Способ выявления микроструктуры ферритных материалов Советский патент 1957 года по МПК G01N1/32 H01F1/10 H01F1/34 

Изобретение относится к способам выявления микроструктуры изделий из ферритных материалов, например, неметаллических полупроводниковых материалов, состоящих из смеси окислов железа, никеля, цинка, марганца и других металлов.

Известные способы, предусматривающие изготовление щлифов путем шлифования, полирования и травления, характеризуются больщой трудоемкостью. Для устранения этого недостатка предлагается, согласно изобретению, использовать при оформлении изделий полированные поверхности пуансона (матрицы), в случае прессования, или полированные поверхности формы, в случае литья, придающие заготовке гладкую зеркальную поверхность, на которой микроструктура выявляется при технологическом обжиге. При этом в значительной степени повышается производительность и обеспечивается возможность массового контроля готовых изделий,, изготовляемых методом прессования или литья.

Зыяв. микроструктуры на зеркальной поверхности изделий осуществляется без дополнительных операций. Крпста, лпческая структура ферритов четко формируется во время технологического обжига за счет сдвигов на поверхности, происходящих при со образовапнп. Предлагаемый способ отличается точностью, .1ой трудоемкостью н дешевизной.

i I п е д м с т li;- о б р е т е п и я

Способ выявления М1 кроструктуры ферритных материалов.

от л ис целью

чающийся тем, что, онераиий, устранения трудоемких связанных с изготовлением микрошлифов (шлифование, полирование и травление), и возможности исследования микроструктуры па готовых изделиях, полируют пуапсоп при прессовании или литейную форму при литье, которые при оформлении изделий придают aтepиaлy зеркальную поверхность, на которой при технологическом обжиге выявляется микроструктура матеоиала.