Способ выявления микроструктуры керамики Советский патент 1979 года по МПК C04B41/02 

Изобретение относится к способам выявления микроструктуры керамики . и может быть применено для изучения структурных составляющих керамики преимущественно на основе окиси магния.

Известен способ травления .тонких керамических пленок 1. Способ применяется для утоньшения керамических пленок путем выдержки ее в ортофосфорной кислоте при 100-175 0 (в зависимости от глубины травления) в течение 10-30 мкн. В указанных уеловияХ микроструктура керамики не выявляется, происходит, лишь загрязнение поверхности или разъединение локальных мест.

Известен способ выявления микроструктуры керамики из окиси алю1«шния 2. Подготовленный шлиф выдерживают в расплавленной буре при 1000°С в течение 8-10 сек. Указанный способ требует относительно высоких температур обработки шлифа и такой реактив не выявляет структуры керамики из окиси,магния.

Из известных способов наиболее близким по технической сущности является способ выявления структуры путем шлифования, полирования и обработки кипящей концентрированной соля

ной кислотой {33, :

Время травления .составляет Ю 30 ;МЙн; Однако для на основе окиси магния этот метод непригоден, i-aik как да жеТюсле чаШвр г6 кйпячения в концентрированной соляной кислоте зерна керамики звообще не выявляются, а шлиф уже разрушается.

Цель изобретения - ускорение про; цесра и четкое выявление межэерновы границ.:

. Поставленная цель достигается тем что в способе выявления микроструктуры керамики путем шлифования, полирования и обработки првер хности в кислоте обработку проводят в парах кипящей ортофосфорной кислоты в течение сек.

Способ выявления структуры керамики проверен в лабораторных условиях путем ряда опытов. Образца из окиси магния или смеси Фуют, полируют и выдерживают над парами кипящей ортофосфорной кислоты в течение 10,36,60 сек.

Время выявления зерен зависит от состава KepaNinkn, степени ее спеченности и других технологических факторов, поэтому для каждого состава

нужно его определять эксперименталь

ЙО; ---V --: :--- - - 4eptie«e представлена микро.структура керамики из окиси магния до травления (а,в,д) и после травлв ния - в течение 10 сек (6), 20 сек (г) и 60 сек. (е) и керамики из МдОАй Ов до травления (ж) и после (э)-. ;:. : - . : . -. ;.. .. .:. ; : ...

Щ)едлагаемый способ прост, очень удобен, и эффективен, не требует спе циальНс аппаратуры, Кроме того, по сравнению с известным методом затрачивается очень мало времени на выяв леНие микроструктура.

Формула изобретения

CnouotJ выявления микроструктуры керамики проямущественно на основе

854

окиси магния путем шлифования, полирования и обработки поверхности в кислоте, отличающийся тем, -что, с. целью ускорения процесса и четкого выявления межзерновах границ, обработку проводят в парах кипящей ортофосфорной кислоты в течение, 10-ёО сек.

Источники информации, принятые во

внимание при экспертизе

1. Hayashi ., Haiyashl V ull electirptechn. lab. 1976, v. 40, 4-5, p. 417-420.

2. Engelhardt G., Kalb S.,

Berichte der Deutsche Keramische Gesellschaft, 1974, 8, s. 231. 3, Metcalfe B.L., Sant J.H,

Trans, and J. Brit, Ceram. Soc, 1975, V. 74, № 6, 193-201.

,-;;.,-:-:

V,j.,.:.;

ж А А Я :

kft Jk - V«

.