Магнитный дефектоскоп Советский патент 1983 года по МПК G01N27/87 

Изобретение относится к неразрушающим методам испытаний материалов и изделий магнитным методом и м жет быть использовано для контроля . качества,ферромагнитных изделий в машиностроительной и,металлургическ -промышленности. Известно устройство, содержащее корпус, установленный неподвижно в корпусе магнит, магниточувствительный элемент, установленный в цилинд рической полости кольцевого магнита и регистрируюи,ий прибор Ij, Однако это устройство имеет вены сокую чувствительность и достоверность контроля, обусловленную влиянйем колебания зазора на конечный результат контроля. Наиболее близким по технической сущности к изобретению является маг нитный дефектоскоп, содержащий корпус,.магнит, цилиндрический электро магнит, магниточувствительный элемент и регистрирующую аппаратуру, Электромагнит броневого типа устано лен неподвижно, а в зазоре между электромагнитом и изделием установлен с возможностью вращения немагни ный диск. На диске установлена прям угольная измерительная катушка, ось 1максимальной чувствительности которой совпадает с направлением магнитно го потока.2, Недостатком данного устройства я ляется низкая достоверность контрол 9к дефектам контролируемой поверхнос ти из-за чувствительности датчика к изменению зазора между датчиком и изделиям. Кроме того, оно чувствительно к внешним магнитным полям из за конструктивного исполнения датчи ка. Целью йзЬбретения является повыше ние достоверности контроля. Поставленная цель достигается тем что в магнитном дефектоскопе, содержащем корпус, магнит, магниточувствительный элемент и регистрирующий блок, магнит выполнен кольцевым и ус тановлен в корпусе с возможностью вращениявокруг оси, магниточувствительный элемент закреплен на торце магнита и выполнен по схеме градиентомеров, ориентированных осями максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси магнита. Кроме того, рабочий торец кольцевого магнита вьшолнен в форме сферического пояса. На фиг.1 изображен дефектоскоп для контроля плоской поверхности} на фиг.2 - то же, вид сбоку; на фиг.2 - распределение магнитного поля дефекта в зазоре между магнитом и изделием; на фиг.4 - положение дат чика над шаровой поверхностью. Магнитный дефектоскоп содержит ко пус 1 датчика, кольцевой магнит 2, магниточувствительные элементы 3 и 4, выполненные по схеме градиентомеров, вал 5, регистрирующий блок 6. Кольцевой магнит 2 установлен на валу 5 с возможностью вращения относительно оси 7, а магниточувствительные элементы 3 и 4 установлены на рабочей поверхности 8 кольцевого магнита 2 и сориентированы осями 9 максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на. оси 7 кольцевого магнита 2, расположенного над изделием 10 плоской или шаровой формы, имеющим дефект 11 с полем 12 рассеяния. Магнитный дефектоскоп для контроля плоских изделий работает следующим образом. Датчик дефектоскопа (фиг.1) устанавливают на контролируемую поверхность изделия 10, приводят во вращение магнит 2 вокруг его оси 7 и перемещают датчик по поверхности контролируемого изделия 10. При этом магнит 2j намагниченный вдоль, оси 7, намагничивает изделие в зоне расположения магниточувствительных .элементов 3 и 4 нормально контролируемой поверхности. Если при перемещении по изделию 10 датчика дефектоскопа S намагничиваемую зону попадает дефект 11-(фиг.2), то он образуе.т магпитное поле 12 рассеяния. Так как .магниточувствительньае элементы 3 и 4 . сориентированы осями 9 (фиг.1) максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси 7 кольцевого магнита 2, то при прохождении их над дефектом 11 на элементы 3 и 4 действует тангенциальная составляющая магнитного поля 12 рассеяния, в результате чего на выходе элементов 3 и 4 появляется ЭДС, которая регистрируется блоком 6. Кроме того, благодаря такой ориентации магниточувствительных элементов 3 и 4 производится отсройка от влияния зазора между датчиком и изделием. Изменение зазора сопровождается изменением магнитного поля в зазоре. Однако все изменения происходят в рамках той симметрии, которую имеет магнитное поле кольцевого магнита, а силовые линии этого поля перпендикулярны направлению оси 7 максимальной чувствительности магниточувствительных элементов 3 и 4, Соединение элементов 3 и 4 по схеме градиентомера способствует повышению отношения сигнала от дефекта помеха, т.е. повышению селективности устройства к дефектам. Магнитный дефектоскоп для контроля шаровой поверхности (фиг.З) работает следующим образом. Датчик дефектоскопа устанавливают на шаровую поверхность 10, приводят во вращение магнит 2 вокруг его оси 7, чем осуществляется сканирова

1. МАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП, содержащий корпус, магнит, магниточувствительный элемент и регистрирующий блок, отличамцийс я тем, что, с целью повьшения достоверности контроля,.магнит выполнен кольцевьм и установлен в корпусе с возможностью вращения вокруг своей оси, магниточувствительный элемент закреплен на торце магнита и выполнен по градиентомеров, ориентированных осями максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси магнита. 2. Дефектоскоп по п.1, от л ичающийся тем, что рабочий торец кольцевого магнита выполнен в форме сферического пояса. t (Л с g с о 4