Способ определения микротвердости полимерных материалов Советский патент 1986 года по МПК G01N3/42 

Изобретение относится к способам измерзния твердости материалов, в частности к способам определения микротвердости полимерных материалов.

Цель изобретения - повьшение точности определения микротвердости полимерных материалов,

Способ осуществляют следующим образом.

На исследуемую поверхность полимерного материала наносят индикатор- ньм металлический слой, причем металл для индикаторного слоя выбирают из условия:

10

Е Е„

10

где Е , Е - модули упругости металла и полимера.

Затем производят вдавливание ин- дентора в исследуемую поверхность и измеряют размеры отпечатка, образовавшегося на индикаторном слое

Редактор А.Огар Заказ 4907/38

Техред И.Попович Корректор М.Самборская

Тираж 778 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

после вдавливания индентора, по которым судят о микротвердости.

Формула изобретения

Способ определения микротвердости полимерных материалов, заключающийся в том, что на исследуемую поверхность наносят индикаторный металлический слой, производят вдавливание индентора в исследуемую поверхность и измеряют размеры отпечатка, образовавшегося на индикаторном слое после вдавливания индентора, по которьм судят о микротвердости, о т л и ч а- ю щ .и и с я тем, что, с целью повышения точности, металл для индикаторного слоя выбирают из условия;

20

10

Е„

«сЮ

где Е, Е - модули упругости металла и полимера соответственно.

Изобретение относится к измерению твердости материалов. Цель изобретения - повышение точности определения микротвердости полимерных материалов. Согласно способу на исследуемую поверхность наносят индикаторный металлический слой, металл кото 2 рого выбирают из условия: 10 Е /Е $ 10 , где Е, Е - модули упругости металла и полимера. Вдавливают индентор и измеряют размеры отпечатка, полученного на индикаторном слое, по которым судят о микротвердости. Q S ю 01 Ч 1 СП сд