Способ подготовки проволоки для спектрального анализа Советский патент 1987 года по МПК G01N1/28 

Изобретение относится к подготовк образца для количественного анализа, а именно для спектрального анализа.

Целью является получение площади поверхности, необходимой для анализа на спектрометре.

Пример. Стальную проволоку неизвестного состава диаметром 2 - 6 мм очищали шкуркой, протирали бязь и разрезали с помощью ножниц-гильо- тины соответственно йа 15, 10, 7, 6 и 5 кусочков длиной 20-26 мм каждый. Затем все кусочки сдавливали на прессе для получения следующего профиля до толщины , где п - число кусочков, с тем, чтобы можно было установить их почти без зазора в матрице-держателе. Если зазор ока- зьшался велик (0,5 мм), то добавляли еще кусочек проволоки и еще раз сдавливали все кусочки, но уже до толщи26

--т п+1

Затем кусочки впрессовывадавлением АО т.

Если впрессованные кусочки держались неплотно, то устанавливали пуансон и сдавливали еще раз. Затем пробы шлифовали до исчезновения проСМп РSСг Ni Mo I Si

Способ1C I Мп I Р ISI Cr I Ni Mo Si I Cu

« .« «.I .«.. «..«. I -....«-4. .i.«.«J.«..Ji ...,. .

Известный 0,08 1,2 0,012 0,012 0,15 1,69 0,7 0,21 0,16

Предлагаемый PW-1600 APL

Проверка

1,19 0,011 0,013 0,17 1,63 0,72 0,21 0,14 0,08 1,2 0,009 0,014 0,17 1,66 0,72 0,2 0,17 0,08 1,2 0,012 0,012 0,16 1,69 0,71 0,21 0,16

Редактор Л.Повхан Заказ 4429/47

Составитель Л.Горяйнова.

Техред М.Ходанич Корректор М.Шароши

Тираж 776Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

.Производственно-полиграфическое предприятие,г.Ужгород,ул.Проектная,4.

межутков между отдельными проволоками .

Пробы анализировали на рентгено- флюоресцентном спектрометре PW-1600 фирмы Филипс и на оптическом эмиссионном вакуумном спектрометре APL- 31000 (Франция). Результаты анализов приведены в таблице.

Использование предлагаемого способа подготовки проволоки для спектраль- ного анализа позволяет отказаться .от дорогостоящего и длительного анализа. Время, необходимое для подготовки проволоки к анализу, составляет не более 15-30 мин.

Формула изобретения

Способ подготовки проволоки для спектрального анализа, включающий зачистку проволоки, разрезку и шлифовку отличающийся тем, что, с целью сокращения времени проведения

25 анализа на спектрометре в матрице- держателе, перед шлифовкой проволоку сдавливают на прессе, затем вплотную укладывают, впрессовывают в матрицу- держатель, а шлифовку производят до

30 исчезновения промежутков между кусочками проволоки.

20

Изобретение относится к подготовке образца для спектрального анализа. С целью сокращения времени проведения анализа на спектрометре в матрице-держателе, проволоку разрезают на кусочки и вдаливают на прессе, затем вплотную укладывают, впрессовывают в матрицу-держатель, а затем шлифуют до исчезновения промежутков между кусочками . Изобретение позволяет отказаться от дорогостоящего и длительного анализа. 1 табл. (Л с: : j СП ю