Изобретение относится к области радиоэлектроники и может быть использовано преимущественно для изготовления проводящего слоя низкоомных резисторов и резистивных элементов схем, работающих в низкоомном диапазоне, различных функциональных устройств.
В литературе описан ряд материалов с содержанием хрома, кобальта и/или никеля и других добавок, обеспечивающих материалам относительную дешевизну, недефицитность, возможность улучшения требуемых основных параметров резистивного материала: удельного электросопротивления (R) и температурного коэффициента электросопротивления (ТКС). Например, в описании изобретения к авт. св. СССР №520628, 17.01.75, представлен резистивный материал на основе хрома, содержащий железо, никель и смесь окислов. Указано, что введение в материал никеля смещает ТКС в область положительных значений. Для обеспечения плавного смещения ТКС в область положительных значений и уменьшения абсолютных значений ТКС до (±10-100)×10-6 1/°С в материал дополнительно вводят алюминий.
Однако при удельных сопротивлениях резистивной пленки менее 10 Ом/□ возрастает абсолютная величина ТКС и зависимость его от удельного сопротивления не снижена.
Известны резистивные материалы, используемые в микроэлектронике для изготовления резисторов, содержащие кремний, никель и кобальт (Авт. св. СССР №414917, кл. Н01С 7/00, 1972); содержащие кобальт и/или никель, тантал и дисилицид железа (Авт. св. СССР №1775733, кл. Н01В 1/04, 1992), недостатком которых можно указать как значительную величину ТКС, так и относительно узкий диапазон удельного сопротивления. Введение в резистивный материал кобальта и/или никеля, как было установлено авторами, способствует уменьшению ТКС. Исследования также показали, что кобальт и никель и их смесь оказывают заметное влияние на электрические свойства материала.
Известен резистивный материал для изготовления толстопленочных пассивных элементов интегральных схем, включающий кобальтит никеля и модифицирующую добавку, в качестве которой используют марганец (А.с. СССР №1003156, кл. Н01С 7/00, 1981). Авторы предлагают выбирать соотношение никеля к кобальту 1:2, как стехиометрическое для достижения максимальной гомофазности системы.
Введение марганца в резистивный материал обеспечивает материалу снижение зависимости сопротивления от температуры.
Известен, взятый за прототип, резистивный материал, используемый для металлизации резисторов низкоомного диапазона, содержащий хром; вольфрам; диоксид марганца и кремний, преимущественно при следующих соотношениях ингредиентов, вес.%: хром 80-81; вольфрам 9,5-10,0; диоксид марганца 6,5-7,0 и кремний 3,0. [А.с. СССР №894804, кл. Н01С 7/00, 1980].
Этот материал используется в производстве резисторов и мишеней, полученных методом порошковой металлургии (вакуумным литьем) из металлических порошков, из которых основным компонентом является хром. Введение в известный резистивный материал диоксида марганца позволяет снизить ТКС получаемых резистивных пленок, расширить диапазон их удельных сопротивлений, сохранить во всем диапазоне высокую стабильность свойств во времени при температуре окружающей среды до +200°С. Отмечено, что введение MnO2 способствует стеклообразованию, это позволяет получать более прочные мишени. К недостаткам известного материала следует отнести невозможность производства на его основе низкоомных резисторов, а резисторы, полученные при распылении мишени из этого известного материала, имеют низкое электрическое сопротивление и высокий температурный коэффициент сопротивления.
Задачей изобретения являлось создание отечественного доступного в производстве резистивного материала, обеспечивающего требуемую термопрочность мишеней, а также снижение термического коэффициента сопротивления пленок и временной нестабильности от температуры сопротивления низкоомных резисторов, используемых в различных функциональных устройствах.
Техническим результатом данного изобретения является создание дешевого резистивного материала оптимального состава, обеспечивающего возможность его магнетронного распыления, ограничивающего число составляющих компонентов, и гарантирующего требуемые ТКС и R получаемых проводящих пленок низкоомных резисторов.
