Способ измерения твердости материалов Советский патент 1987 года по МПК G01N3/40 

Описание патента на изобретение SU1317319A1

113

Изобретение относится к испытаниям материалов, а именно к измерению твердости.

Цель изобретения - повышение точности измерений твердости за счет определения площади отпечатков под нагрузкой.

На чертеже приведена схема устрой- -ства, реализующего способ.

Образец 1 покрыт защитной средой 2 и установлен на приемник 3 электромагнитного излучения. Через индентор 4 подводится электромагнитное излучение от источника 5 (не показан). Образец 1 и индентор 4 прозрачны для электромагнитного излучения, а слой 2 - непрозрачен.

Способ реализуется следующим образом.

ВдавливаЪт под нагрузкой индентор 4 в образец 1, при этом защитная среда 2 выдавливается из образующегося на поверхности образца 1 отпеча,тка и он начинает служить диафрагмой для электромагнитного излучения, которое проходит через инденСоставитель С.Барабанов Редактор В.Ковтун Техред А.Кравчук Корректор С.Шекмар

- «-, - ---------- ---« -------- - - -- - - - - - - - - --- - - - - ----Заказ 2415/38 Тираж 776Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская иаб-., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.Ужгород, ул.Проектная, 4

73192

тор 4, отпечаток и образец 1 на приемник 3. Последний измеряет интенсивность электромагнитного излучения, зависящую от площади отпечатка. 5 Данные с приемника 3 обрабатываются и по ним определяется твердость образца. После этого нагрузку с ин- дентора снимают.

10

t5

20

25

Формула изобретения.

Способ измерения твердости материалов, заключающийся в том, что вдавливают индентор в испытуемый образец и определяют площадь отпечатка, по которой судят о твердости, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, помещают индентор и образец в защитную среду, после вдавливания индентора пропускают через него и образец электромагнитное излучение, для которого они являются прозрачными, а защитная среда - непрозрачной, и измеряют интенсивность прошедшего излучения, по которой судят о площади отпечатка.

Похожие патенты SU1317319A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТВЕРДОСТИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2007
  • Симкин Абрам Михайлович
RU2347208C1
Способ определения твердости материалов 1975
  • Нечкина Надежда Николаевна
  • Петров Владимир Петрович
  • Фрезе Альберт Николаевич
SU564574A1
Способ измерения толщины покрытия 1989
  • Дьячков Виктор Иванович
SU1670333A1
Способ измерения твердости 1981
  • Лысяков Сергей Викторович
SU989379A1
Способ испытаний материалов на износостойкость 1985
  • Бердиков Владимир Федорович
  • Пушкарев Олег Иванович
SU1330513A1
Способ определения пористости 1988
  • Булычев Сергей Иванович
  • Алехин Олег Валентинович
  • Соломонов Леонид Алексеевич
SU1631249A1
Способ определения микротвердости контактной зоны 1982
  • Горин Андрей Борисович
  • Арончик Владимир Бенционович
SU1060986A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТВЕРДОСТИ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ОБРАЗЦОВ 2005
  • Черепанов Анатолий Нестерович
  • Гололобов Владимир Константинович
  • Иванов Валерий Генрихович
  • Арсланов Шамиль Абдуллович
  • Бойко Максим Викторович
  • Николаев Константин Геннадиевич
  • Мухаметов Наиль Рифович
  • Кадыров Эльдар Мавлютович
  • Султанов Артем Аслямович
RU2302622C2
Способ определения вязкости разрушения образца соединения на границе раздела покрытие-подложка 1988
  • Валько Анатолий Григорьевич
  • Геворкян Артур Робертович
SU1620920A1
Способ неразрушающего определения усталостного повреждения материалов 1985
  • Пятыхин Леонид Илларионович
  • Папиров Игорь Исакович
  • Валько Анатолий Григорьевич
SU1295283A1

Реферат патента 1987 года Способ измерения твердости материалов

Изобретение относится к испыта- циям материалов, а именно к измерению твердости. Целью изобретения является повьшение точности за счет определения площади отпечатков под нагрузкой. Поставленная цель достигается тем, что в способе измерения твердости помещают индентор 4 и образец 1 в защитную среду 2, вдавливают индентор 4 в образец и пропускают через них г-лектромагнитное излучение, для которого индентор 4 11 образец 1 прозрачны, а защитная среда - непрозрачна. По измеренной интенсивности излучения, прошедшего через отпечаток, судят о его площади и о твердости материала. 1 ил. (Л

Формула изобретения SU 1 317 319 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1987 года SU1317319A1

Хрущев М.М
и Беркович Е .С
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
М.: Известия, АН СССР, 1950, № 11.

SU 1 317 319 A1

Авторы

Налетов Александр Михайлович

Булыгина Татьяна Ильинична

Епишина Нина Ивановна

Даты

1987-06-15Публикация

1985-04-08Подача