Способ бесконтактного контроля формы поверхности,имеющей образующую Советский патент 1985 года по МПК G01B11/25 G02B27/60 

Описание патента на изобретение SU1173181A1

со Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения отклонений форМ} поверхности, имеющей образующзгю, от эталонной. Целью изобретения является повышение производительности контроля. На чертеже изображена схема, пояснякяцая способ бесконтактного контроля формы поверхности, имеющей образукяцую. Способ осуществляется следующим образом. С помощью концевых профилей 1 и 2 предварительно перемещают образующую 3 поверх-ности по закону ее образования. Перемещение образующей 3 поверхности производят на светопоглощающем фоне..Образуют эталонный растр на перемещающейся образующей 3 поверх ности, проецируя на нее.как на экран растр с помощью проектора 4. Формируют два растра, согласованных с эталонным, путем фотографирования этаЛ1энного растра с заданных|1аправлений. Фотографирование производят фотокамерами 5 и 6 методом многократной экспозиции на один и тот же кадр в течение времени перемещения образующей 3 поверхности от одного крайнего подожения до другого. Скорость перемещения образующей выбирают и.з условия обеспечения необходимой для фотосъемки экспозиции. В результате фотографи рования на двух фотопластинках, по.лученных от двух фотокамер 5 и 6, получают растры, как если бы они-были сфотографированы с эталонной, поверхности. Фотокамеры 5 и 6 обеспечивают возможность как фотографирования растра на фолопластинку, так и проецирования его с фотопластинки без изменения положения фотопластинки относительно оптической оси. Полученные фотосъемкой растры устанавливают в камеры 5 и 6 и проецируют их на контролируемую поверхность, устанавливаемую взамен образующей 3 с концевыми профилями. Контролируемая поверхность устанавливается в положение, при котором ее образующая расположена в пространстве относительно фотокамер 5 и 6 идентично расположению образующей 3 при фотосъемке. Если формс контролируемой поверхности не имеет отклонения от заданной при фотографировании, то изображения спро.ецированных на нее растров совпадают, т.е. достигается согласование растров. Следствием такого согласования растров является отсутствие муаровых полос на-поверхности. Если контролируемая поверхность имеет участки с отклонениями от эталона, изображения растров на этих участках оказываются неидентичными, благодаря чему образуются муаровые полосы. Картину муаровых полос регистрируют и судят по ней оформе контролируемой поверхности. I Таким образом, путем предварительного перемещения образующей поверхности по закону ее образования, образования эталонного растра на перемещающейся образующей поверхности и формирования двух растров путем фотографирования эталонного растра с заданных направлений, отпадает необходимость изготовления эталонной поверхности, что позволяет существенно повысить производительность контроля.

Похожие патенты SU1173181A1

название год авторы номер документа
Способ контроля отклонения формы поверхности от эталонной 1980
  • Колесов Борис Николаевич
  • Духович Валерий Аркадьевич
SU1165881A1
Способ получения и фиксирования картины муаровых полос 1989
  • Колмогоров Герман Леонидович
  • Конников Герман Германович
  • Скиба Константин Викторович
  • Ширинкин Сергей Николаевич
  • Макарова Луиза Евгеньевна
SU1716323A1
ГРАФО-ПРОЕКЦИОННЫЙ МУАРОВЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ 2014
  • Мишенёв Александр Анатольевич
  • Кучерюк Виктор Иванович
RU2583852C2
Способ контроля отклонения формы поверхности деталей сложной формы 1982
  • Казак Виктор Леонидович
  • Чебакова Ольга Викторовна
SU1065683A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ НЕСОВЕРШЕНСТВ РЕЗЕРВУАРОВ МУАРОВЫМ МЕТОДОМ С ДВУМЯ ОПОРАМИ 2012
  • Мишенёв Александр Анатольевич
  • Кучерюк Виктор Иванович
RU2528122C2
СПОСОБ КОНТРОЛЯ РЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА 2003
  • Игнатьев Юрий Арнольдович
RU2242714C2
Способ определения компонент вектора перемещения точек поверхности объекта 1991
  • Шабуневич Виктор Иванович
SU1779914A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ СТЕНКИ МАГИСТРАЛЬНЫХ ТРУБОПРОВОДОВ МУАРОВЫМ МЕТОДОМ 2012
  • Кучерюк Виктор Иванович
  • Тальнишних Алексей Георгиевич
RU2497074C1
ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ ЭЛЕКТРОННО-ПРОЕКЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА 2001
  • Кузяков О.Н.
  • Кучерюк В.И.
RU2216710C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ НЕСОВЕРШЕНСТВ РЕЗЕРВУАРОВ МУАРОВЫМ МЕТОДОМ 2011
  • Кучерюк Виктор Иванович
  • Мишенёв Александр Анатольевич
RU2454627C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 173 181 A1

Реферат патента 1985 года Способ бесконтактного контроля формы поверхности,имеющей образующую

СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ, ИМЕЩЕЙ ОБРАЗУКЩУЮ, заключающийся в том, что образуют эталонный растр, формируют два растра, согласованных с зталон ным, проецируют их с заданных направлений на контролируемую поверхность и регистрируют картину муаровых полос, по которой судят о форме контролируемой поверхности, отличают и. йся тем, что, с целью повышения -производительности контроля, предварительно перемещают образукнцую поверхности по закону ее, образования, образование эталонногорастра производят на перемещающейся образующей поверхности, а формирование двух растров осуществляют фотографированием эталонного растра с заданных направлений.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1985 года SU1173181A1

Новицкий В.В
Новые исследова.ния в методе муаров
- В сб.: Расчет .пространственных конструкций
М., Изд-во литературы по строительству,1967, вып
XI, с
Насос 1917
  • Кирпичников В.Д.
  • Классон Р.Э.
SU13A1

SU 1 173 181 A1

Авторы

Колесов Борис Николаевич

Духович Валерий Аркадьевич

Даты

1985-08-15Публикация

1983-03-31Подача