Способ ультразвуковой дефектоскопии Советский патент 1984 года по МПК G01N29/04 

/

I

50

4

sD Изобретение относится к неразрушающему контролю и может найти применение .при дефектоскопии ультразву ковых пьезоэлементов. Известен способ ультразвуковой дефектоскопии пьезоэлементов, заклю ющийся в том, что возбуждают в пьез элементе зондирукадий ультразвуковой импульс, регистрируют электрические сигналы, преобразованные из акустических эхо-импульсов, по которым и определяют дефектность изделия l. Недостатком известного способа является низкая чувствительность к дефектам с малым коэффициентом отра жения ультразвука. Другой недостаток состоит в невысокой достоверности обнаружения дефектов, лежащих на оди наковом расстоянии от передней и зад ней поверхностей пьезоэлемента. Цель изобрехения - увеличение чувствительности и достоверности контроля. Поставленная цель достигается тем что в способе ультразвуковой дефекто скопии пьезоэлементов, заключающемся в том, что возбуждают в пьезоэлемент зондирующий ультразвуковой импульс, регистрируют электрические сигналы, по которым определяют дефектность пьезоэлемента, регистрируют импульсы электрического тока с пьезоэлемента возникающие в момент прохождения зондирующего импульса через дефект, На чертеже представлена схема реализации способа ультразвуковой дефектоскопии. Схема содержит импульсный лазер 1, направленный на.пьезоэлемент 2 с электродами 3, к которым подключен электронный усилитель 4 с индикатором 5. Светоделительная пластина б оптически связана со светодиодом 7, подключенным к каналу синхро низации индикатора 5, Способ осуществляется следующим образом. Световым импульсом от лазера 1 в пьезоэлементе 2 возбуждают короткий зондирующий ультразвуковой импульс. При прохождении зондирующего импульса через дефект в области нарушения сплошности пьезоМатериала благодаря пьезоэффекту возбуждается электрическое поле. В цепи пьезоэлемента, включенного в режиме короткого замыкания, возникает импульс тока. Импульс тока усиливают в усилителе 4 и регистрируют на экране индикатора 5г, развертку которого запускают синхроимпульсом со светодиода 7, возбуждаемого световым импульсом. Амплитуда регистрируемого импульса зависит от величины дефекта, а временное положение - от глубины его залегания. 1Гаким образом, глубина залегания дефекта определяется по значению временной зашержки импульса тока относительно импульса возбуждения по формуле h « ct , где h - глубина залегания дефекта; С - скорость продольных ультразвуковых волн в пьезоэлементе; - временной интервал между импульсом возбуждения и регистрируемым импульсом тока. Таким образом, изобретение позволяет увеличить чувствительность ультразвуковой .дефектоскопии пьезоэлементов к дефектам с малым акустическим коэффициеитсм отражения и повысить достоверность контроля.

СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ пьезоэлементов, заключающийся в тсал, что возбуждают в пьезоэлементе зондирующий ультразвуковой импульс, регистрируют электрические сигналы, по которым определяют дефектнодть пьезоэлемеита, о т л и ч а ющ и и с я тем, что, с целью увеличения чувствительности и достоверности контроля, регистрируют импульсы электрического тока с пьезоэлемента, возникающие в момент прохождения зондирующего импульса через дефект.