Рентгеновский способ определения толщины покрытия металлизированных зерен порошков Советский патент 1985 года по МПК G01N23/06 

Изобретение относится к исследованию материалов путем регистрации потока прошедшего объект рентгеновского излучения, а именно к методам определения толщины покрытий, и может быть использовано при измерении толщины металлизированных покрытий nopoufKOB сверхтвердых материалов. Цель изобретения - повышение точности измерений. Пример. Металлизированные порошки сверхтвердых материалов помещали в кювету из органического стекла с внутренними размерами 2,05,0 X 8,5 X 30 мм. После уплотнения порошка на электромеханическом вибраторе в течение 1 мин определяли вес кюветы Р, Для нахождения поверхностной плот ности металла т, которая соответствует массе анализируемого элемента приходящейся на 1 см поверхности, применяли метод поглощения непрерывного спектра рентгеновского излучени в области скачка поглощения определяемого элемента. Поверхностную плот ность находили из вьфажения EnVJj ( где J, и J2 интенсивности излучения по обе стороны от скачка поглощения; (Ц,ир2 массовые коэффициенты поглощения излучения по обе стороны от скачка поглощения . Измерения проводили на установке ДРОН-3,0 с медным анодом. В качестве 0 кристалл-монохроматора использовали монокристаллический кварц. Площадь просвечиваемой поверхности кюветы равнялась 0,32 см . После измерения степени ослабле- 45 ния рентгеновского излучения исследуемьй порошок в кювете заполняли смачивающей покрытие жидкостью (99,9 вес.% дистиллированная вода и 0,1 вес.% этиленгликоль) до объема, первоначальзо

но занятого порошком, и определяли вес кюветы Р.. Относительнзпо порис, тость засьтки находили по формуле

I

Рк-Р.

Р

(2)

od

Р - вес жидкости в кювете; Р удельный вес жидкости;

рида бора, металлизированных методом химического осаждения (никель) и в среде галогенидов переходных металлов (титан).

Сравнение данного рентгеновского способа определения толщины покрытия металлизированных зерен сверхтвердых материалов с прототипом, показало. объем кюветы, занимаемый порошком. ество зерен, находящихся в учения рентгеновским излуравноk{d,2h,) площадь зоны облучения; толщина кюветы по ходу рентгеновских лучей; средний в.звешенный кубический размер зерен материалаj толщина покрытия; коэффициент заполнения объема кюветы, зависящий от формы зерен. металла на поверхности одноравен4icn 2bnf-, (4) са металла на поверхности лучаемых рентгеновским , е jf - плотность металла. С учетом выражений (2), (3), (4) (5) после некоторых преобразований лучаем 611 л га ч -, м- ..(jcn 2b;f-j,.y Шсп,. yShc.|gShot.-M Выражение (6) использовали для ределения толщины покрытий на пошках алмаза и кубического нит311886084

что основное его преимущество состотh и в 4-5 раз величины случайной

ит в существенном повьшении тьчностн погрешности. Повьшение точности опреПоследнее достигнуто за счет уменьше--деления величины Н связана с тем,

НИН примерно на 20% систематической что исключается зависимость резульошибки, присущей известному способу, jтатов от плотности заполнения кюветы

по отношению к значениям величиныисследуемым порошком.

РЕНТГЕНОВСКИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИ5 ТОЛиЩНЫ ПОКРЫТИЯ МЕТАЛЛИЗИРОВАННЫХ ЗЕРЕН ПОРОШКОВ, включающий пропускание через кювету с исследуемым порошком потока рентгеновского излучения, измерение степени ослабления прешедшего кювету излучения в интервалах энергий до и после скачка поглощения излучения металлом покрытия, с учетом которого определяют толщину покрытия, отличающийся тем, что, с целью повьшения точности измерений, после измерения степени ослабления излучения кювету с исследуемым порошком заполняют смачивающей жидкостью до объема, первоначально занятого порошком, определяют вес жидкости в нахокювете, а толщину покрытия дят из выражения h ( -1 J J и 2 . 1ГЬ-Р где .З.п средний взвешенный размер СП зерен; Роп удельный вес жидкости; плотность металла; объем кюветы, занимаемый СЛ порошком,т,, поверхностная плотность металла в кювете; интенсивности прошедшего кювету в интервалах энергий соответственно до и после скачка поглощения; , и массовые коэффициенты поглощения излучения в упомянутых интервалах энергий; вес жидкости в кювете; толщина слоя порошка в кювете.