Способ отбраковки КМОП интегральных схем по уровням надежности Советский патент 1986 года по МПК G01R31/303 

Изобретение относится к области технической диагностики и может быт использовано для повышения надежности электронной аппаратуры, построеной на КМОП интегральных микросхем.

Целью изобретения является повышение достоверности отбраковки потециально ненадежных КМОП микросхем.

Отбраковка микросхем производится в соответствии с результатами статистической обработки величин критических сопротивлений в цепи Питания микросхем в заданных условиях работы, что позволяет отбраковать . потенциально ненадежные микросхемы, не входящие в область технологического центра параметров микросхем в рамках одной технологической партии

На чертеже изображена схема устройства, реализующего способ.

Устройство содержит клемму 1 для подключения питания испытуемой микросхемы, соединенную с первым выводом резистора 2, второй вывод которого подключен к вводу питания испытуемой микросхемы 3, логические входы и выходы которой подключены к блоку 4 функционально-параметрического контр ля работоспособности.

Способ осуществляют следующим образом.

На блоке 4 функционально-параметрического контроля функционирования микросхем устанавливают номинальную (в соответствии с техническими уеловиями) частоту функционирования, последовательно с контролируемой микросхемой 3 в цепь питания включают переменное активное сопротивление 2, Затем, начиная со значения , проводят проверку функционирования микросхем, увеличивая величину R после каждой проверки на 200300 Ом до момента, пока в результате очередной проверки будет получен сигнал, свидетельствующий о прекращении функционирования микросхемы.

Функционирование микросхем контролируют методом функционально-параметрического контроля, при этом контроль заданного значения параметра производится путем измерения значения напряжения выходного сигнала через время задержки контроля после подачи очередного входного сигнала.

Параметр считается соответствую.щим норме, если выходное напряжение

микросхемы через время t соответствует заданному в технических уело-. ВИЯХ логическому уровню. Таким образом, контролируемым параме:1ром является уровень выходного сигнала через время t,. Микросхема считается правильно функционирующей, если выполняются условия

; (t) «и ,если .iдд, -О

аьч

(t)U ,если илог.ъол 1

.Ь)(

где Usi,,- - выходной уровень на

i-OM выходе микросхемы, №г.1сдх заданный в ТУ логический уровень.

Если хотя бы на одном из выходов микросхемы хотя бы одно .из указанных условий не выполняется, формируется сигнал, свидетельствующий о нарушении правильности функционирования.

В качестве блока функционально-параметрического контроля, реализующего описанный алгоритм проверки функционирования микросхем, может быть использовано серийное устройство Стенд контроля интегральных микросхем - Повод.

В результате проверок для каждой микросхемы, входящей в контролируемую партию, получают определенное значение критического сопротивления -Т.е. тог-о сопротивления, при котором происходит нарушение правильного функционирования микросхемы. По результатам измерений строят гистограмму распределения значений дпя контролируемой партии. По гиртограмме находят значение RKPHT.H соответствующее максимуму распределения, после чего отбраковывают микросхемы по степени отклонения значения RIKPMT для i-ой микросхемы от значения RKPHT.H- Р этом считают, что, чем больше степень отклонения, тем менее надежной является микросхема .

Формула изобретения

1. Способ отбраковки КМОП интегральных схем по уровням надежности, включающий подачу на каждую интегральную схему из контролируемой технологической партии напряжения питания и входных испытательных сигналов, сравнение реакции интегральной схемы с эталонными значениями, отбраковку потенциально ненадежных 3 микросхем, отличающийся тем, что, с целью повышения достове ности отбраковки, включают в цепь питания интегральной схемы активное сопротивление, значение которого ув,еличивают от нуля, фиксируют для каждой интегральной схемы величину критического активного сопротивлени в цепи питания, при которой прекращается функционирование интегральной схемы, определяют значение критического сопротивления, соответствующее максимуму кривой распределения критических сопротивлений в кон ролируемой технологической партии интегральных схем, и отбраковывают потенциально ненадежные интегральны схемы в соответствии с критерием R-Kpm .м 1 - индивидуальное критичесде R кое сопротивление интегральной схемы; к,рмт н критическое сопротивление интегральной схемы,соответствующее максимуму кривой распределения критических сопротивлений; d- численная величина, определяемая, заданным уровнем надежности. 2. Способ по п. 1, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, в качестве количественного показателя о( в критерии выбора ненадежных интегральных схем используют сверднеквадратическое отклонение распределения 1фйтических сопротивлений в партии интегральных схем.

Изобретение относится к технической диагностике. Может быть использовано для повышения надежности электронной аппаратуры, построенной на КМОП микросхемах. Цель изобретения - повышение отбраковки потенциально надежных КМОП микросхем. На интегральную схему (ИС) подают номинальное напряжение питания и входные сигналы. Измеряют у всех ИС, входящих в контролируемую партию, величину активного сопротивления, включенного в цепь питания ИС, при которой прекращается функционирование (критическое сопротивление ). Затем определяют значение RKP/IT м соответствующее максимуму распределения критических сопротивлений в партии ШС, и отбраковывают ИС по ОТЛИЧИЯ) индивидуальных значений с ,j от значения К,рит.м. на величину, превьшающую среднеквадратическое от(Л клонение & . Новым в способе является измерение величины ,,. для всех ИС, входящих в партию, иотбраковка /&,.. ИС по критерию .PVn КРИТ.М 1 3.п. ф-лы. 1 ил.

С