Способ обнаружения локальных дефектов в полимерных пленках Советский патент 1986 года по МПК G01N27/20 

Изобретение относится к исследо- ванию и анализу физических свойств материалов с помощью электрических средств и может быть использовано для обнаружения и оценки координат локальных дефектов, т.е. сквозных микропор, трещин и т.п., в полимерных пленках, в частности мембранах, рентах при их производстве 1Щ1и эксплуатации.

Цель изобретения - повышение производительности способа и расширение круга испытываемых полимерных материалов.

Сущность способа заключается в смачивании одной поверхности пленки яо щкостыо под давлением, протягиванием испытуемо.й пленки между двумя -электродами-валками, приложении ;: внешнего электрического поля к испытуемой пленке и измерении тока, про- ходящег о через нее. Место дефекта определяют по положению электродов на поверхности ленты при попадании дефектного места под электроды,регистрируют резкое возрастание тока, отмечают место дефекта. Использование в качестве жидкости воды или водных растворов солей, как показывают экспериментальные данные, ограничивают производительность способа,обусловленную большим временем затекания жидкости в дефектное место.Это время зависит от соотношения физикохимических параметров материала плен- jj та по пику тока, отлича.ющийки и смачивающей ее жидкости и,например, для пленки из поливинилиденфтори- ,да (ПВДФ),контактирующей с водой,составляет более 10 с. Это ограничивает скорость протягивания пленки 0,1 мм/с.

Кроме того, ряд полимерных пленок специального назначения набухает при контакте с водой и водными растворами электролитов, что увеличивает время затекания жидкости.Таким образом, исключается возможность анализа дефектов в таких материалах.

Теоретический и экспериментальный анализы с различными полимерными пленками показали, что использование ,в качестве смачивающей жидкости вместо воды или водных растворов жидкости с углом смачивания 0-45° и параметром термодинамического взаимодействия; с материалом пленки не ме- ,нее I lO Дж/м позволяет повысить производительность определения дефекся тем, что,с целью повышения производительности способа и расширения испытуемых полимерных ,материалов в качестве смачивающей

40 жидкости применяют жидкость с углом смачив ания до 45° и параметром термодинамического взаимодействия с материалом пленки не менее 1,0 , а электрическое поле прик45 ладьшают со значением напряженности, лежащей в пределах 4- 10 - 8 .10 В/м через резистор с величиной сопротивления от 1000 E h до LV Ом, где h - толщина-испытуемой пленки, м;

50

- 55

V, - максимальная скорость протягивания пленки, м/с;

L - -длина электродов,м;

Я - относительная диэлектрическая проницаемость материала пленки;

f - диэлектрическая проницаемость вакуума, Ф/м;

2459782

тов за счет повышения скорости протягивания пленки до 10 мм/с.При этом, необходимо, чтобы внешнее электрическое поле лежало в пределах 4-10 3 810 В/м,, а величина сопротивления резистора, ограничива.ющего ток через пленкуJ в пределах 1000 E-h LV, ;

где h - толщина пленки,м;

V, - скорость перемещения, плен- 10 ки, м/с;

L - длина электродов, м; - относительная диэлектрическая проницаемость материала пленки;

15 - диэлектрическая проницаемость вакуума.

Таким образом, определяемая ком- .бинация указанных параметров позво- 20 ляет существенно повысить производительность определения дефектов за счет увеличения (в 100 раз) скорости протягивания пленки.

25 Формула изобретения

Способ обнаружения локальных дефектов в полимерных пленках, включающие смачивание одной поверхности 30 планки жидкостью, протягивание пленки мевду электродами-валками, приложение к ней электрического поля, измерение величины тока, проходящего через пленку, и фиксацию места дефекся тем, что,с целью повышения производительности способа и расширения испытуемых полимерных ,материалов в качестве смачивающей

40 жидкости применяют жидкость с углом смачив ания до 45° и параметром термодинамического взаимодействия с материалом пленки не менее 1,0 , а электрическое поле прик45 ладьшают со значением напряженности, лежащей в пределах 4- 10 - 8 .10 В/м через резистор с величиной сопротивления от 1000 E h до LV Ом, где h - толщина-испытуемой пленки, м;

50

55

V, - максимальная скорость протягивания пленки, м/с;

L - -длина электродов,м;

Я - относительная диэлектрическая проницаемость материала пленки;

f - диэлектрическая проницаемость вакуума, Ф/м;

31245978- 4

Е - электрическое поле, прикла- причем максимальная скорость протяги- дьгоаемое к пленке,В/м, ванйя пленки составляет не более10м,

Изобретение относится к области исследования и контроля материалов с помощьн)электрических средств. Способ включает смачивание одной поверхности пленки жидкостью, протя- Тивание -ее между электродами-валками, приложение к ней внешнего электрического поля, измерение величины тока, проходящего через пленку, и фиксацию места дефекта по пику тока. Цель изобретения - повьшение производительности способа и расширение круга испытуемых материалов. Для достижения поставленной цели предложено в качестве смачивающей жидкости применять жидкость с углом смачивания 0-45° и параметром термодинамического взаимодействия с материалом пленки 1,010 Дж/м, а внешнее электрическое поле выбирать в интервале 4-10 - 8-10 В/м и прилагать,его к пленке через резистор с величиной сопротивления в интервале от 1000 Е h до LV , где h - толщина испытуемой пленки (м); V - максимальная скоррсть протягивания пленки (м/с); L - длина электродов (м); - относительная диэлектрическая проницаемость материала пленки; о - диэлектрическая проницаемость вакуума (Ф/м); Е - внешнее электрическое поле,прикладываемое к пленке.(В/м). S сл to 4i СЛ со 00