любому из пп.129-143, 145-160, 162-178, 180-198, отличающийся тем, что компьютер (ЭВМ) выполняет любую из следующих операций либо любую комбинацию из следующих операций: а) генерирует направление плоскости сечения объектов, б) генерирует расположение плоскости сечения объектов, в) подвергает исследуемые объекты сечению, г) выбирает окно для анализа объектов, д) распознает профили сечения объектов в окне, е) представляет профили сечения объектов в виде оцифрованных изображений, ж) производит полуавтоматизированную сегментацию изображений профилей сечения объектов, з) выполняет автоматизированную сегментацию изображений профилей сечения объектов, и) представляет совокупность профилей сечения объектов в окне в виде плоскостного точечного процесса, точки которого характеризуют расположение профилей сечения объектов, к) осуществляет измерения плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, л) измеряет размеры окна или любого из окон, м) измеряет площадь окна или любого из окон, н) определяет количество точек в пределах окна или любого из окон, о) рассчитывает функцию парной корреляции для полученного плоскостного точечного процесса, п) сохраняет в запоминающем устройстве данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, р) выводит из запоминающего устройства данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, с) выводит из запоминающего устройства на дисплей данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, т) выводит из запоминающего устройства на печатающее устройство данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, у) сохраняет в запоминающем устройстве получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ф) выводит из запоминающего устройства получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, х) выводит из запоминающего устройства на дисплей получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ц) выводит из запоминающего устройства на печатающее устройство получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ч) с применением известных в стереологии принципов забора материала рассчитывает статистику редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве для любого значения r при полученном наборе окон и/или образцов.200. Способ по п.144, отличающийся тем, что компьютер (ЭВМ) выполняет любую из следующих операций либо любую комбинацию из следующих операций: а) генерирует направление плоскости сечения объектов, б) генерирует расположение плоскости сечения объектов, в) подвергает исследуемые объекты сечению, г) выбирает окно для анализа объектов, д) распознает профили сечения объектов в окне, е) представляет профили сечения объектов в виде оцифрованных изображений, ж) производит полуавтоматизированную сегментацию изображений профилей сечения объектов, з) выполняет автоматизированную сегментацию изображений профилей сечения объектов, и) представляет совокупность профилей сечения объектов в окне в виде плоскостного точечного процесса, точки которого характеризуют расположение профилей сечения объектов, к) осуществляет измерения плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, л) измеряет размеры окна или любого из окон, м) измеряет площадь окна или любого из окон, н) определяет количество точек в пределах окна или любого из окон, о) рассчитывает функцию парной корреляции для полученного плоскостного точечного процесса, п) сохраняет в запоминающем устройстве данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, р) выводит из запоминающего устройства данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, с) выводит из запоминающего устройства на дисплей данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, т) выводит из запоминающего устройства на печатающее устройство данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, у) сохраняет в запоминающем устройстве получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ф) выводит из запоминающего устройства получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, х) выводит из запоминающего устройства на дисплей получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ц) выводит из запоминающего устройства на печатающее устройство получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ч) с применением известных в стереологии принципов забора материала рассчитывает статистику редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве для любого значения r при полученном наборе окон и/или образцов.201. Способ по п.161, отличающийся тем, что компьютер (ЭВМ) выполняет любую из следующих операций либо любую комбинацию из следующих операций: а) генерирует направление плоскости сечения объектов, б) генерирует расположение плоскости сечения объектов, в) подвергает исследуемые объекты сечению, г) выбирает окно для анализа объектов, д) распознает профили сечения объектов в окне, е) представляет профили сечения объектов в виде оцифрованных изображений, ж) производит полуавтоматизированную сегментацию изображений профилей сечения объектов, з) выполняет автоматизированную сегментацию изображений профилей сечения объектов, и) представляет совокупность профилей сечения объектов в окне в виде плоскостного точечного процесса, точки которого характеризуют расположение профилей сечения объектов, к) осуществляет измерения плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, л) измеряет размеры окна или любого из окон, м) измеряет площадь окна или любого из окон, н) определяет количество точек в пределах окна или любого из окон, о) рассчитывает функцию парной корреляции для полученного плоскостного точечного процесса, п) сохраняет в запоминающем устройстве данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, р) выводит из запоминающего устройства данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, с) выводит из запоминающего устройства на дисплей данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, т) выводит из запоминающего устройства на печатающее устройство данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, у) сохраняет в запоминающем устройстве получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ф) выводит из запоминающего устройства получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, х) выводит из запоминающего устройства на дисплей получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ц) выводит из запоминающего устройства на печатающее устройство получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ч) с применением известных в стереологии принципов забора материала рассчитывает статистику редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве для любого значения r при полученном наборе окон и/или образцов.202. Способ по п.179, отличающийся тем, что компьютер (ЭВМ) выполняет любую из следующих операций либо любую комбинацию из следующих операций: а) генерирует направление плоскости сечения объектов, б) генерирует расположение плоскости сечения объектов, в) подвергает исследуемые объекты сечению, г) выбирает окно для анализа объектов, д) распознает профили сечения объектов в окне, е) представляет профили сечения объектов в виде оцифрованных изображений, ж) производит полуавтоматизированную сегментацию изображений профилей сечения объектов, з) выполняет автоматизированную сегментацию изображений профилей сечения объектов, и) представляет совокупность профилей сечения объектов в окне в виде плоскостного точечного процесса, точки которого характеризуют расположение профилей сечения объектов, к) осуществляет измерения плоскостных координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, л) измеряет размеры окна или любого из окон, м) измеряет площадь окна или любого из окон, н) определяет количество точек в пределах окна или любого из окон, о) рассчитывает функцию парной корреляции для полученного плоскостного точечного процесса, п) сохраняет в запоминающем устройстве данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, р) выводит из запоминающего устройства данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, с) выводит из запоминающего устройства на дисплей данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, т) выводит из запоминающего устройства на печатающее устройство данные, получаемые при измерении координат точек, характеризующих расположение профилей сечения объектов, у) сохраняет в запоминающем устройстве получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ф) выводит из запоминающего устройства получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, х) выводит из запоминающего устройства на дисплей получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ц) выводит из запоминающего устройства на печатающее устройство получаемые данные о пространственной корреляции исследуемых объектов, ч) с применением известных в стереологии принципов забора материала рассчитывает статистику редуцированной функции парной корреляции объектов в пространстве для любого значения r при полученном наборе окон и/или образцов.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2008 года RU2326441C2

СПОСОБ СТЕРЕОЛОГИЧЕСКОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ АНИЗОТРОПИИ ОБЪЕКТОВ 2001
  • Красноперов Р.А.
  • Герасимов А.Н.
RU2211487C2
Ультразвуковой дефектоскоп 1991
  • Качанов Владимир Клементьевич
  • Карташев Владимир Герасимович
  • Питолин Александр Иванович
  • Рябов Геннадий Юрьевич
  • Мозговой Александр Всеволодович
  • Гриценко Виктор Николаевич
SU1778676A1
RU 2001112422 A, 27.05.2003
WO 9827415 A1, 25.06.1998.

RU 2 326 441 C2

Авторы

Красноперов Ренат Анатольевич

Даты

2008-06-10Публикация

2003-10-21Подача