Компаратор для измерения длин Советский патент 1956 года по МПК G01B9/08 G01B11/02 

Известные компараторы для измерении длин основаны на сравнении iju7 eKTOB с Н1ТРНХОВЫМН мерами, у которых пгтрихи имеют в сечении неоиределенны И1)офпль и наблюдаются как контрастнь е линни.

Предлагаемый комиаратор для измерения длин относится к этому же тииу нриборов, но для иоБытения точности показаний он снабжен штриховой иитерферендионнои мерой, у которой штрихи имеют li сечении У-обра иый И1)и1|)иль. иричем боковые иоверхности штрихов служат нодвижнымн зеркалами ннтерферен(ионной части компаратора.

Согласно изобретенню, эта часть иыиолнеиа но следуюн ей схеме (фиг. 1): электрическая лампа (1) освещает диагональную поверхность кубика (2), которая разделяет свет на два пучка. Один пучш; проходит через равностороннюю призму (3) и падает па боковые поверхности зеркала (4), расположенпые под углом 60° одна к .другой. Другой пучок проходит через та1;ую /ке призму (5) и падает па боковые поверхности штриха меры (6), 11асположснные также нод углом 60 одна к друго11.

Пучки света, от1)аженпыс iioiseiXiniстямп нгтриха и зеркала, частично проходят в объектив (7) и при неболыппй )азпости хода лучей иитерферируют li плоскости шкалы (8), которая наблюдается через окуляр (9).

В иоле 31)еппя (фиг. 2) при .1ом свете на ;3ображеп1 нх боковых пове)хностой шт:риха будут видны отдельные системы цветных интерференционных по.}1Ч- 1 среди них черные ахроматические

полосы, кшорые cлiжaт лказателями ио.чожения ме11ы относительно компаратора.

Цена деления шкалы перемеппа п стапаиливается на Т1) велпчпну путем нзменепия шнрнны интерференционных полос.

Пз51ерення на предлагаемом компараторе заключаются в непосредственном срав1генип объектов с интерферепдпоппой штриховой мерой.

Преимуп1ество нового компаратора перед компараторами, применяемыми для сравнительных измереп1ГЙ .длин, состоит . увеличении точпостп измерении, которая в данно5 случае достигается с иомои1;ыо интерференции света.

При изготовлении интерферепционных штрнховых МО) Т-образные И1трнхп могут быть нанесены различными способами. Панрнмер. мера может быть втзпюлнена из тве1) металла (стали), покрыта слоем более мягкого пластичного металла (алюминия) и па нем нанесены Т-образпые штрихи путем надавливапия пуансопом. П5 еюн;им зеркальпо полированные новерхпости п Форму, под ную форме при;,м компаратора.

11 о е д л1 е т и , м ii

i. IvoMHapaToji д.и: измерения длин сравннтельным плн контактным способом с .1ховой ннтерФереннпонно мерой, и, т л и ч а ю п и и с я . что мера, вст)оенная в компаратор, имеет У-образиые в сечении нирихи, боковые новерхности которых служат подвижными зеркалами интерференщюнной части компаратора, выполненной но схеме, обеспечивающей получение интерференции белого света, причем черные ахроматические интерференционные полосы являются указателями положения меры при проектировании этих полос на шкалу, находящуюся перед окударом микроскопа, установленного на штрихи меры.

2. Форма выполнения компаратора но п. 1, отличающаяся тем, что мера выполнена из твердого металла, например, стали, нокрытого слоем мягкого нлаСтичного металла, например, алюминия, штрихи на котором нанесены путем надавливания пуансоном, имеющим зеркально полированные пов&рхности ж форму, подобную форме призмы компаратора.