Технический результат достигается тем, что резистивный материал, включающий хром и модифицирующую добавку диоксида марганца, характеризуется тем, что он дополнительно содержит в качестве модифицирующих добавок кобальт и никель, а в качестве легирующих добавок железо и титан, при следующем количественном соотношении компонентов, вес.%: хром 90-94, диоксид марганца 1-4, никель 1-2, кобальт 4-6, железо 0.03-0.1, титан 0.1-0.2.
Дополнительное введение в состав известного резистивного материала новых компонентов - никеля в количестве 1-2 вес.% и кобальта в количестве 4-6 вес.%, при одновременном введении диоксида марганца в количестве 1-4 вес.%, обеспечивают материалу сохранение немагнитности - антиферромагнитного состояния и достаточной «летучести» компонентов в спеченной мишени, а полученные из него токопроводящие пленки имеют ТКС до ±100×10-6 1/°С и сопротивление от 0,1 до 3,0 Ом.
В ходе экспериментальных исследований авторами было установлено, что при содержании модифицирующих элементов в пределах, указанных в формуле изобретения, величина ТКС меньше, чем в известных резистивных материалах на основе хрома. Кроме того, выбранное оптимальное соотношение модифицирующих элементов (MnO2, Со и Ni) позволило получить мишень с наименьшей аномалией в зависимости от температуры в диапазоне от 20 до 155°С.
При введении в состав резистивного материала никеля менее 1÷2 вес.% и кобальта менее 4÷6 вес.%, диоксида марганца менее 1÷4 вес.% и при введении никеля более 1÷2 вес.%, кобальта более 4÷6 вес.%, а диоксида марганца более 1÷4 вес.% получают величину ТКС больше, чем в материале-прототипе.
Исследования подтвердили, что никель, кобальт и диоксид марганца, взятые в пределах, указанных в формуле изобретения, независимо от соотношения элементов, входящих в состав резистивного материала, оказывают одинаковое влияние на электрические свойства материала. Для компенсации положительных значений ТКС в материал дополнительно вводят в указанных соотношениях, выбранных опытным путем, железо и титан, этим достигается легирование при распылении токопроводящей пленки резистора и компенсация положительных значений ТКС.
В результате проведенного информационного поиска не обнаружено резистивного материала, содержащего все упомянутые ингредиенты в указанных соотношениях, что позволяет сделать вывод о его новизне.
Для приготовления методом порошковой металлизации образцов описываемого материала использовались порошки: основного компонента - хрома (Cr), модифицирующих добавок - порошки металлов с низким удельным сопротивлением - никеля (Ni) (6,844·10-6 Ом·см), кобальта (Со) (6,24·10-6 Ом·см), а также диоксида марганца (MnO2), который при спекании частично восстанавливается до чистого марганца и способствует устранению в полученной из резистивного материала мишени аномалии зависимости R от температуры.
Порошки компонентов предварительно просеивались через сито, взвешивались и приготавливалась шихта в соответствии с рецептурами, указанными в таблице.
Затем изготавливались мишени из смеси резистивного материала в виде секторов путем последовательного осуществления следующих операций: прессование секторов, спекание секторов, отжиг секторов и их сортировка по внешнему виду. Токопроводящие пленки, полученные при магнетронном распылении мишеней, имели положительное значение ТКС. Для компенсации положительных значений ТКС, при напылении заявляемого резистивного материала в установке ионно-плазменной металлизации (УПН) на заготовки резисторов при получении проводящих пленок использовали крепежные накладки на мишень в виде дисков или из титана и/или из стали. Диаметры дисков варьировались от 85 до 145 мм. Время напыления составило 120-240 минут, что обеспечило легирование токопроводящей пленки резисторов железом (0.3-0.1)% Fe и титаном (0.1-0.2)% Ti и коррекцию значения ТКС.
В таблице приведены примеры изготовленных смесей с различным содержанием исходных компонентов и результаты их испытаний.
Таким образом результаты, приведенные в таблице, подтверждают выбранные оптимальные соотношения компонентов состава резистивного материала (смеси №1-№3).
