Способ корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента для изготовления оптической детали Советский патент 1983 года по МПК B24B37/00 B24B53/00 B24B13/00 

Изобретение относится к производству оптических деталей и может быть использовано при изготовлении крупногабаритных деталей высокой точности. Известен способ корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента для притирки деталей, согласно которому регистрируют отклонения поверхности инструмента по лекальной линейке и дорабатывают участки его поверхности до исчезновения отклонений 1. Этот способ не обеспечивает высокую точность корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента, вследствие малой разрешающей способности метода контроля по лекальной линейке. Известен также способ корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента для изготовления оптической детали, согласно которому инструментом поэтапно обрабатывают поверхность детали, создают интерференционную картину от поверхности детали, регистрируют отклонение интерференционных полос и с учетом полученных данных дорабатывают участки поверхности инструмента до исчезновения отклонений, причем об исчезновении отклонений судят по исчезновению полос интерференции 2. Этот способ является малопроизводительным, так как при контроле отклонений не могут быть получены данные по величине подлежащего удалению с инструмента слоя материала. Цель изобретения - повышение производительности корректирующей обработки поверхности инструмента. Указанная цель достигается тем, что согласно способу корректирующей обработки рабочей поверхности инструмента для изготовления оптической детали, по которому инструментом поэтапно обрабатывают поверхность детали, создают интерференционную картину от поверхности детали, регистрируют отклонение интерференционных полос и с учетом полученных данных дорабатывают участки поверхности инструмента до исчезновения отклонений, интерференционную картину создают путем дискретного смещения относительно друг друга двух идентичных волновых фронтов, сформированных от обрабатываемой поверхности, а место и величину необходимой доработки поверхности инструмента определяют по отклонению участков первой полосы интерферрграммы от проведенной к ней касательной линии, параллельной нулевой полосе. На фиг. 1 показана интерферрграмма сферического зеркала из стекла марки К8, диаметром 500 мм, имеющего радиус сферы 1000 мм; на фиг. 2 - конфигурация рабочей поверхности инструмента, соответствующая интерферрграмме на фиг. 1 (рабочая часть поверхности заштрихована); на фиг. 3 - интерферрграмма, полученная после 1 57 обработки детали инструментом, конфигурация рабочей поверхности которого приведена на фиг. 2. Предлагаемый способ предусматривает поэтапную обработку детали с контррлем ее поверхности после каждого этапа обработки и последующую доработку поверхности инструмента. Так как рабочая поверхность инструмента состоит из полировочной смолы, то ее доработка может прризводиться одним из известных методов: подрезкой, нанесением смоляного слоя, опрессовкой. Смещение волновых фррнтов можно прризводить при помощи интерферрметррв бокового сдвига. Для наилучшей коррекции рабочей поверхности инструмента необходимо, чтобы размах траектории инструмента, а соответственно и смещение волновых фррнтов находились в пределах 0,1 диаметра обрабатываемой детали, а ширина интерференционных полос равнялась 0,5 смещения, так как в этом случае первая полоса пррходит через центр детали и ее длина практически равна диаметру детали, что важно для правильного определения величины ошибок и радиусов зон, в KOTOpbix эти ошибки имеются. Для определения места и величины необходимой доработки поверхности инструмента на интерферрграмме пррводят линию, параллельную Нулевой полосе, касающуюся первой полосы в зоне планируемого максимального съема, пррводят перпендикулярь к нулевой полосе в зонах отклонения первой полосы от пррведенной линии, а также через центр иНтерферрграммы, определяют отклонения первой полосы от пррведенной прямой во всех зонах, после чего определяют коэффициенты заполнения рабочей поверхности инструмента в зонах с радиусами, равными расстояниям от перпендикуляра, проходящего через центр ИНтерферрграммы до данной зоны в масштабе инструмента, по формулеKiH К,с 1(1-Ко) f-.}, гдеХ1 -отклонение первой полосы от пррведенной линии в i-й зоне на j-й интерферрграмме; Xmsxj- максимальное отклонение первой полосы от пррведенной линии на J-й интерферрграмме; Ко - коэффициент заполнения смолы в зоне с максимальным отклонением первой полосы отпроведенной линии;Kit -старый коэффициент заполнения смолы в i-й зоне; KiH -новый коэффициент заполнения смолы в i-й зоне, соответственно которым осуществляют корректи рующую обработку рабочей поверхности инструмента.

СПОСОБ КОРРЕКТИРУЮЩЕЙ ОБРАБОТКИ РАБОЧЕЙ ПОВЕРХНОСТИ ИНСТРУМЕНТА ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ДЕТАЛИ, согласно кото тах рому инструментом поэтапно обрабатывают поверхность детали, создают интерференционную картину от поверхности детали, регистрируют отклонение интерференционных полос и с учетом полученных данных дорабатывают участки поверхности инструмента до исчезновения отклонений, огличающийся тем, что, с целью повышения производительности обработки, интерференционную картину создают путем дискретного смешения относительно друг друга двух идентичных волновых фронтов, сформированных от обрабатываемой поверхности, а место и величину необходимой доработки поверхности инструмента определяют по отклонению участков первой полосы интерферограммы от проведенной к ней касательной линии, параллельной нулевой полосе. $ (Л сд ю сд 1