Удельное значение сопротивления смесей №4 и №5, с содержанием модифицирующих компонентов, выходящих за пределы заявленных, в среднем, более 3,0 Ом, а ТКС полученных резисторов превышает допустимые значения. Как видно из примеров, использование заявленного резистивного материала подтверждает его преимущества по сравнению с прототипом.
Простота получения заявляемого резистивного материала и высокая производительность процесса его магнетронного напыления на керамические основания обеспечивают возможность его использования без дополнительных затрат в серийном производстве низкоомных резисторов с требуемыми электрическими параметрами и позволяют изготавливать на их основе приборы с высокой прецизионностью.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
РЕЗИСТИВНЫЙ МАТЕРИАЛ И МИШЕНЬ ИЗ РЕЗИСТИВНОГО МАТЕРИАЛА | 2006 |
|
RU2323496C1 |
МАТЕРИАЛ ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ РЕЗИСТОРОВ И СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ РЕЗИСТИВНОЙ ПЛЕНКИ НА ЕГО БАЗЕ | 2006 |
|
RU2323497C1 |
Способ изготовления многослойной тонкопленочной гетероструктуры с заданной величиной удельного поверхностного сопротивления | 2020 |
|
RU2750503C1 |
МАТЕРИАЛ ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ РЕЗИСТОРОВ | 2007 |
|
RU2340024C1 |
Резистивный материал для тонкопленочных резисторов | 1981 |
|
SU1019500A1 |
РЕЗИСТИВНЫЙ МАТЕРИАЛ ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ РЕЗИСТОРОВ | 2008 |
|
RU2369934C1 |
МАТЕРИАЛ ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ РЕЗИСТОРОВ | 2008 |
|
RU2369933C1 |
МАТЕРИАЛ ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ РЕЗИСТОРОВ | 2007 |
|
RU2340971C1 |
Материал для низкоомных тонкопленочных резисторов | 1981 |
|
SU1014045A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ НАНО- И МИКРОРАЗМЕРНОЙ СИСТЕМЫ ДАТЧИКА ФИЗИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН С ЗАДАННЫМ ПОЛОЖИТЕЛЬНЫМ ТЕМПЕРАТУРНЫМ КОЭФФИЦИЕНТОМ СОПРОТИВЛЕНИЯ РЕЗИСТИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ | 2014 |
|
RU2554083C1 |
Изобретение относится к области электротехники, в частности к резистивному материалу для изготовления проводящего слоя низкоомных резисторов и резистивных элементов схем, работающих в низкоомном диапазоне. Резистивный материал содержит хром, модифицирующие добавки диоксида марганца, кобальта и никеля, легирующие добавки железа и титана, при следующем количественном соотношении компонентов, вес.%: хром 90-94, диоксид марганца 1-4, никель 1-2, кобальт 4-6, железо 0.03-0.1, титан 0.1-0.2. Техническим результатом изобретения является снижение термического сопротивления пленок и временной нестабильности от температуры сопротивления низкоомных резисторов. Предложенный резистивный материал обеспечивает получение в отечественном производстве термостойких мишеней, при магнитронном распылении которых получают токопроводящие пленки низкоомных резисторов с сопротивлением 0,1-3,0 Ом, ТКС - до ±100×10-6 1/°С. 1 табл.
Резистивный материал, включающий хром и модифицирующую добавку диоксида марганца, отличающийся тем, что дополнительно содержит в качестве модифицирующих добавок кобальт и никель и в качестве легирующих добавок железо и титан при следующем количественном соотношении компонентов, вес.%:
Резистивный материал | 1980 |
|
SU894804A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ РЕЗИСТИВНОГО НАГРЕВАТЕЛЬНОГО ЭЛЕМЕНТА | 1993 |
|
RU2066514C1 |
SU 1752009 А1, 10.01.1996 | |||
US 4743427 А, 10.05.1988 | |||
DE 4143015 А, 01.07.1993. |
Авторы
Даты
2008-07-27—Публикация
2007-05-04—Подача